一种分布光度计制造技术

技术编号:4182777 阅读:175 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供了一种分布光度计,包括第一基座和第二基座,被测光源与第一基座相连,第一基座上的旋转反射镜绕主轴线旋转,并将被测光源的光反射到第二基座上的反射镜或探测器上,在第一基座和第二基座之间设置具有通光孔的可旋转光阑,可旋转光阑由光阑架上的支撑机构支撑,并且可旋转光阑的支撑机构和传动机构位于光阑径向方向上通光孔的外侧,使可旋转光阑绕主轴线与旋转反射镜同步旋转。通过设置可旋转光阑大大减少进入信号光路的杂散光,同时可旋转光阑与其旋转传动机构采用不同轴的连接方式,避免了旋转传动机构和支撑机构可能带来的档光,又能使可旋转光阑与被测光源相距一定距离,进一步减少了由可旋转光阑本身的反射带来的杂散光。

【技术实现步骤摘要】
一种分布光度计
本专利技术涉及一种光和辐射的测量仪器,主要用于各种尺寸的室内灯、道路灯、投光 灯、汽车灯等各类光源和灯具在各个方向上光强分布或配光性能测量,以及光源和灯具 的光通量测量。
技术介绍
分布光度计一般用照度测量和照度距离平方反比定律来实现光源或灯具的光强分 布测量,为满足平方反比定律,探测器与被测光源间的光路距离必须足够长,同时,要 实现精确测量,又必须保持被测光源稳定工作。被测光源处于转动中心的转镜式分布光 度计利用光学反射镜将被测光源的测量光束反射到探测器上,能较好的实现上述测量条 件,被国际照明委员会(CIE)推荐广泛应用于各种光源和灯具的光强分布测量。然而,尽管转镜式分布光度计已经在工业和实验室应用了近半个世纪,最近的研究 也取得了很大的进展,但在杂散光控制方面转镜式分布光度计却存在问题。杂散光是光 学系统中所有非正常传输光的总称,它主要是由系统中的光学零件,灰尘等散射,以及 反射镜,探测器,像平面等接收器表面和物平面,光学零件表面之间的多次反射造成, 会对测量精度产生很大的影响。现有转镜式分布光度计系统中,消杂散光的措施包括 把仪器本身表面和实验室的墙壁、地板和天花板涂黑,在光学反射镜与探测器之间设置 光阑或其它挡光装置,在探测器前设置消光筒等,这些消杂光措施的目的在于使探测器 的位置上仅能"看到"光学反射镜中被测光源的像。然而,在分布光度计系统的实验室 中,虽然地面等周围环境已被涂黑,但这些周围环境以及基座和基座上的光学元件之间 还是具有一定的反射性,还会通过反射形成较多的杂散光进入探测器,影响了测量精度。在测量光路中适当地使用光阑是有效减少的一种办法,但是在灯具位于中心的转镜 式分布光度计中,由于测量光束围绕主轴旋转,绕圆锥变化,因此现有灯具位于中心的 转镜式分布光度计系统中,一般设置通光孔为圆环形的光阑来减少环境反射而引起的杂 散光,但由于圆环的面积比实际测量光束边光的面积要大得多,因此这种圆环形光阑消 杂散光效果有限。若光阑通光孔为孔径略大于测量光束边光的圆?L,则消杂光效果将大大提高,但这 就要求光阑与旋转发射镜同步同轴转动,因此有人直接将光阑与旋转反射镜所在的转臂 相连,使整个光阑与旋转反射镜同步旋转,但在这种方案中,光阑虽然减少了一部分环 境反射杂散光,但由于光阑与被测灯具的距离过近,从被测光源或旋转反射镜投射到光 阑表面的光较强,光阑表面也很容易把非测量部分的光束反射到测量光路中,形成杂散 光。然而如果要在距被测光源稍远处设置同步旋转的光阑,而常用的光阑与其旋转传动 的同轴设计很容易造成挡光,带来测量误差。
技术实现思路
为了克服现有转镜式分布光度计方案中存在的上述缺陷,本专利技术旨在提供一种分布 光度计,能在不遮挡测量光路的前提下,大大减少由环境反射带来杂散光,有效提高测 量精度。本专利技术的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的,即一种分布光度计, 包括第一基座、第二基座和水平主轴线,被测光源位于主轴线上,通过灯臂与第一基座 相连,第一基座上设置有与主轴线同轴的第一转轴,第一转轴一端刚性连接转臂,转臂 的一端安装有旋转反射镜,旋转反射镜在转臂的带动下绕主轴线旋转;第二基座上设置 接收来自旋转反射镜反射光束的反射镜或探测器;其特征在于在第一基座和第二基座之 间设置可旋转光阑,可旋转光阑可绕主轴线与转臂同步旋转,可旋转光阑上具有至少一 个通光孔并由可旋转光阑由光阑架支撑,光阑架上具有可旋转光阑的支撑机构,在可旋 转光阑的径向方向上,支撑机构和使可旋转光阑旋转的传动机构到主轴线的距离大于通 光孔的外侧到主轴线的最大距离。在本专利技术中,可旋转光阑与旋转反射镜同步转动,始终保证测量光束从可旋转光阑 的通光孔中穿出,而其它非测量部分的光线都较难通过该光阑进入测量光路,且可旋转 光阑距离被测光源较远的距离能使光阑本身反射引起的杂散光很小。