【技术实现步骤摘要】
本技术涉及测试探针，特别涉及一种电子元器件测试探针。
技术介绍
1、测试探针相当于一个媒介，测试时可用探针的头部去接触待测物，另一端则用来传导信号，进行电流的传输，探针有多种不同的头型，可以用来应对不同的测试点，比如尖头型、锯齿型、平头型等，电子元器件在完成组装之前，必须经过测试探针检测，确认电子元器件的性能。
2、现有的电子元器件通过针座插装在pcb线路板上后会露出引脚，将测试探针的测试针头与电子元器件上的引脚接触进行通电测试，电流通过测试探针传导到检查装置，从而通过所传导的电流来检测电子元器件是否处于正常状态。
3、现有技术在实际使用过程中，由于电子元器件测试探针有很多不同的型号，每个型号都有适合的使用范围和特定测试项目，当需要对不同的电子元器件进行测试时，需要更换不同的测试探针，增加了搭配测试设备的复杂度，故提出一种电子元器件测试探针。
技术实现思路
1、(一)解决的技术问题
2、针对上述现有技术存在的问题，本技术提供了一种电子元器件测试探针。
3、(二)技术方案
4、为实现以上目的，本技术通过以下技术方案予以实现：一种电子元器件测试探针，包括针管和针身，所述针身穿插设置在针管内部，所述针管内腔设置有弧形圈，所述针身一端外表面设置有弧形凸起，所述针管内腔设置有连接机构，所述针身外表面设置有防护机构；连接机构，包括固定连接在针管内腔底部的弹簧，所述弹簧一端固定连接有球形连接件；防护机构，包括固定连接有针身外表面的固定圈
5、作为本技术所述电子元器件测试探针的一种优选方案，其中，所述针身靠近弧形凸起一端开设有弧形槽，所述球形连接件外表面与弧形槽抵接。
6、作为本技术所述电子元器件测试探针的一种优选方案，其中，所述针身远离弧形凸起一端内腔设置有连接杆，所述连接杆一端固定连接有针头。
7、作为本技术所述电子元器件测试探针的一种优选方案，其中，所述针身内壁与弧形凸起外表面均设置有螺纹，所述针身与连接杆螺纹连接。
8、作为本技术所述电子元器件测试探针的一种优选方案，其中，所述滑动杆一端固定连接有透明防护罩，所述滑动杆外表面套设有连接弹簧。
9、作为本技术所述电子元器件测试探针的一种优选方案，其中，所述连接弹簧两端分别与固定圈和透明防护罩固定连接。
10、(三)有益效果
11、本技术提供了一种电子元器件测试探针。具备以下有益效果：
12、1、转动针头带动连接杆转动离开与连接杆螺纹连接的针身的内部，即可将现有的针头取下，这时操作人员将需要更换的另一种形状的针头通过连接杆转动安装在针身上，实现不同形状的针头的快速更换，且无需更换测试探针整体，减轻了搭配不同测试设备时更换测试探针的复杂操作。
13、2、透明防护罩将电子元器件上的引脚与针头围绕保护起来，避免针头在与对应引脚接触时，容易接触到旁边的引脚，致使两个引脚接触发生短路问题，透明防护罩可通过连接弹簧的配合进行位置移动，可使用不同长度的引脚和针头使用，避免出现因为针头和引脚长度不够导致其无法接触的现象发生，提高装置的实用性。
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1.一种电子元器件测试探针，包括针管(1)和针身(101)，所述针身(101)穿插设置在针管(1)内部，其特征在于：所述针管(1)内腔设置有弧形圈(102)，所述针身(101)一端外表面设置有弧形凸起(103)，所述针管(1)内腔设置有连接机构(2)，所述针身(101)外表面设置有防护机构(3)；
2.根据权利要求1所述的一种电子元器件测试探针，其特征在于：所述针身(101)靠近弧形凸起(103)一端开设有弧形槽(203)，所述球形连接件(202)外表面与弧形槽(203)抵接。
3.根据权利要求1所述的一种电子元器件测试探针，其特征在于：所述针身(101)远离弧形凸起(103)一端内腔设置有连接杆(204)，所述连接杆(204)一端固定连接有针头(205)。
4.根据权利要求3所述的一种电子元器件测试探针，其特征在于：所述针身(101)内壁与弧形凸起(103)外表面均设置有螺纹，所述针身(101)与连接杆(204)螺纹连接。
5.根据权利要求1所述的一种电子元器件测试探针，其特征在于：所述滑动杆(302)一端固定连接有透明防护罩(3
6.根据权利要求5所述的一种电子元器件测试探针，其特征在于：所述连接弹簧(304)两端分别与固定圈(301)和透明防护罩(303)固定连接。
...【技术特征摘要】
1.一种电子元器件测试探针，包括针管(1)和针身(101)，所述针身(101)穿插设置在针管(1)内部，其特征在于：所述针管(1)内腔设置有弧形圈(102)，所述针身(101)一端外表面设置有弧形凸起(103)，所述针管(1)内腔设置有连接机构(2)，所述针身(101)外表面设置有防护机构(3)；
2.根据权利要求1所述的一种电子元器件测试探针，其特征在于：所述针身(101)靠近弧形凸起(103)一端开设有弧形槽(203)，所述球形连接件(202)外表面与弧形槽(203)抵接。
3.根据权利要求1所述的一种电子元器件测试探针，其特征在于：所述针身(101)远离弧形凸起(10...
【专利技术属性】
技术研发人员：周皓晨，
申请(专利权)人：陕西蓝霆环保科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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