【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光电，特别是涉及一种可见光检测电路、芯片及方法。
技术介绍
1、可见光检测传感器是用于光信号检测的装置，常见的可见光检测传感器以线性模拟输出为主，输出信号强弱跟检测到的可见光强度成正比，光信号通过传感器芯片内部的光电二极管转换成微弱的电信号，再通过内部高增益的电流放大器放大成有用的电信号。
2、在照明、安防等应用中，需要检测光信号并将检测到的光信号传递至电路中，在这种电路中一般被检测的信号非常微弱，要求检测传感器非常灵敏。现有可见光检测传感器的高温暗电流可达微安级，相当于弱光(低于5lux)下产生的光电流，容易导致传感器在弱光下因高温暗电流误触发，进而影响检测和安防的可靠性。
3、因此，如何在实现可见光检测的基础上避免高温暗电流引起的误触发，提高检测可靠性，以成为本领域技术人员亟待解决的问题之一。
4、应该注意，上面对技术背景的介绍只是为了方便对本申请的技术方案进行清楚、完整的说明，并方便本领域技术人员的理解而阐述的。不能仅仅因为这些方案在本申请的
技术介绍
部分进行了阐述而认为上述技术方案为本领域技术人员所公知。
技术实现思路
1、鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种可见光检测电路、芯片及方法，用于解决现有技术中高温暗电流引起可见光检测传感器误触发，检测可靠性差的问题。
2、为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术提供一种可见光检测电路，所述可见光检测电路至少包括：
3、暗管、第一补偿模块、
4、所述第一补偿模块连接所述暗管，基于所述暗管产生亮管补偿电流；
5、所述亮管用于对可见光进行检测，并产生可见光检测电流；
6、所述电流放大模块连接所述第一补偿模块及所述亮管，包括依次级联的n级放大单元，基于所述亮管补偿电流对所述可见光检测电流进行补偿，并将补偿后的电流进行放大；
7、所述第二补偿模块连接于各放大单元的输出端，对各级放大单元的高温寄生漏电流进行补偿；
8、其中，n为大于1的整数。
9、可选地，所述第一补偿模块包括第一晶体管、第二晶体管及第三晶体管；所述第一晶体管的第一端接地，第二端连接所述暗管的阳极；所述第二晶体管的第一端连接所述第一晶体管及所述第三晶体管的控制端，第二端连接所述工作电压，控制端连接所述第一晶体管的第二端；所述第三晶体管的第一端接地，第二端连接所述电流放大模块的输入端。
10、可选地，所述第二补偿模块包括偏置产生单元及n级补偿单元；
11、所述偏置产生单元连接所述第一补偿模块，基于所述暗管上的电流产生偏置信号；
12、各级补偿单元连接所述偏置产生单元，并分别连接于各级放大单元的输出端，基于所述偏置信号对对应放大单元进行互补补偿。
13、更可选地，当所述放大单元提供下拉电流时，对应补偿单元为上拉电流源；当所述放大单元提供上拉电流时，对应补偿单元为下拉电流源。
14、更可选地，所述可见光检测电路还包括电流线性校准模块；所述电流线性校准模块连接于所述电流放大模块的输出端，对所述电流放大模块输出端的电流进行线性度调整。
15、更可选地，n级放大单元中位于奇数级的放大单元均包括第四晶体管及第五晶体管；所述第四晶体管的第一端接地，第二端及控制端作为对应放大单元的输入端；所述第五晶体管第一端接地，控制端连接所述第四晶体管的控制端，第二端作为对应放大单元的输出端；
16、n级放大单元中位于偶数级的放大单元均包括第六晶体管及第七晶体管；所述第六晶体管的第一端连接工作电压，第二端及控制端作为对应放大单元的输入端；所述第七晶体管第一端连接所述工作电压，控制端连接所述第六晶体管的控制端，第二端作为对应放大单元的输出端。
17、更可选地，n级补偿单元中位于奇数级的补偿单元均包括第八晶体管；所述第八晶体管的第一端连接所述工作电压，第二端连接对应放大单元的输出端，控制端接收第一偏置信号；
18、n级补偿单元中位于偶数级的补偿单元均包括第九晶体管；所述第九晶体管的第一端接地，第二端连接对应放大单元的输出端，控制端接收第二偏置信号。
19、更可选地，所述可见光检测电路还包括电流线性校准模块；所述电流线性校准模块连接于所述电流放大模块的输出端，用于调整电信号随光信号线性变化的线性度。
20、更可选地，所述可见光检测电路还包括输出模块；所述输出模块包括输出晶体管，所述输出晶体管的第二端连接工作电压，控制端连接所述电流线性校准模块的输出端，第一端作为所述输出模块的输出端。
21、更可选地，所述可见光检测电路还包括稳压模块，所述稳压模块接收输入电压，并对输入电压进行稳压以为所述可见光检测电路提供稳定的工作电压。
22、为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术提供一种可见光检测芯片，所述可见光检测芯片至少包括：上述可见光检测电路。
