一种红外半导体电热膜耐高温测试装置制造方法及图纸

技术编号:41860090 阅读:11 留言:0更新日期:2024-06-27 18:33
本技术涉及一种红外半导体电热膜耐高温测试装置,包括测试箱(10)、盖板(11);测试板(12)、加热组件(13);盖板(11)端部与测试箱(10)顶部转动连接,盖板(11)底部与摆杆(21)的一端铰接,摆杆(21)的另一端与拉杆(22)铰接,拉杆(22)的另一端与测试板(12)滑动连接,测试板(12)能够沿测试箱(10)内壁滑动,关闭盖板(11)以使测试板(12)滑动至测试箱(10)底部进行耐高温热测试,打开盖板(11)以使测试板(12)滑动至测试箱(10)顶部开口处,以供用户将测试完的样品取下,使用过程简便,且结构简单,使设备更加轻量化,同时也能够避免烫伤用户以及提升测试精准度。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及半导体发热膜,尤其是一种红外半导体电热膜耐高温测试装置


技术介绍

1、利用纳米半导体生长镀膜技术和积淀处理工艺,经过高温烧结,在绝缘体(如玻璃、陶瓷、碳化硅等)表面形成一层极薄的红外半导体膜层,又称金属氧化物电热膜,其具有熔点高、硬度大、电阻低、热效率高且化学稳定性好等特点,通电后可在直流或交流电压下工作,发出的热量可达500℃以上,可替代金属电热丝的传统方法,具有节能环保、安全且成本低等优势。该红外半导体膜在出厂前需要对其进行耐高温测试,以评估其是否符合生产要求和使用条件。

2、授权公告号为cn219552314u的中国技术专利公开了一种包装膜耐高温性测试装置,其通过卷绕电机、牵拉绳、卷绕轮将放置板和测试完的样品拉升至测试箱口处,以便于将样品取下,避免烫伤,提升测试精准度。但其存在的缺陷在于:测试完成后需要先打开密封板,再控制卷绕电机运行以将样品拉升至测试箱口,过程较为繁琐,且结构复杂,设备不够轻量化。


技术实现思路

1、本技术要解决的技术问题在于现有耐高温性测试装置测试完成后需要先打开密封板,再控制卷绕电机运行以将样品拉升至测试箱口,过程较为繁琐,且结构复杂,设备不够轻量化。

2、为了解决上述问题,本技术提供一种红外半导体电热膜耐高温测试装置,包括测试箱、盖板,测试箱内设有测试板、加热组件,加热组件用于对测试板上的样品进行耐高温测试,盖板端部与测试箱顶部转动连接,盖板底部与摆杆的一端铰接,摆杆的另一端与拉杆铰接,拉杆的另一端与测试板滑动连接,测试板能够沿测试箱内壁滑动,关闭盖板以使测试板滑动至测试箱底部进行耐高温热测试,打开盖板以使测试板滑动至测试箱顶部开口处。

3、本技术提供的红外半导体电热膜耐高温测试装置还具有以下技术特征:

4、所述盖板端部与转轴固定,转轴与测试箱轴承连接,转轴的端部与转轮同轴固定,转轮外圆周面连续开设有多个平面,多个平面能够分别与支撑板的上表面接触,支撑板沿竖槽滑动,竖槽开设在测试箱外表面,竖槽的底部与压簧的一端固定,压簧的另一端与支撑板的下表面固定。

5、所述转轮外圆周面至少连续开设有首平面、尾平面,首平面、尾平面的夹角小于90°;

6、当所述盖板盖合时,首平面与支撑板的上表面接触,当盖板打开时,尾平面与支撑板的上表面接触。

7、本技术具有如下有益效果:通过设置于测试箱转动连接的盖板,并利用摆杆、拉杆的传递作用,关闭盖板以使测试板滑动至测试箱底部进行耐高温热测试,打开盖板以使测试板滑动至测试箱顶部开口处,以供用户将测试完的样品取下,使用过程简便,且结构简单,使设备更加轻量化,同时也能够避免烫伤用户以及提升测试精准度。

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【技术保护点】

1.一种红外半导体电热膜耐高温测试装置,包括测试箱(10)、盖板(11),测试箱(10)内设有测试板(12)、加热组件(13),加热组件(13)用于对测试板(12)上的样品进行耐高温测试,其特征在于,盖板(11)端部与测试箱(10)顶部转动连接,盖板(11)底部与摆杆(21)的一端铰接,摆杆(21)的另一端与拉杆(22)铰接,拉杆(22)的另一端与测试板(12)滑动连接,测试板(12)能够沿测试箱(10)内壁滑动,关闭盖板(11)以使测试板(12)滑动至测试箱(10)底部进行耐高温热测试,打开盖板(11)以使测试板(12)滑动至测试箱(10)顶部开口处。

