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阵列基板的制备方法、阵列基板及显示面板技术

技术编号:41772178 阅读:1 留言:0更新日期:2024-06-21 21:48
本申请提供一种阵列基板的制备方法、阵列基板及显示面板,其中,该方法包括在衬底基板上形成栅极层,栅极层包括自下而上层叠设置的第一子栅极层和第二子栅极层;在衬底基板和栅极层的上方依次形成绝缘层、半导体层以及源漏极层,源漏极层包括自下而上层叠设置的第一子源漏极层和第二子源漏极层;其中,第一子栅极层采用第一沉积速率形成,第一子源漏极层采用第二沉积速率形成,第一沉积速率小于第二沉积速率;在源漏极层和绝缘层的上方形成钝化层;在钝化层上形成像素电极层。本申请提供的技术方案可以增大栅极层的锥角角度,降低栅极层的阻值,提高阵列基板的充电率,并且,可以减小源漏极层的锥角角度,减少爬坡断线的情况,提高产品良率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及显示,尤其涉及一种阵列基板的制备方法、阵列基板及显示面板


技术介绍

1、薄膜晶体管液晶显示装置(thin film transistor-liquid crystal display,tft-lcd)具有画质好、低功耗的优点,在显示领域中占据主导地位。tft作为tft-lcd的像素开关,可以控制液晶的旋转以使得显示面板可以呈现不同的色彩。

2、在铜工艺tft的制程中,栅极和源漏极通常是使用刻蚀液对第一金属层和第二金属层进行刻蚀后形成,形成的锥角(taper angle)基本相同。这种制备工艺形成的栅极和源漏极的锥角难以控制,容易出现锥角过大或过小的情况,其中,在锥角过大时易造成断线,在锥角过小时可能导致阻抗增大,产生信号传输延迟,因而,目前采用此种制备工艺制备的阵列基板,产品良率比较低。


技术实现思路

1、有鉴于此,本申请提供一种阵列基板的制备方法、阵列基板及显示面板,用于提高产品良率。

2、为了实现上述目的,第一方面,本申请实施例提供一种阵列基板的制备方法,包括:

3、在衬底基板上形成栅极层,所述栅极层包括自下而上层叠设置的第一子栅极层和第二子栅极层;

4、在所述衬底基板和所述栅极层的上方依次形成绝缘层、半导体层以及源漏极层,所述源漏极层包括自下而上层叠设置的第一子源漏极层和第二子源漏极层;其中,所述第一子栅极层采用第一沉积速率形成,所述第一子源漏极层采用第二沉积速率形成,所述第一沉积速率小于所述第二沉积速率;

<p>5、在所述源漏极层和所述绝缘层的上方形成钝化层;

6、在所述钝化层上形成像素电极层。

7、在第一方面的一种可能的实施方式中,所述第一子栅极层和所述第一子源漏极层的材料均为钼;所述第二子栅极层和所述第二子源漏极层的材料均为铜。

8、在第一方面的一种可能的实施方式中,所述在衬底基板上形成栅极层,所述栅极层包括层叠设置的第一子栅极层和第二子栅极层,包括:

9、在所述衬底基板上依次形成第一子栅极金属层、第二子栅极金属层和光刻胶层;

10、对所述光刻胶层进行图案化处理,形成图案化光刻胶层后,以所述图案化光刻胶层为掩膜,依次对所述第二子栅极金属层和第一子栅极金属层进行湿法刻蚀后,去除所述图案化光刻胶层,形成所述第二子栅极层和所述第一子栅极层。

11、在第一方面的一种可能的实施方式中,所述湿法刻蚀的刻蚀液包括有机酸、有机碱、双氧水、水和螯合剂的混合溶液。

12、在第一方面的一种可能的实施方式中,在对所述光刻胶层进行图案化处理之前,所述方法还包括:

13、对所述光刻胶层进行烘烤。

14、在第一方面的一种可能的实施方式中,所述绝缘层包括层叠设置的第一子绝缘层、第二子绝缘层和第三子绝缘层;所述第一子绝缘层、第二子绝缘层和第三子绝缘层的沉积速率逐渐减小。

