【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及星载微波探测雷达技术，特别是一种基于定标链路的捷变发射波束快速测试方法。
技术介绍
1、天基雷达捷变发射波束快速测试是一种新型技术，是当今世界正在研究突破的热点问题，天基雷达捷变发射波束工作方式相对于传统星载sar体制雷达，其工作模式更加复杂。
2、世界上尚未有见诸纸端的天基捷变发射波束快速测试方法，对于雷达测试只能参考相关雷达测试方法，可以使用远场法进行测试，即雷达天线与测试喇叭固定不动，控制天线全域二维相扫，测试波束切换。但是此方法受限于：远场测试距离＞d2/2λ。该方法要求天基雷达天线远场在百米以上，国内鲜见此等大型微波暗室；同时考虑到天基雷达要求的恒温、恒压、高洁净度的测试环境，室外远场法也不适用。
3、目前，天基雷达波束地面测试多采用多通道矢网+天线扫描架的波束测试方法，但是此方法只适用于单个固定指向波束，即在测试中事先估计波束扫描到的位置，提前布置喇叭进行信号接收测试。而捷变波束切换时间在us量级，无法形成有效测试验证。同时，采用该方法测试将会花费很长测试时间，如果将捷变波束分为固定波束测量，将会产生几十倍的测试量，无疑大大增加测试时间，如果捷变波束总量达1200余，单个收发波束测试时长约1.5小时，全部测试下来，24小时不停机测试总耗时75天。
4、随着天基雷达的蓬勃发展，在地面验证天基雷达捷变发射波束的需求更为迫切，未发现有关于天基雷达捷变波束验证的相关测试方法。
技术实现思路
1、针对现有技术中存在的天基雷达的捷变
2、本专利技术的目的通过以下技术方案实现。
3、一种基于定标链路的捷变发射波束快速测试方法，步骤包括：
4、步骤1、在星载雷达联试环境中，搭建捷变发射波束快速测试系统；
5、步骤2、设计捷变波束测试使用工作参数包；
6、步骤3、通过上捷变波束测试使用工作参数包，信号依次通过da、激励源、环形器、天线、辐射单元将捷变信号辐射出去；
7、步骤4、在天线发射端口存在耦合器，通过耦合器将发射信号耦合回来到内定标器；
8、步骤5、断开从环形器到接收机的射频电缆；
9、步骤6、将内定标器收到的发射信号通过延迟线连接到接收机；
10、步骤7、接收机接收到发射信号耦合回来的信号；
11、步骤8、接收机在短时间之内收到大量捷变发射波束，并依次记录下来；
12、步骤9、接收机接收到发射信号耦合回来的信号，对捷变发射波束信号进行脉冲压缩，将脉压结果进行拟合分析；
13、步骤10、通过分析拟合结果，信号在相等扫描相位间隔上为周期性阶梯跌落；
14、步骤11、将数据统计成表格，以后捷变波形的测试参照此表格执行。
15、所述步骤1搭建捷变发射波束快速测试系统具体为：将da的输出端与激励源的输入端相连接，所述激励源的输出端分别连接内定标器和环形器，所述环形器与天线相连接，所述天线与内定标器双向连接，所述天线的输出端与辐射单元的输入端相连接，所述内定标器通过延迟线连接到接收机。
16、所述步骤2中捷变波束测试使用工作参数包包括工作时间、脉宽、波位参数。
17、所述步骤7采用的接收机接收到发射信号耦合回来的信号，直接将发射波束信号通过幅相高精度内定标网络引入接收机。
18、相比于现有技术，本专利技术的优点在于：本专利技术依托天基雷达内定标链路特性，建立一套幅相高精度内定标网络，创新性地采用内定标-天线的耦合口与接收机接收口单独级联的方式，将波束捷变信号直接送给接收机，直接获得捷变发射波束的信息。以波束内定标合成方式代替天线辐射合成方式，在保证对波束一定精度测量结果的同时，通过对雷达产品的内定标信号进行脉内时频分析，结合天线理论指向对应的法向幅相特性，实现捷变发射波束的地面高效测试，完成对捷变发射波束切换体制功能与捷变发射波束性能的评估。
19、本专利技术具体有益效果主要包括测试成本低、快速实现us量级捷变波束测量、测试效率高等几点：
20、测试成本低：根据步骤1的设计，该测试系统无需搭建在微波暗室中，只需要普通星载雷达联试环境即可，避免了在星载雷达测试环境中搭建微波暗室的这样的高成本行为，同时传统波束测试方法需多通道、高精度、价格百万元级别矢网与天线扫描架作为测试系统，本方法只需单通道、高精度、价格几十万级别信号源即可完成测试，极大地节约了测试成本；
21、快速实现us量级捷变波束测量：根据步骤7的设计，接收机接收到发射信号耦合回来的信号，直接将发射波束信号通过幅相高精度内定标网络引入接收机，因此即使是us量级切换的发射波束信号也可以被快速采集，因此，可以快速实现us量级捷变波束测量；
22、测试效率高：根据步骤8的设计，接收机在短时间之内即可收到大量捷变发射波束，并依次记录下来，避免出现采用固定波束测量导致的频繁切换测试方向和测试喇叭导致的时间消耗，大大节约了测试时间，提高了测试效率。
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1.一种基于定标链路的捷变发射波束快速测试方法，其特征在于步骤包括：
2.根据权利要求1所述的一种基于定标链路的捷变发射波束快速测试方法，其特征在于所述步骤1搭建捷变发射波束快速测试系统具体为：将DA的输出端与激励源的输入端相连接，所述激励源的输出端分别连接内定标器和环形器，所述环形器与天线相连接，所述天线与内定标器双向连接，所述天线的输出端与辐射单元的输入端相连接，所述内定标器通过延迟线连接到接收机。
3.根据权利要求1所述的一种基于定标链路的捷变发射波束快速测试方法，其特征在于所述步骤2中捷变波束测试使用工作参数包包括工作时间、脉宽、波位参数。
4.根据权利要求1所述的一种基于定标链路的捷变发射波束快速测试方法，其特征在于所述步骤7采用的接收机接收到发射信号耦合回来的信号，直接将发射波束信号通过幅相高精度内定标网络引入接收机。
【技术特征摘要】
1.一种基于定标链路的捷变发射波束快速测试方法，其特征在于步骤包括：
2.根据权利要求1所述的一种基于定标链路的捷变发射波束快速测试方法，其特征在于所述步骤1搭建捷变发射波束快速测试系统具体为：将da的输出端与激励源的输入端相连接，所述激励源的输出端分别连接内定标器和环形器，所述环形器与天线相连接，所述天线与内定标器双向连接，所述天线的输出端与辐射单元的输入端相连接，所述内...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘爱芳，姬亚龙，黄祖镇，徐一凡，朱富国，洪雨，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第十四研究所，
类型：发明
国别省市：
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