23、为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术提供一种可见光检测方法，基于上述可见光检测电路实现，所述可见光检测方法至少包括：
24、基于暗管产生亮管补偿电流，基于亮管对可见光进行检测并产生可见光检测电流；将所述可见光检测电流减去所述亮管补偿电流，以此实现对所述亮管的寄生电流进行补偿；将对所述亮管的寄生电流补偿后的电流进行逐级放大，并逐级对各放大单元中产生的高温寄生漏电流进行互补补偿。
25、如上所述，本专利技术的可见光检测电路、芯片及方法，具有以下有益效果：
26、1、本专利技术的可见光检测电路、芯片及方法对高温暗电流进行补偿，以此避免弱光下高温暗电流引起的误触发，进而提高检测可靠性。
27、2、本专利技术的可见光检测电路、芯片及方法中第二补偿模块的初始镜像源电流由暗管提供，可在第二补偿模块中对暗管未补偿掉的寄生电流进行进一步补偿，因此，可大大减小暗管的面积，降低成本。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种可见光检测电路，其特征在于，所述可见光检测电路至少包括：
2.根据权利要求1所述的可见光检测电路，其特征在于：所述第一补偿模块包括第一晶体管、第二晶体管及第三晶体管；所述第一晶体管的第一端接地，第二端连接所述暗管的阳极；所述第二晶体管的第一端连接所述第一晶体管及所述第三晶体管的控制端，第二端连接所述工作电压，控制端连接所述第一晶体管的第二端；所述第三晶体管的第一端接地，第二端连接所述电流放大模块的输入端。
3.根据权利要求1所述的可见光检测电路，其特征在于：所述第二补偿模块包括偏置产生单元及N级补偿单元；
4.根据权利要求3所述的可见光检测电路，其特征在于：当所述放大单元提供下拉电流时，对应补偿单元为上拉电流源；当所述放大单元提供上拉电流时，对应补偿单元为下拉电流源。
5.根据权利要求4所述的可见光检测电路，其特征在于：N级放大单元中位于奇数级的放大单元均包括第四晶体管及第五晶体管；所述第四晶体管的第一端接地，第二端及控制端作为对应放大单元的输入端；所述第五晶体管第一端接地，控制端连接所述第四晶体管的控制端，第二端作为对应放
6.根据权利要求5所述的可见光检测电路，其特征在于：N级补偿单元中位于奇数级的补偿单元均包括第八晶体管；所述第八晶体管的第一端连接所述工作电压，第二端连接对应放大单元的输出端，控制端接收第一偏置信号；
7.根据权利要求1-6任意一项所述的可见光检测电路，其特征在于：所述可见光检测电路还包括电流线性校准模块；所述电流线性校准模块连接于所述电流放大模块的输出端，用于调整电信号随光信号线性变化的线性度。
8.根据权利要求7所述的可见光检测电路，其特征在于：所述可见光检测电路还包括输出模块；所述输出模块包括输出晶体管，所述输出晶体管的第二端连接工作电压，控制端连接所述电流线性校准模块的输出端，第一端作为所述输出模块的输出端。
9.根据权利要求1-6任意一项所述的可见光检测电路，其特征在于：所述可见光检测电路还包括稳压模块，所述稳压模块接收输入电压，并对输入电压进行稳压以为所述可见光检测电路提供稳定的工作电压。
10.一种可见光检测芯片，其特征在于，所述可见光检测芯片至少包括：如权利要求1-9任意一项所述的可见光检测电路。
11.一种可见光检测方法，基于如权利要求1-9任意一项所述的可见光检测电路实现，其特征在于，所述可见光检测方法至少包括：
...【技术特征摘要】
1.一种可见光检测电路，其特征在于，所述可见光检测电路至少包括：
2.根据权利要求1所述的可见光检测电路，其特征在于：所述第一补偿模块包括第一晶体管、第二晶体管及第三晶体管；所述第一晶体管的第一端接地，第二端连接所述暗管的阳极；所述第二晶体管的第一端连接所述第一晶体管及所述第三晶体管的控制端，第二端连接所述工作电压，控制端连接所述第一晶体管的第二端；所述第三晶体管的第一端接地，第二端连接所述电流放大模块的输入端。
3.根据权利要求1所述的可见光检测电路，其特征在于：所述第二补偿模块包括偏置产生单元及n级补偿单元；
4.根据权利要求3所述的可见光检测电路，其特征在于：当所述放大单元提供下拉电流时，对应补偿单元为上拉电流源；当所述放大单元提供上拉电流时，对应补偿单元为下拉电流源。
5.根据权利要求4所述的可见光检测电路，其特征在于：n级放大单元中位于奇数级的放大单元均包括第四晶体管及第五晶体管；所述第四晶体管的第一端接地，第二端及控制端作为对应放大单元的输入端；所述第五晶体管第一端接地，控制端连接所述第四晶体管的控制端，第二端作为对应放大单元的输出端；
6.根据权利要求5所述的可见光检测电路，其...
【专利技术属性】
技术研发人员：王进，丁东民，张武安，周盛，刘珍利，
申请(专利权)人：华润微集成电路无锡有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。