用构造法测量真空灭弧室工频预击穿电流的方法技术

本发明专利技术公开了一种用构造法测量真空灭弧室工频预击穿电流的方法，用于测量真空灭弧室的工频预击穿电流，包括以下步骤：首先，测量流过真空灭弧室的总电流Ｉ和施加电压Ｕ，该总电流Ｉ包括电容电流Ｉｃ和预击穿电流Ｉｐ，得到流过真空灭弧室的预击穿电流Ｉｐ与容性电流Ｉｃ的相位关系图；然后，根据得到的容性电流Ｉｃ的峰值来构造出容性电流Ｉｃ的波形；最后，用总电流Ｉ的波形减去所构造出的容性电流Ｉｃ的波形，即可得到所要求得预击穿电流Ｉｐ的波形。本发明专利技术利用流过灭弧室的预击穿电流与施加电压以及容性电流的相位关系，根据总电流的波形来构造出其容性电流分量的波形，因而只需取一路电流信号即可获得预击穿电流，此方法简单省力。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测量方法，尤其涉及一种用构造法测量真空灭弧室工 频预击穿电流的方法。
技术介绍
当在真空间隙的两端施加一定的电压后，随着电压的不断升高，在真 空间隙击穿前，电极间会出现微小的电流(即预击穿电流)，或有微放电 发生，这种现象称为真空间隙的预击穿现象。如果施加电压为直流电压，则流过间隙的是比较稳定的预击穿电流， 主要是由场致发射引起的，有时会在稳定的电流上叠加一些小的电流脉 冲。如果施加电压为工频电压，则流过真空间隙的电流包含以下一些分 量a.由强电场引起的阴极场致发射电流；b.由两触头组成的电容而产生的容性电流；C.阳极由于受到阴极发射的电子的轰击而发热和释气、熔化产生的离 子电流；d.由微放电所引起的脉冲电流等。以上这些电流之和总称为预击穿全电流。通常所说的工频预击穿电 流， 一般是指不包括容性电流的其余电流分量之和，主要是由场致发射电 流决定的。真空间隙中由于没有气体分子作为绝缘介质，与气体间隙相比，其击 穿机理将会呈现出自己的一些特点。长期以来，对真空间隙击穿机理的研 究和探讨， 一直是真空绝缘和击穿研究领域的热点问题之一。为了全面地研究真空间隙的预击穿特性，需要提供一种有效、简单的测量真空灭弧室 工频预击穿电流的方法。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术的缺陷，而提供一种用构造法测量真 空灭弧室工频预击穿电流的方法，它具有测量简单的优点。实现上述目的的技术方案是 一种用构造法测量真空灭弧室工频 预击穿电流的方法，用于测量真空灭弧室的工频预击穿电流，其中，包 括以下步骤首先，测量流过真空灭弧室的总电流I和施加电压U，该总电流I 包括电容电流Ic和预击穿电流Ip，然后得到流过真空灭弧室的预击穿 电流Ip与容性电流IC的相位关系然后，根据得到的容性电流IC的峰值来构造出容性电流IC的波形；最后，用总电流I的波形减去所构造出的容性电流IC的波形，即 可得到所要求得预击穿电流Ip的波形。上述的，其中，所 述的容性电流Ic的波形为正弦波。本专利技术的有益效果是本专利技术用构造法测量真空灭弧室工频预击穿 电流的方法利用流过灭弧室的预击穿电流与施加电压以及容性电流的 相位关系，根据总电流的波形来构造出其容性电流分量的波形，因而只 需取一路电流信号即可获得预击穿电流，此方法简单省力。附图说明图1是本专利技术的预击穿电流Ip和容性电流Ic的相位关系图。具体实施例方式下面将结合附图对本专利技术作进一步说明。请参阅图1，图中示出了本专利技术的一种用构造法测量真空灭弧室工 频预击穿电流的方法，用于测量真空灭弧室的工频预击穿电流，包括以下步骤首先，测量流过真空灭弧室的总电流I和施加电压U，该总电流I 包括电容电流Ic和预击穿电流Ip，然后得到流过真空灭弧室的预击穿 电流Ip与容性电流Ic的相位关系图，由图可知，预击穿电流Ip和施加 电压U的相位相同，而流过灭弧室的容性电流IC的相位显然与U相差90° ，因此预击穿电流Ip与容性电流Ic的相位相差90。，在容性电流 Ic过零时预击穿电流Ip将会取得最大值，在预击穿电流Ip过零时容性 电流Ic将会取得最大值，因此预击穿电流Ip将不会影响到容性电流Ic 在峰值附近的波形形状；然后，根据得到的容性电流Ic的峰值来构造出容性电流Ic的波形， 该波形为正弦波；最后，用总电流I的波形减去所构造出的容性电流Ic的波形，即 可得到所要求得预击穿电流Ip的波形。以上实施例仅供说明本专利技术之用，而非对本专利技术保护范围的限 制。有关本
的技术人员，在不脱离本专利技术的精神和范围的情 况下，还可以作出各种变换或变型，而所有等同的技术方案也应归属 于本专利技术保护的范畴之内，由各权利要求所限定。权利要求1.一种，用于测量真空灭弧室的工频预击穿电流，其特征在于，包括以下步骤首先，测量流过真空灭弧室的总电流I和施加电压U，该总电流I包括电容电流Ic和预击穿电流Ip，然后得到流过真空灭弧室的预击穿电流Ip与容性电流Ic的相位关系图；然后，根据得到的容性电流Ic的峰值来构造出容性电流Ic的波形；最后，用总电流I的波形减去所构造出的容性电流Ic的波形，即可得到所要求得预击穿电流Ip的波形。2. 根据权利要求1所述的用构造法测量真空灭弧室工频预击穿电流的方 法，其特征在于，所述的容性电流Ic的波形为正弦波。全文摘要本专利技术公开了一种，用于测量真空灭弧室的工频预击穿电流，包括以下步骤首先，测量流过真空灭弧室的总电流I和施加电压U，该总电流I包括电容电流Ic和预击穿电流Ip，得到流过真空灭弧室的预击穿电流Ip与容性电流Ic的相位关系图；然后，根据得到的容性电流Ic的峰值来构造出容性电流Ic的波形；最后，用总电流I的波形减去所构造出的容性电流Ic的波形，即可得到所要求得预击穿电流Ip的波形。本专利技术利用流过灭弧室的预击穿电流与施加电压以及容性电流的相位关系，根据总电流的波形来构造出其容性电流分量的波形，因而只需取一路电流信号即可获得预击穿电流，此方法简单省力。文档编号G01R31/12GK101614782SQ200810039450公开日2009年12月30日 申请日期2008年6月24日 优先权日2008年6月24日专利技术者王卫斌 申请人:上海恒睿信息技术有限公司;上海市电力公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用构造法测量真空灭弧室工频预击穿电流的方法，用于测量真空灭弧室的工频预击穿电流，其特征在于，包括以下步骤：　首先，测量流过真空灭弧室的总电流Ｉ和施加电压Ｕ，该总电流Ｉ包括电容电流Ｉｃ和预击穿电流Ｉｐ，然后得到流过真空灭弧室的预击穿电流 Ｉｐ与容性电流Ｉｃ的相位关系图；　然后，根据得到的容性电流Ｉｃ的峰值来构造出容性电流Ｉｃ的波形；　最后，用总电流Ｉ的波形减去所构造出的容性电流Ｉｃ的波形，即可得到所要求得预击穿电流Ｉｐ的波形。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王卫斌，
申请(专利权)人：上海恒睿信息技术有限公司，上海市电力公司，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]