一种X射线源磁透镜磁场测量装置制造方法及图纸

技术编号:41826802 阅读:12 留言:0更新日期:2024-06-24 20:39
本技术提供了一种X射线源磁透镜磁场测量装置,属于X射线技术领域。一种X射线源磁透镜磁场测量装置,包括置物台,所述置物台一侧设有线圈垫块,所述线圈垫块上设有线圈,所述置物台另一侧开设有凹槽,所述凹槽内固定连接有滑轨,所述滑轨上滑动连接有滑块,所述滑块上固定连接有探针支撑板,所述探针支撑板上固定连接有探针支撑柱,所述探针支撑柱上滑动连接有探针支撑块,所述探针支撑块上开设有安装孔,所述安装孔上设有高斯计探针。本技术具有产生磁场的线圈放置在V型槽上,可以限制线圈转动,并通过限位架限制其前后移动;高斯计探针能够上下前后移动,对于每次测量通过刻度尺和刻度精确定位测量位置的优点。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于x射线,涉及一种x射线源磁透镜磁场测量装置。


技术介绍

1、x射线源由x射线管和高压电源组合而成,其中x射线管主要包括电子枪和磁透镜,磁透镜的功能就是将电子束聚焦,使其在撞击靶面产生电子束的时候焦斑足够小。磁透镜工作原理是在圆柱中空型骨架上绕上漆包线,给漆包线通电,由于电磁感应原理,通电线圈会产生磁场,电子束在磁场中运动就会受到磁场的影响发生聚焦效应。磁场的稳定性会直接影响电子束运动的轨迹,进而影响电子束在靶面上的焦点尺寸以及最终成像的稳定性。磁场的磁场强度,磁场的稳定性,磁场的可靠性直接影响整个x射线源的性能以及最终呈现在客户端图像的质量,目前使用人工目测测量的方法对磁场稳定性、强度、可靠性进行测试,由于存在线圈转动、线圈发热等诸多变量,因此每次测量的数据的精确性有待考究。


技术实现思路

1、本技术的目的是针对现有的技术存在上述问题,提出了一种x射线源磁透镜磁场测量装置,解决了目前使用人工目测测量的方法对磁场稳定性、强度、可靠性进行测试,由于存在线圈转动、线圈发热等诸多变量影响测量数据的精确性的问题。

2、本技术的目的可通过下列技术方案来实现:

3、一种x射线源磁透镜磁场测量装置,其特征在于,包括置物台,所述置物台一侧设有线圈垫块,所述线圈垫块上设有线圈,所述置物台另一侧开设有凹槽,所述凹槽内固定连接有滑轨,所述滑轨上滑动连接有滑块,所述滑块上固定连接有探针支撑板,所述探针支撑板上固定连接有探针支撑柱,所述探针支撑柱上滑动连接有探针支撑块,所述探针支撑块上开设有安装孔,所述安装孔上设有高斯计探针。

4、在上述的x射线源磁透镜磁场测量装置中,所述线圈垫块上开设有v型槽,所述线圈设置在限位槽内,所述线圈两端设有限位架,所述限位架与线圈垫块相抵靠。

5、在上述的x射线源磁透镜磁场测量装置中,所述线圈中间设有散热定位柱,所述散热定位柱中间设有定位管,所述散热定位柱四周开设有若干个散热孔。

6、在上述的x射线源磁透镜磁场测量装置中,所述探针支撑块两侧设有锁紧螺钉。

7、在上述的x射线源磁透镜磁场测量装置中,所述探针支撑柱上设有刻度,所述置物台上设有与滑轨平行的刻度尺。

8、在上述的x射线源磁透镜磁场测量装置中,所述置物台底部开设有槽孔,所述槽孔内设有螺栓,所述螺栓与置物台相连接。

9、在上述的x射线源磁透镜磁场测量装置中,所述置物台上固定连接有把手。

10、在上述的x射线源磁透镜磁场测量装置中,所述线圈垫块的材质为聚四氟乙烯。

11、与现有技术相比,本技术具有以下优点:

