液晶显示器亮点或暗点检测方法及其装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种液晶显示器亮点或暗点检测方法及其装置。检测方法包括：向彩膜公共电极加载第一检测电压，在彩膜公共电极与像素电极之间形成第一电压差；发现亮点或暗点后，采集亮点或暗点的第一亮度值；将加载在彩膜公共电极上的第一检测电压切换成第二检测电压，在彩膜公共电极与像素电极之间形成第二电压差；采集亮点或暗点的第二亮度值；判断第一亮度值与第二亮度值之间的差距，当｜第一亮度值－第二亮度值｜≤Ａ时，确定亮点或暗点为盒内不良；当｜第一亮度值－第二亮度值｜≥Ｂ时，确定亮点或暗点为阵列基板不良。本发明专利技术可明确区分出盒内不良或阵列基板不良，为不良分析和维修提供有利的依据，从而有效避免了产品废弃，降低了损失。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种液晶显示器的检测方法及其装置，特别是一种液晶显示 器亮点或暗点检测方法及其装置。
技术介绍
液晶显示器(Liquid Crystal Display, LCD)具有体积小、功耗低、无 辐射等特点，现已占据了平面显示领域的主导地位。液晶显示器的主体结构 包括对盒在一起并将液晶夹设其间的阵列基板和彩膜基板，阵列基板上形成 有提供扫描信号的栅线、提供数据信号的数据线、形成像素点的像素电极以 及提供公共电压的阵列公共电极，彩膜基板上形成有黑矩阵、彩色树脂图形 以及彩膜公共电极。为保证产品质量，阵列基板和彩膜基板对盒后必须进行检测，以发现不 良并进行相应维修。图6为现有技术液晶显示器亮点或暗点检测装置的结构 示意图。如图6所示，现有技术这种检测装置是一种利用公共电极检测亮点 或暗点不良的技术方案，其主体结构包括电压输入端20、运算放大器A、第 一电阻R1、第二电阻R2和电压输出端40,电压输入端20与电源装置连接， 电压输出端40与阵列公共电极和彩膜公共电极连接，通过向阵列公共电极和 彩膜公共电极输入相同的检测电压信号，以检测液晶显示器是否存在亮点或 暗点不良。由于液晶显示器亮点或暗点不良包括阵列基板不良和盒内不良，现有技 术这种检测装置虽然可以检测到液晶显示器的亮点或暗点不良，但却无法区 分出该亮点或暗点不良是阵列基板不良，还是盒内不良。实际生产表明，准 确区分出不良类型对后续维修是非常重要的。在对盒工艺后，阵列基板不良可通过激光维修工艺进行修复，而盒内不良是不可维修的。现有技术目前通常采用显微镜;险测方式确定不良类型，但有些亮点或暗点不良(如TFT沟道 区域不良、黑矩阵遮盖区域不良)是显微镜无法观测的区域，因此现有技术 这种检测方式无法完全区分出不良类型。为了保证产品品质，现有技术对无 法区分亮点或暗点不良类型的产品只能做不合格处理，不作维修，该情况在 生产中所占比重较大，废弃成本高，损失严重。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种液晶显示器亮点或暗点检测方法及其装置，有 效解决现有液晶显示器亮点或暗点检测装置无法区分不良类型的技术缺陷。为了实现上述目的，本专利技术提供了一种液晶显示器亮点或暗点检测方法， 包括步骤1、向彩膜基板的彩膜公共电极加载第一检测电压，在彩膜公共电极 与阵列基板的像素电极之间形成第 一 电压差；步骤2、判断液晶显示器是否出现亮点或暗点，是执行步骤3，否则执行 步骤7;步骤3、采集此时所述亮点或暗点的第一亮度值；步骤4、将加载在所述彩膜公共电极上的第一检测电压切换成第二检测 电压，在彩膜公共电极与阵列基板的像素电极之间形成第二电压差；步骤5、采集此时所述亮点或暗点的第二亮度值；步骤6、判断所述第一亮度值与第二亮度值之间的差距，当I第一亮度 值-第二亮度值l《A时，确定所述亮点或暗点为盒内不良；当I第一亮度值 -第二亮度值I >B时，确定所述亮点或暗点为阵列基板不良;其中A为预先 设定的第一偏差值，B为预先设定的第二偏差值；步骤7、检测结束。对于常白模式的液晶显示器，所述步骤1具体包括向彩膜基板的彩膜公共电极加载第 一检测电压，在彩膜公共电极与阵列基板的像素电极之间形 成第一电压差，使液晶显示器显示为黑色。对于常黑模式的液晶显示器，所述步骤1具体包括向彩膜基板的彩膜 公共电极加载第一检测电压，在彩膜公共电极与阵列基板的像素电极之间形 成第一电压差，使液晶显示器显示为白色。在上述技术方案基础上，所述第一偏差值为10-30个灰度值，所述第二 偏差值为50~100个灰度值。为了实现上述目的，本专利技术还提供了一种液晶显示器亮点或暗点检测装 置，包括电源装置，还包括向阵列基板的阵列公共电极加载检测电压的阵列 输出端和向彩膜基板的彩膜公共电极加载检测电压使所述彩膜公共电极与阵 列基板的像素电极之间形成电压差的彩膜输出端，所述电源装置与彩膜输出 端之间还设置有改变所述电压差的开关。