15、在第一方面的一种可能的实施方式中,所述半导体层包括层叠设置的有源层和欧姆接触层;

16、所述有源层包括自下而上层叠设置的第一子有源层和第二子有源层,所述第一子有源层的沉积速率大于所述第二子有源层的沉积速率。

17、在第一方面的一种可能的实施方式中,所述第一子栅极层的厚度与所述第一子源漏极层的厚度相同,所述第二子栅极层的厚度大于所述第二子源漏极层的厚度。

18、第二方面,本申请实施例提供一种阵列基板,所述阵列基板是基于第一方面或第一方面的任一实施方式所述的方法制备的。

19、第三方面,本申请实施例提供一种显示面板,该显示面板包括第二方面所述的阵列基板,与所述阵列基板相对设置的对向基板,以及位于所述阵列基板和所述对向基板之间的显示介质层。

20、本申请实施例提供的阵列基板的制备方法,该方法包括:在衬底基板上形成栅极层,栅极层包括自下而上层叠设置的第一子栅极层和第二子栅极层;在衬底基板和栅极层的上方依次形成绝缘层、半导体层以及源漏极层,源漏极层包括自下而上层叠设置的第一子源漏极层和第二子源漏极层;在源漏极层和绝缘层的上方形成钝化层;在钝化层上形成像素电极层。其中,第一子栅极层采用第一沉积速率形成,第一子源漏极层采用第二沉积速率形成,第一沉积速率小于第二沉积速率,这样可以使得第一子栅极层的密度小于第一子源漏极层,从而可以使得栅极层刻蚀形成的锥角角度要大于源漏极层刻蚀形成的锥角角度,进而可以增大栅极层的锥角角度,降低栅极层的阻值,提高阵列基板的充电率,减小源漏极层的锥角角度,减少爬坡断线的情况,提高产品良率。

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【技术保护点】

1.一种阵列基板的制备方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一子栅极层和所述第一子源漏极层的材料均为钼;所述第二子栅极层和所述第二子源漏极层的材料均为铜。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在衬底基板上形成栅极层,所述栅极层包括自下而上层叠设置的第一子栅极层和第二子栅极层,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述湿法刻蚀的刻蚀液包括有机酸、有机碱、双氧水、水和螯合剂的混合溶液。

5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,在对所述光刻胶层进行图案化处理之前,所述方法还包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述绝缘层包括层叠设置的第一子绝缘层、第二子绝缘层和第三子绝缘层;所述第一子绝缘层、第二子绝缘层和第三子绝缘层的沉积速率逐渐减小。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述半导体层包括层叠设置的有源层和欧姆接触层;

8.根据权利要求1-7任一项所述的方法,其特征在于,所述第一子栅极层的厚度与所述第一子源漏极层的厚度相同,所述第二子栅极层的厚度大于所述第二子源漏极层的厚度。

9.一种阵列基板,其特征在于,所述阵列基板是基于权利要求1-8任一项所述的方法制备的。

10.一种显示面板,其特征在于,包括权利要求9所述的阵列基板,与所述阵列基板相对设置的对向基板,以及位于所述阵列基板和所述对向基板之间的显示介质层。

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【技术特征摘要】

1.一种阵列基板的制备方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一子栅极层和所述第一子源漏极层的材料均为钼;所述第二子栅极层和所述第二子源漏极层的材料均为铜。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在衬底基板上形成栅极层,所述栅极层包括自下而上层叠设置的第一子栅极层和第二子栅极层,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述湿法刻蚀的刻蚀液包括有机酸、有机碱、双氧水、水和螯合剂的混合溶液。

5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,在对所述光刻胶层进行图案化处理之前,所述方法还包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述绝缘层包...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴文兵李宁宁雍万飞詹仁宏卓恩宗刘素梅叶利丹
申请(专利权)人:惠科股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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