12、产生磁场的线圈放置在v型槽上,可以限制线圈转动,并通过限位架限制其前后移动;高斯计探针能够上下前后移动,对于每次测量通过刻度尺和刻度精确定位测量位置;散热定位柱,在可靠性测试中预防线圈发热对探测器产生影响,并便于高斯计探针的定位。

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【技术保护点】

1.一种X射线源磁透镜磁场测量装置,其特征在于,包括置物台(2),所述置物台(2)一侧设有线圈垫块(3),所述线圈垫块(3)上设有线圈(4),所述置物台(2)另一侧开设有凹槽(5),所述凹槽(5)内固定连接有滑轨(6),所述滑轨(6)上滑动连接有滑块(7),所述滑块(7)上固定连接有探针支撑板(8),所述探针支撑板(8)上固定连接有探针支撑柱(9),所述探针支撑柱(9)上滑动连接有探针支撑块(10),所述探针支撑块(10)上开设有安装孔(11),所述安装孔(11)上设有高斯计探针(12)。

2.根据权利要求1所述的X射线源磁透镜磁场测量装置,其特征在于,所述线圈垫块(3)上开设有V型槽(13),所述线圈(4)设置在限位槽内,所述线圈(4)两端设有限位架(14),所述限位架(14)与线圈垫块(3)相抵靠。

3.根据权利要求1所述的X射线源磁透镜磁场测量装置,其特征在于,所述线圈(4)中间设有散热定位柱(15),所述散热定位柱(15)中间设有定位管(16),所述散热定位柱(15)四周开设有若干个散热孔(17)。

4.根据权利要求1所述的X射线源磁透镜磁场测量装置,其特征在于,所述探针支撑块(10)两侧设有锁紧螺钉(18)。

5.根据权利要求1所述的X射线源磁透镜磁场测量装置,其特征在于,所述探针支撑柱(9)上设有刻度,所述置物台(2)上设有与滑轨(6)平行的刻度尺(19)。

6.根据权利要求1所述的X射线源磁透镜磁场测量装置,其特征在于,所述置物台(2)底部开设有槽孔(20),所述槽孔(20)内设有螺栓(21),所述螺栓(21)与置物台(2)相连接。

7.根据权利要求1所述的X射线源磁透镜磁场测量装置,其特征在于,所述置物台(2)上固定连接有把手(22)。

8.根据权利要求1所述的X射线源磁透镜磁场测量装置,其特征在于,所述线圈垫块(3)的材质为聚四氟乙烯。

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【技术特征摘要】

1.一种x射线源磁透镜磁场测量装置,其特征在于,包括置物台(2),所述置物台(2)一侧设有线圈垫块(3),所述线圈垫块(3)上设有线圈(4),所述置物台(2)另一侧开设有凹槽(5),所述凹槽(5)内固定连接有滑轨(6),所述滑轨(6)上滑动连接有滑块(7),所述滑块(7)上固定连接有探针支撑板(8),所述探针支撑板(8)上固定连接有探针支撑柱(9),所述探针支撑柱(9)上滑动连接有探针支撑块(10),所述探针支撑块(10)上开设有安装孔(11),所述安装孔(11)上设有高斯计探针(12)。

2.根据权利要求1所述的x射线源磁透镜磁场测量装置,其特征在于,所述线圈垫块(3)上开设有v型槽(13),所述线圈(4)设置在限位槽内,所述线圈(4)两端设有限位架(14),所述限位架(14)与线圈垫块(3)相抵靠。

3.根据权利要求1所述的x射线源磁透镜磁场测量装置,其特征在于,所述线圈(4)中间设有散热定位...

【专利技术属性】
技术研发人员:孙再俊曾德海张修忠黄芳亮赵立山
申请(专利权)人:海宁精奕电子有限公司
类型:新型
国别省市:

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