平面显示器面板坏点检测方法及检测机台技术

本发明专利技术公开了一种平面显示器面板坏点检测方法，待测面板具有相互垂直的复数行电极与复数列电极，每一行电极与列电极对应处形成有一个显示次晶胞，该检测方法步骤包含：ａ）自面板行、列共同接点输入对应至少一个坏点的预定图案数据，致能面板的部份复数显示次晶胞；ｂ）将一组影像撷取模块自使其影像撷取范围包含面板的角落的启始位置，移动至使其影像撷取范围包含坏点的检测位置；及ｃ）计算影像撷取模块所获得的影像数据，获得坏点相对于启始位置角落的相对位置。本发明专利技术还公开了一种能有效实施上述检测方法的检测机台。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种平面显示器面板坏点检测方法；此外，本专利技术还涉及一种 平面显示器面板坏点检测机台。
技术介绍
平面显示器具有低耗能、节省设置空间等特性，以席巻姿态快速汰换传统 显示器；因技术架构不同，除显示器基本元素外，平面显示器因应用材料与制 程因素，可能产生传统显示器不会发生的微小瑕疵，如可能为亮点或暗点的坏 点。亮点定义为，当平面显示器接受致能，且并无显示讯号而应显示为全黑时、 自行发亮的点；暗点则恰恰相反，当已经施加显示讯号而仍无法被点亮、显示 正确信息的点；因此，目前常见的分级方式是将显示平面分为九宫格，分别限 制正中间区域及周边区域的坏点数目，从而界定产品价格，故坏点检测乃成为 平面显示器品管与验收良率要素之一，而检出坏点所在正确位置，进而进行雷 射修补，也成为各竞争同业提升收益的重要法门。如图1所示，平面显示器面板1具有复数行电极11及复数垂直行电极11 的列电极12，且对应相同显示色彩的行电极ll中，至少部分被电气连结至一 个行共同接点13，使得复数行电极11被复数行共同接点13所致能。尤其当面 板尺寸仅17、 19、 21英寸时，同色的行电极ll在测试阶段会被全数联通至单 一共同接点处，因此整片面板将仅有红、绿、蓝三个共同接点。同样地，复数列电极12被电气连接至至少一个列共同接点14，依照目前 显示器采用的交错显示，各列电极将被依照奇数与偶数，而在测试时分别连接 至一个奇数共同接点与一个偶数共同接点。每一行电极11与列电极12对应处， 就此形成有一个显示次晶胞XcnYn，其中X、 Y分别代表轴向坐标，c代表色别，n则为流水号；图l以像素数目为1024X768的面板1为例，因X轴向的每一 显示晶胞是由三个分别为r(red红)、g(green绿)与b(blue蓝)依序排列的次 晶胞循环所组成，故于面板l的四个角落的显示次晶包分别为左上角Xr^、 右上角Xb腿Yi、左下角XrJ顺与右下角Xb薩Y^。亦即，面板1具有 (1024X3) X 768=2， 359， 296个显示次晶包。如图2-3所示，中国台湾第1277792专利技术专利揭露了一种坏点检测仪与检 测之方法，检测仪2具有基座22、传动定位装置23、影像撷取装置24、控制 装置25及辅助用光源26;检测方法则需先于步骤202将面板与影像撷取装置 24与基座22间精准定位，随后依照步骤204至210逐步以精密的光学尺读出 影像撷取装置24的位移量，从而判定坏点位置。由于传动定位装置23结构的核心即为精密的移动轴与光学尺，两者造价 均不斐，动辄需台币数拾万元，甚至随精度要求而更上层楼，不仅直接增加机 台建构成本， 一旦需维修保养，调校的成本亦相对偏高；此外，对大小尺寸相 异的面板而言，移动轴与光学尺的规格都需要随之调整，使得制造检测仪器的 厂商必须因应不同尺寸面板的检验需求而准备不同的料件，更因该等料件的价 格高昂而平添制造者困扰。
技术实现思路
针对现有技术的上述不足，本专利技术所要解决的技术问题在于提供一种利用 特定图案信号源、无需应用光学尺等精密度量装置即可正确定位，从而大幅降 低制造成本，且无须考虑被检测产品的尺寸，具备使用弹性的面显示器面板坏 点检测方法。本专利技术所要解决的另一技术问题在于提供一种能有效实施上述检测方法 的检测机台。为了解决本专利技术的技术问题，本专利技术提出的平面显示器面板坏点检测方 法，该面板具有复数行电极及复数垂直该等行电极的列电极，各相邻行分别对 应相异显示色彩，且该等对应相同显示色彩的行电极中，至少部分被电气连结5至一个行共同接点，使得该等行电极被复数行共同接点所致能，该等列电极被 电气连接至至少一个列共同接点，使得每一行电极与列电极对应处形成一个显 示次晶胞，该等显示次晶胞包含至少一个坏点，该检测方法包含下列步骤a) 自该等行、列共同接点输入一个对应该坏点的预定图案数据，致能该面 板的部份该等显示次晶胞；b) 将一组影像撷取模块自 一个使其影像撷取范围包含该面板的一个角落 的启始位置，移动至使其影像撷取范围包含该坏点的检测位置；c) 计算影像撷取模块所获得的影像数据，获得坏点相对于启始位置角落的 相对位置。