【技术实现步骤摘要】
本申请涉及微电子，特别是涉及一种芯片识别方法、装置、计算机设备以及存储介质。
技术介绍
1、电网信息化建设不断深入，智能电网建设的各个环节都需要部署大量感知和自动化设备，每年的芯片需求总量达数亿颗。芯片在电力系统中存在广泛应用。为保障芯片产业安全、国产化芯片规模化发展。因此，亟需一种芯片鉴别方法，尤其是非破坏性的无损鉴别方法，以准确高效地识别出芯片唯一特征，为电子产品可靠性保障具有重要意义。
2、在传统技术方案中，芯片图像扫描技术被广泛应用于芯片管脚缺陷检测、封装检测以及外观检查等方面。但是，传统技术方案通过采集芯片图像进行芯片的型号检测或识别的方法，由于其扫描形成芯片图像以及对应的图像特征，对于同型号的芯片而言并不能够对芯片进行唯一性表征的特征数据；即传统技术方案对于芯片的唯一性识别的精确性较低。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种更为精确的芯片识别方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
2、第一方面，本申请提供了一种芯片识别方法。所述方法包括：
3、获取第一检测信号和第二检测信号，其中，所述第二检测信号是由所述第一检测信号通过待识别芯片时受到电子元件容差影响而产生的输出信号；
4、根据所述第一检测信号和所述第二检测信号，生成所述待识别芯片对应的硬件指纹数据；
5、根据所述硬件指纹数据和所述待识别芯片的芯片内部图像，对所述待识别芯片进行唯一性检测，得到所述待识别芯片对应的唯一
6、在其中一个实施例中，所述根据所述第一检测信号和所述第二检测信号，生成所述待识别芯片对应的硬件指纹数据，包括：
7、确定所述第一检测信号和所述第二检测信号之间的频率偏移和相位偏移；
8、根据所述频率偏移和所述相位偏移，生成所述待识别芯片对应的硬件指纹数据。
9、在其中一个实施例中，所述确定所述第一检测信号和所述第二检测信号之间的频率偏移和相位偏移，包括：
10、根据所述第一检测信号中的第一导频信号和所述第二检测信号中的第二导频信号进行信号对齐；
11、根据信号对齐后所述第一检测信号与所述第二检测信号之间的频率差值，生成频率偏移，并根据信号对齐后所述第一检测信号与所述第二检测信号之间的相位差值，生成相位偏移。
12、在其中一个实施例中，所述待识别芯片的芯片内部图像的采集方式，包括：
13、通过超声脉冲对所述待识别芯片进行二维机械扫描成像，生成所述待识别芯片对应的超声脉冲图像；
14、采集穿透所述待识别芯片后的数字射线，根据所述数字射线的射线强度变化，生成所述待识别芯片对应的数字射线图像；
15、将所述超声脉冲图像和所述数字射线图像组合得到所述待识别芯片的芯片内部图像。
16、在其中一个实施例中，所述根据所述硬件指纹数据和所述待识别芯片的芯片内部图像，对所述待识别芯片进行唯一性检测，得到所述待识别芯片对应的唯一性检测结果，包括：
17、根据所述硬件指纹数据和所述待识别芯片的芯片内部图像，生成所述待识别芯片的芯片唯一性特征；
18、根据所述芯片唯一性特征，对所述待识别芯片进行唯一性检测，得到所述待识别芯片对应的唯一性检测结果。
19、在其中一个实施例中，所述根据所述硬件指纹数据和所述待识别芯片的芯片内部图像，生成所述待识别芯片的芯片唯一性特征，包括：
20、对所述待识别芯片的芯片内部图像进行图像特征提取，得到第一图像特征；
21、根据所述硬件指纹数据对应的特征维度，对所述第一图像特征进行降维处理，生成所述芯片内部图像对应的第二图像特征；
22、将所述硬件指纹数据和所述第二图像特征进行特征融合，生成所述待识别芯片的芯片唯一性特征。
23、第二方面，本申请还提供了一种芯片识别装置。所述装置包括：
24、信号检测模块，用于获取第一检测信号和第二检测信号，其中，所述第二检测信号是由所述第一检测信号通过待识别芯片时受到电子元件容差影响而产生的输出信号；
25、信号处理模块，用于根据所述第一检测信号和所述第二检测信号，生成所述待识别芯片对应的硬件指纹数据；
26、芯片识别模块，用于根据所述硬件指纹数据和所述待识别芯片的芯片内部图像，对所述待识别芯片进行唯一性检测，得到所述待识别芯片对应的唯一性检测结果。
27、第三方面，本申请还提供了一种计算机设备。所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：
28、获取第一检测信号和第二检测信号，其中，所述第二检测信号是由所述第一检测信号通过待识别芯片时受到电子元件容差影响而产生的输出信号；
29、根据所述第一检测信号和所述第二检测信号，生成所述待识别芯片对应的硬件指纹数据；
30、根据所述硬件指纹数据和所述待识别芯片的芯片内部图像，对所述待识别芯片进行唯一性检测，得到所述待识别芯片对应的唯一性检测结果。
