【技术实现步骤摘要】
本申请属于检测领域，涉及图像处理技术、尤其涉及一种差分电路测量方法、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、在印刷电路板(printedcircuitboar，pcb)的设计与制造中，保证差分电路的质量至关重要。差分电路由两条固定距离的差分信号线构成，每条差分信号线的横截面类似于梯形。为了避免电子信号在阻抗不匹配的传输路径上引起错误，pcb品质管控部门需要对pcb板进行抽样切片，并通过测量抽样切片图像中差分电路的两条差分信号线线宽和线距的方式确定pcb板的质量情况。
2、神经网络在测量差分电路的线宽和线距方面的应用存在一定的局限性。专业人员对差分电路进行准确标记是必要的，但这往往是困难的。因此，神经网络难以充分学习差分电路的特征，导致输出的测量结果不够准确，难以满足规定的误差要求(如2像素内的误差)。如果不能准确测量pcb板上的差分电路，将会对pcb板的品质管控产生不利影响。
技术实现思路
1、鉴于以上内容，有必要提供一种差分电路测量方法、电子设备及存储介质，能够解决差分电路的测量准确性不佳的技术问题。
2、一方面，本申请提供一种差分电路测量方法，所述方法包括：获取差分信号线的横截面图像，使用目标检测模型对所述横截面图像进行目标检测，得到差分电路区域以及所述差分电路区域中的多个单线区域，其中，每个单线区域包含一差分信号线的横截面，对每个单线区域进行轮廓检测，得到对应的横截面的多个顶点以及每个顶点的顶点位置，根据相邻的多条差分信号线在所述差分电路区域中对应的多个顶
3、在本申请的一些实施例中，所述使用目标检测模型对所述横截面图像进行目标检测，得到差分电路区域以及所述差分电路区域中的多个单线区域包括：对所述横截面图像进行目标检测，确定所述横截面图像中所有的横截面，并在所述横截面图像中对所述所有的横截面进行框选，得到候选区域，若所述候选区域中横截面的数量等于预设数量，将所述候选区域确定为所述差分电路区域，并在所述差分电路区域中对一横截面进行框选，得到一单线区域，或者，若所述候选区域中横截面的数量大于所述预设数量，根据所述预设数量在所述候选区域中框选出多个差分电路区域，并在每个差分电路区域中对一横截面进行框选，得到一单线区域。
4、在本申请的一些实施例中，所述根据所述预设数量在所述候选区域中框选出多个差分电路区域包括：在所述候选区域中对相邻的所述预设数量的横截面进行框选，得到一差分电路区域。
5、在本申请的一些实施例中，所述目标检测模型的生成方法包括：获取差分信号线的正样本标记图像以及差分信号线的负样本标记图像，使用所述正样本标记图像以及所述负样本标记图像将目标检测算法训练至收敛，得到所述目标检测模型。
6、在本申请的一些实施例中，任一横截面的多个顶点包括第一初始顶点、第二初始顶点、第一末尾顶点以及第二末尾顶点，所述对每个单线区域进行轮廓检测，得到对应的横截面的多个顶点以及每个顶点的顶点位置包括：使用轮廓算法确定任一横截面的上边缘线以及下边缘线，将构成所述上边缘线的第一个像素点确定为所述第一初始顶点，将构成所述上边缘线的最后一个像素点确定为所述第一末尾顶点，将构成所述下边缘线的第一个像素点确定为所述第二初始顶点以及将构成所述下边缘线的最后一个像素点确定为所述第二末尾顶点，将每个顶点在所述横截面图像对应的像素坐标系中的像素坐标确定为每个顶点的顶点位置。
7、在本申请的一些实施例中，所述使用轮廓算法确定任一横截面的上边缘线以及下边缘线包括：确定构成所述任一横截面的每个像素点在所述像素坐标系中的像素坐标，每个像素坐标包括纵坐标，将所述任一横截面中最小的纵坐标所在行的多个像素点确定为所述任一横截面的上边缘线，并将所述任一横截面中最大的纵坐标所在行的多个像素点确定为所述任一横截面的下边缘线。
8、在本申请的一些实施例中，所述每条差分信号线的差分线宽包括第一差分线宽以及第二差分线宽，所述根据相邻的多条差分信号线在所述差分电路区域中对应的多个顶点的顶点位置以及预设转换系数，计算每条差分信号线的差分线宽包括：根据所述每条差分信号线的横截面的第一初始顶点以及第一末尾顶点的顶点位置，计算第一初始线宽，并根据所述每条差分信号线的横截面的第二初始顶点以及第二末尾顶点的顶点位置，计算第二初始线宽，根据所述预设转换系数对所述第一初始线宽以及所述第二初始线宽进行转换，得到所述每条差分信号线的第一差分线宽以及第二差分线宽。
9、在本申请的一些实施例中，所述根据相邻的多条差分信号线在所述差分电路区域中对应的多个顶点的顶点位置以及预设转换系数，计算所述多条差分信号线之间的差分线距包括：确定相邻的两条差分信号线对应的两个横截面，并根据所述两个横截面中一横截面的第二初始顶点以及另一横截面的第二末尾顶点的顶点位置，计算所述相邻的两条差分信号线之间的初始线距，根据所述预设转换系数对所述初始线距进行转换，得到所述相邻的两条差分信号线的差分线距。