作为优选实施方案，本专利技术上述平面显示器面板坏点检测方法中，该等列 电极最好被区分为奇数列组与偶数列组，分别被电气连接至一个奇数列共同接 点及一个偶数列共同接点，当坏点为暗/亮点，则在步骤a)中，输入的预定图 案使得坏点所属的该等奇/偶数列组发光/不发光，另一偶/奇数列组不发光/发 光，藉此，在步骤c)中计算坏点所在列数。作为另一优选实施方案，本专利技术上述平面显示器面板坏点检测方法中，该 等行电极最好被区分为红、绿、蓝三组，并分别被电气连接至一个红、绿、蓝 行共同接点，当坏点为暗/亮点，则在步骤a)中，输入的预定图案使得坏点所 属的色彩的该等组行发光/不发光，另二组色彩中至少一组不发光/发光，藉此， 在步骤c)中计算坏点所在行数。作为再一优选实施方案，本专利技术上述平面显示器面板坏点检测方法中，在 步骤a)前最好具有预先获得面板坏点数目的步骤d);在计算相对位置步骤c) 后，最好具有判断该等坏点相对位置是否已经全部计算完成，并于该等坏点尚 未计算完成时继续步骤a)至c)的步骤e)。本专利技术提出的平面显示器面板坏点检测机台，该面板具有复数行电极及复 数垂直该等行电极的列电极，各相邻行分别对应相异显示色彩，且该等对应相 同显示色彩的行电极中，至少部分被电气连结至一个行共同接点，使得该等行电极被复数行共同接点所致能，该等列电极被电气连接至至少一个列共同接 点，使得每一行电极与列电极对应处形成一个显示次晶胞，该等显示次晶胞包 含至少一个坏点，该检测机台包含 一组供面板设置的基座；一组电气连接该等行、列共同接点，供输入一个对应坏点的预定图案数据 至面板各次晶胞的图案输入装置；一组可相对基座移动、供撷取面板影像数据的影像数据撷取装置；一组选择图案输入装置输入预定图案数据，驱动影像数据撷取装置由一个 使其影像撷取范围包含面板的一个角落的启始位置移动至一个使其影像撷取 范围包含坏点的检测位置，接收来自影像数据撷取装置的影像数据，计算获得 坏点相对于面板启始位置角落的相对位置的处理装置。藉由本专利技术精简之机台架构与更有效的方法，相对于习知技术而言，可以 让成本显著降低而寻址效果毫不逊色，且相同机台之检测弹性更大，以确实提 升本
中之检测效益，使面板获致美而廉之坏点寻址模式。附图说明图1是常见的平面显示器面板的晶胞与电极配置示意图2是中国台湾第1277792号专利技术专利中实施例的立体示意图3是图2所示专利技术专利进行实施检测之检测流程图4是本专利技术检测机台的方块图5是本专利技术第一实施例的检测流程图6是本专利技术第二实施例的检测流程图7是一示意图，说明坏点为一暗点，且暗点所在行与列皆亮； 图8是一示意图，说明坏点为一亮点，且亮点所在行与列皆不亮。 其中1、 1'为面板；ll为行电极；12为列电极；13为行共同接点；14 为列共同接点；bd、 bd'为坏点；2为检测仪；22为基座；23为传动定位装置；24为影像撷取装置；25为控制装置；26为光源；3为检测机台；4为基座；5为图案输入装置；6为影像数据撷取装置；7为处理装置；202 210、 80本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种平面显示器面板坏点检测方法，该面板具有复数行电极及复数垂直该等行电极的列电极，各相邻行分别对应相异显示色彩，且该等对应相同显示色彩的行电极中，至少部分被电气连结至一个行共同接点，使得该等行电极被复数行共同接点所致能，该等列电极被电气连接至至少一个列共同接点，使得每一行电极与列电极对应处形成一个显示次晶胞，该等显示次晶胞包含至少一个坏点，该检测方法包含下列步骤：　ａ）自该等行、列共同接点输入一个对应该坏点的预定图案数据，致能该面板的部份该等显示次晶胞；　ｂ）将一组影像撷 取模块自一个使其影像撷取范围包含该面板的一个角落的启始位置，移动至使其影像撷取范围包含该坏点的检测位置；　ｃ）计算影像撷取模块所获得的影像数据，获得坏点相对于启始位置角落的相对位置。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陶坚强，游仁杰，杨龙潭，黄柏嶂，
申请(专利权)人：中茂电子深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]