31、第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质。所述计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
32、获取第一检测信号和第二检测信号，其中，所述第二检测信号是由所述第一检测信号通过待识别芯片时受到电子元件容差影响而产生的输出信号；
33、根据所述第一检测信号和所述第二检测信号，生成所述待识别芯片对应的硬件指纹数据；
34、根据所述硬件指纹数据和所述待识别芯片的芯片内部图像，对所述待识别芯片进行唯一性检测，得到所述待识别芯片对应的唯一性检测结果。
35、第五方面，本申请还提供了一种计算机程序产品。所述计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
36、获取第一检测信号和第二检测信号，其中，所述第二检测信号是由所述第一检测信号通过待识别芯片时受到电子元件容差影响而产生的输出信号；
37、根据所述第一检测信号和所述第二检测信号，生成所述待识别芯片对应的硬件指纹数据；
38、根据所述硬件指纹数据和所述待识别芯片的芯片内部图像，对所述待识别芯片进行唯一性检测，得到所述待识别芯片对应的唯一性检测结果。
39、上述芯片识别方法、装置、计算机设备和存储介质，首先对芯片进行硬件指纹检测，通过获取通过待识别芯片之前的第一检测信号，以及第一检测信号通过待识别芯片时受到电子元件容差影响而产生的第二检测信号；基于所述第一检测信号和所述第二检测信号，生成待识别芯片对应的硬件指纹数据。在得到待识别芯片的图像特征数据和硬件指纹数据的情况下，将两者进行组合得到待识别芯片的特征组合数据，并根据这一特征组合数据确定待识别芯片唯一对应的芯片标识信息。在对芯片识别的过程中，由于待识别芯片中不同的电子元件本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种芯片识别方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一检测信号和所述第二检测信号，生成所述待识别芯片对应的硬件指纹数据，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定所述第一检测信号和所述第二检测信号之间的频率偏移和相位偏移，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待识别芯片的芯片内部图像的采集方式，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述硬件指纹数据和所述待识别芯片的芯片内部图像，对所述待识别芯片进行唯一性检测，得到所述待识别芯片对应的唯一性检测结果，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述硬件指纹数据和所述待识别芯片的芯片内部图像，生成所述待识别芯片的芯片唯一性特征，包括：
7.一种芯片识别装置，其特征在于，所述装置包括：
8.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步
9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
10.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种芯片识别方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一检测信号和所述第二检测信号，生成所述待识别芯片对应的硬件指纹数据，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定所述第一检测信号和所述第二检测信号之间的频率偏移和相位偏移，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待识别芯片的芯片内部图像的采集方式，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述硬件指纹数据和所述待识别芯片的芯片内部图像，对所述待识别芯片进行唯一性检测，得到所述待识别芯片对应的唯一性检测结果，包括：
6.根据权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员：张之涵，黄媚，杨祥勇，陈晓伟，尹仕红，裘星，
申请(专利权)人：深圳供电局有限公司，
类型：发明
国别省市：
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