所述电源装置与第一运算放大单元和第二运算放大单元连接；第一运算放 大单元包括运算放大器、第一电阻和第二电阻，第一电阻并接在运算放大器的 正输入端与输出端之间，第二电阻连接在电源装置与运算放大器的正输入端之 间，运算放大器的负输入端接地，运算放大器的输出端与阵列输出端连接；第 二运算放大单元包括运算放大器、第一电阻、第二电阻和第三电阻，第一电阻 并接在运算放大器的正输入端与输出端之间，第二电阻和第三电阻的一端连接 运算放大器的正输入端，另一端分别连接开关的二个切换端，运算放大器的负 输入端接地，运算放大器的输出端与彩膜输出端连接，开关的控制端与电源装 置连接。所述电源装置与第二运算放大单元连接，第二运算放大单元包括运算放 大器、第一电阻、第二电阻和第三电阻，第一电阻并接在运算放大器的正输 入端与输出端之间，第二电阻和第三电阻的一端连接运算放大器的正输入端， 另一端分别连接开关的二个切换端，运算放大器的负输入端接地，运算放大 器的输出端分别与阵列输出端和彩膜输出端连接，开关的控制端与所述电源装置连接。在上述技术方案基础上，所述第二电阻的电阻值是第三电阻的电阻值的1. 5 ~ 3. 5倍。所述电源装置包括提供第 一检测电压的第 一 电源装置和提供第二检测电 压的第二电源装置，第一电源装置与阵列电压输出端连接，第一电源装置和 第二电源装置分别连接开关的二个切换端，开关的控制端与彩膜电压输出端 连接。所述电源装置包括提供第 一检测电压的第 一 电源装置和提供第二检测电 压的第二电源装置，第一电源装置和第二电源装置分别连接开关的二个切换 端，开关的控制端与阵列电压输出端和彩膜电压输出端连接。在上述技术方案基础上，所述第二检测电压的电压值是第一检测电压的 电压值的1.5~3. 5倍。本专利技术提供了 一种液晶显示器亮点或暗点检测方法及其装置，分别向阵 列基板的阵列公共电极和彩膜基板的彩膜公共电极加载检测电压，并通过加 载在彩膜公共电极上检测电压的改变，使彩膜公共电极与阵列基板的像素电 极之间的电压差改变，即可明确区分出盒内不良或阵列基板不良。与现有技 术只能判断亮点或暗点不良但却无法区分出不良类型的技术方案相比，本发 明结构简单，操作简便，类型确定准确，可为不良分析和维修提供有利的依 据，从而有效避免了产品废弃，降低了损失。下面通过附图和实施例，对本专利技术的技术方案做进一步的详细描述。附图说明图1为本专利技术液晶显示器亮点或暗点检测方法的流程图； 图2为本专利技术液晶显示器亮点或暗点检测装置第一实施例的结构示意图； 图3为本专利技术液晶显示器亮点或暗点检测装置第二实施例的结构示意图； 图4为本专利技术液晶显示器亮点或暗点检测装置第三实施例的结构示意图；图5为本专利技术液晶显示器亮点或暗点检测装置第四实施例的结构示意图； 图6为现有技术液晶显示器亮点或暗点检测装置的结构示意图。 附图标记说明10—电源装置； 11 —第一电源装置； 12 —第二电源装置；20—电压输入端； 21 —阵列电压输入端； 22—彩膜电压输入端；31—第一运算放大单元；32—第二运算放大单元；40—电压输出端； 41一阵列电压输出端； 42—彩膜电压输出端； 50—开关。具体实施例方式图1为本专利技术液晶显示器亮点或暗点检测方法的流程图，具体包括 步骤1、向彩膜基板本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶显示器亮点或暗点检测方法，其特征在于，包括：　　　　步骤１、向彩膜基板的彩膜公共电极加载第一检测电压，在彩膜公共电极与阵列基板的像素电极之间形成第一电压差；　　　　步骤２、判断液晶显示器是否出现亮点或暗点，是执行步骤３，否则执行步骤７；　　　　步骤３、采集此时所述亮点或暗点的第一亮度值；　　　　步骤４、将加载在所述彩膜公共电极上的第一检测电压切换成第二检测电压，在彩膜公共电极与阵列基板的像素电极之间形成第二电压差；　　　　步骤５、采集此时所述亮点或暗点的第二亮度值；步骤６、判断所述第一亮度值与第二亮度值之间的差距，当｜第一亮度值－第二亮度值｜≤Ａ时，确定所述亮点或暗点为盒内不良；当｜第一亮度值－第二亮度值｜≥Ｂ时，确定所述亮点或暗点为阵列基板不良；其中Ａ为预先设定的第一偏差值，Ｂ为预先设定的第二偏差值；　　　　步骤７、检测结束。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李丽，彭志龙，
申请(专利权)人：北京京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]