10、另一方面，本申请提供一种电子设备，电子设备包括：存储器，存储至少一个指令；及处理器，执行至少一个指令以实现所述的差分电路测量方法。
11、另一方面，本申请提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有至少一个指令，所述至少一个指令被电子设备中的处理器执行以实现所述的差分电路测量方法。
12、通过上述实施方式，所述差分信号线为pcb板中构成差分电路的线，由于所述横截面图像中可以包括多条差分信号线的横截面，每个差分电路由两条差分信号线构成，因此所述横截面图像可以包括多个差分电路。在所述横截面图像包括多条差分信号线的横截面时，对所述横截面图像进行目标检测，能够框选出所有的差分电路区域以及差分电路区域中包含一差分信号线的横截面的单线区域，每个差分电路区域包括两条差分信号线的横截面。对每个单线区域进行轮廓检测，能够得到每个差分电路中每条差分信号线的横截面的多个顶点以及每个顶点的位置，在获知每个差分电路区域中两个横截面中每个顶点的顶点位置的前提下，能够准确地计算得到每个差分电路区域中的差分线宽及差分线距。由于所述差分线宽以及所述差分线距是通过所述预设转换系数进行转换得到的，因此所述差分线宽以及所述差分线距为真实尺寸的差分线宽以及差分线距。基于真实尺寸的差分线宽以及差分线距对pcb板进行质量分析，能够准确地对pcb板的质量进行评价。
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1.一种差分电路测量方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的差分电路测量方法，其特征在于，所述使用目标检测模型对所述横截面图像进行目标检测，得到差分电路区域以及所述差分电路区域中的多个单线区域包括：
3.如权利要求2所述的差分电路测量方法，其特征在于，所述根据所述预设数量在所述候选区域中框选出多个差分电路区域包括：
4.如权利要求2所述的差分电路测量方法，其特征在于，所述目标检测模型的生成方法包括：
5.如权利要求1所述的差分电路测量方法，其特征在于，任一横截面的多个顶点包括第一初始顶点、第二初始顶点、第一末尾顶点以及第二末尾顶点，所述对每个单线区域进行轮廓检测，得到对应的横截面的多个顶点以及每个顶点的顶点位置包括：
6.如权利要求5所述的差分电路测量方法，其特征在于，所述使用轮廓算法确定任一横截面的上边缘线以及下边缘线包括：
7.如权利要求5所述的差分电路测量方法，其特征在于，所述每条差分信号线的差分线宽包括第一差分线宽以及第二差分线宽，所述根据相邻的多条差分信号线在所述差分电路区域中对应的
8.如权利要求5所述的差分电路测量方法，其特征在于，所述根据相邻的多条差分信号线在所述差分电路区域中对应的多个顶点的顶点位置以及预设转换系数，计算所述多条差分信号线之间的差分线距包括：
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于：所述计算机可读存储介质中存储有至少一个指令，所述至少一个指令被电子设备中的处理器执行时实现如权利要求1至8中任意一项所述的差分电路测量方法。
...【技术特征摘要】
1.一种差分电路测量方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的差分电路测量方法，其特征在于，所述使用目标检测模型对所述横截面图像进行目标检测，得到差分电路区域以及所述差分电路区域中的多个单线区域包括：
3.如权利要求2所述的差分电路测量方法，其特征在于，所述根据所述预设数量在所述候选区域中框选出多个差分电路区域包括：
4.如权利要求2所述的差分电路测量方法，其特征在于，所述目标检测模型的生成方法包括：
5.如权利要求1所述的差分电路测量方法，其特征在于，任一横截面的多个顶点包括第一初始顶点、第二初始顶点、第一末尾顶点以及第二末尾顶点，所述对每个单线区域进行轮廓检测，得到对应的横截面的多个顶点以及每个顶点的顶点位置包括：
6.如权利要求5所述的差分电路测量方法，其特征在于，所述使...
【专利技术属性】
技术研发人员：张闳翰，廖姮懿，罗圣谚，黄禹杰，简廷因，黎进财，
申请(专利权)人：礼鼎半导体科技深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：
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