本专利技术中支撑机构 和传动机构位于在通光孔的外侧,可旋转光阑与其传动机构采用不同轴的连接方式,能 够避免支撑机构或旋转机构在旋转过程中的部分方向上遮挡测量光束的现象。本专利技术可以通过以下的技术特征作进一步限定和完善上述的可旋转光阑上固定设置有从动轮环,从动轮环的圆心位于主轴线上,从动轮 环的内半径大于通光孔的外侧到主轴线的最大距离。从动轮环可以是与可旋转光闹刚性 相连的机械机构,也可以是可旋转光阑上固有的机构,与可旋转光阑是一体的。从动轮环的设计可以将可旋转光阑可看作是一个大的从动轮。上述的支撑机构是固定于光阑架上与从动轮环相接触的导轨或导轨轮;所述的传动 机构是与电机或电机经减速后的输出轴相连的主动轮,主动轮带动从动轮环工作。主动 轮和导轨或导轨轮与可旋转光阑的从动轮环相作用,设置在光阑架上的导轨或导轨轮能 够保证可旋转光阑在主动轮的传动下平稳地绕主轴线的旋转,并且传动动机构可以设置 在远离测量光束的地方。可旋转光阑的从动轮环上具有滚柱,所述主动轮和导轨轮是链轮。或者所述可旋转 光阑的从动轮环上具有齿形或外齿圈,所述主动轮和导轨轮是与所述齿形或外齿圈相适 应的齿轮。或者所述可旋转光阑的从动轮环上外套有皮带,所述的主动轮为皮带轮,主 动轮通过皮带带动从动轮环转动,所述的支撑机构是摩擦轮。上述结构都是为了使主动 轮对可旋转光阑的从动轮环产生作用力。主动轮通过啮合或摩擦力带动可旋转光阑旋 转,而导轨轮通过啮合或摩擦使可旋转光阑的旋转是与主轴线同轴的,并使得可旋转光 阑在光阑架中更加稳定,因此导轨轮的数量越多越有利于可旋转光阑平稳地绕主轴线旋 转。上述可旋转光阑上的通光孔孔径大小可调,对于不同尺寸的被测光源选择合适的 通光孔孔径,通光孔孔径以略大于被测光源的测量光束的边光为准,对于发光口面较 大的被测光源采用较大的通光孔孔径,反之亦然。上述可旋转光阑的光阑架可以是一个面积较大的墙体,能将第一基座所在的暗室 空间和第二基座所在的暗室空间隔开。由于在光度测量中,被测光源所在的环境温度 十分重要,特别是一些发光对温度特别敏感的光源,因此在测光暗室中一般采用严格 的恒温手段来保持环境温度稳定在设定值,使用光阑架将第一基座即被测光源所在空 间隔开,能够大幅降低室内恒温设备的恒温空间范围,十分有利于提高实验室的温控 精度,降低温控成本。上述的分布光度计中,在可旋转光阑上或光阑之间的光路上设置一个吸光腔,吸光 腔的开口面对被测光源,吸光腔用来吸收被测光源直接射向第二基座上的光学元件的光 线,因此吸光腔设置在被测光源到第二基座上的光学元件的光路中,能够随可旋转光阑 一起同步与转臂旋转。在上述的分布光度计中,在第二基座上设置接收并反射来自旋转反射镜的光束的固 定反射镜,固定反射镜与主轴线垂直,且主轴线通过固定反射镜的中心;同时在转臂上,旋转反射镜的另一端设置接收来自垂直反射镜的光束的第一探测器,第一探测器的受光 面正对固定反射镜,在该方案中的可旋转光阑上具有两个通光孔,从被测光源发出的光 被旋转反射镜反射经过可旋转光阑上的第一通光 L,到达固定反射镜,被固定反射镜反 射的光束通过可旋转光阑上的第二通光孔后正入射到第一探测器中。在上述的分布光度计中,也可在第二基座上设置第二转轴,第二转轴可绕主轴线与 第一转轴同步转动,第二转轴上连接第三探测器。第三探测器正对旋转反射镜本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种分布光度计,包括第一基座(1)、第二基座(2)和水平主轴线(3),被测光源(6)通过灯臂(5)与第一基座(1)相连,第一基座(1)上设置有与主轴线(3)同轴的第一转轴(9),第一转轴(9)一端连接转臂(10),转臂(10)的一端安装有旋转反射镜(7),第二基座(2)上设置接收来自第一基座上的旋转反射镜(7)反射光束的反射镜和/或探测器,其特征在于在第一基座(1)和第二基座(2)之间设置绕主轴线(3)并同步于转臂(10)旋转的可旋转光阑(12),可旋转光阑上设有一个或一个以上通光孔(13);可旋转光阑(12)由光阑架(11)上的支撑机构支撑,支撑机构和使可旋转光阑(12)旋转的传动机构到主轴线(6)的距离大于通光孔(13)的外侧到主轴线(6)的最大距离。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:潘建根
申请(专利权)人:杭州远方光电信息有限公司
类型:发明
国别省市:86[]

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