2.根据权利要求1所述的红外半导体电热膜耐高温测试装置,其特征在于,所述盖板(11)端部与转轴(23)固定,转轴(23)与测试箱(10)轴承连接,转轴(23)的端部与转轮(24)同轴固定,转轮(24)外圆周面连续开设有多个平面(25),多个平面(25)能够分别与支撑板(26)的上表面接触,支撑板(26)沿竖槽(27)滑动,竖槽(27)开设在测试箱(10)外表面,竖槽(27)的底部与压簧(28)的一端固定,压簧(28)的另一端与支撑板(26)的下表面固定。

3.根据权利要求2所述的红外半导体电热膜耐高温测试装置,其特征在于,所述转轮(24)外圆周面至少连续开设有首平面(251)、尾平面(252),首平面(251)、尾平面(252)的夹角小于90°;

4.根据权利要求1所述的红外半导体电热膜耐高温测试装置,其特征在于,所述拉杆(22)的另一端与第一滑块(29)固定,第一滑块(29)沿第一导槽(30)滑动,第一导槽(30)开设在测试板(12)的上表面。

5.根据权利要求4所述的红外半导体电热膜耐高温测试装置,其特征在于,所述第一滑块(29)的截面为燕尾形,第一导槽(30)的截面为与第一滑块(29)截面相配合的燕尾形。

6.根据权利要求1所述的红外半导体电热膜耐高温测试装置,其特征在于,所述测试板(12)端部固定有第二滑块(31),第二滑块(31)沿第二导槽(32)滑动,第二导槽(32)竖直开设在测试箱(10)内壁上。

7.根据权利要求6所述的红外半导体电热膜耐高温测试装置,其特征在于,所述第二滑块(31)的截面为燕尾形,第二导槽(32)的截面为与第二滑块(31)截面相配合的燕尾形。

8.根据权利要求1所述的红外半导体电热膜耐高温测试装置,其特征在于,所述盖板(11)底部设有调节组件(14),其包括通过手轮(15)转动驱动的丝杠(16),丝杠(16)与盖板(11)轴承连接,丝杠(16)与连接块(17)螺纹连接,连接块(17)沿横槽(18)滑动,横槽(18)开设在盖板(11)的底部,连接块(17)与摆杆(21)的一端铰接。

9.根据权利要求1所述的红外半导体电热膜耐高温测试装置,其特征在于,所述盖板(11)顶部固定有拉手(19),拉动或推动拉手(19)以打开或关闭盖板(11)。

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【技术特征摘要】

1.一种红外半导体电热膜耐高温测试装置,包括测试箱(10)、盖板(11),测试箱(10)内设有测试板(12)、加热组件(13),加热组件(13)用于对测试板(12)上的样品进行耐高温测试,其特征在于,盖板(11)端部与测试箱(10)顶部转动连接,盖板(11)底部与摆杆(21)的一端铰接,摆杆(21)的另一端与拉杆(22)铰接,拉杆(22)的另一端与测试板(12)滑动连接,测试板(12)能够沿测试箱(10)内壁滑动,关闭盖板(11)以使测试板(12)滑动至测试箱(10)底部进行耐高温热测试,打开盖板(11)以使测试板(12)滑动至测试箱(10)顶部开口处。

2.根据权利要求1所述的红外半导体电热膜耐高温测试装置,其特征在于,所述盖板(11)端部与转轴(23)固定,转轴(23)与测试箱(10)轴承连接,转轴(23)的端部与转轮(24)同轴固定,转轮(24)外圆周面连续开设有多个平面(25),多个平面(25)能够分别与支撑板(26)的上表面接触,支撑板(26)沿竖槽(27)滑动,竖槽(27)开设在测试箱(10)外表面,竖槽(27)的底部与压簧(28)的一端固定,压簧(28)的另一端与支撑板(26)的下表面固定。

3.根据权利要求2所述的红外半导体电热膜耐高温测试装置,其特征在于,所述转轮(24)外圆周面至少连续开设有首平面(251)、尾平面(252),首平面(251)、尾平面(252)的夹角小于90°;

4.根据权利要求1所述的红...

【专利技术属性】
技术研发人员:任卫民张东升杨勇张秋平白雨晴
申请(专利权)人:信阳星原智能科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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