【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
相关申请的交叉引用本申请要求2022年3月21日提交的韩国专利申请第10-2022-0035013号和2023年3月21日提交的韩国专利申请第10-2023-0036787号的优先权的权益，通过引用将这些韩国专利申请的全部内容并入本文。本专利技术涉及一种能够精确地测量设置在袋的电极组件容纳部与密封部之间的密封间隙的用于测量二次电池的密封间隙的设备和方法。
技术介绍
1、通常，与不可充电的一次电池不同，二次电池(secondary battery)指的是可充电和可放电的电池。二次电池被广泛地用于移动电话、笔记本电脑、便携式摄像机、电动车辆等。
2、二次电池分为电极组件内置于金属罐中的罐型二次电池、电极组件内置于袋中的袋型二次电池、以及具有硬币形状的纽扣型二次电池。
3、此外，袋型二次电池包括电极组件和容纳电极组件的袋。就是说，电极组件具有正极和负极在之间具有隔膜的情况下交替设置的结构。袋包括：容纳电极组件的容纳部；以及在形成在容纳部的边缘上的同时密封容纳部的密封部。
4、在二次电池中，在组装工序中首先将形成在袋上的四个边缘中的三个边缘密封以形成密封部，并且在除气工序中将形成在袋上的剩余的一个边缘密封以形成密封部。
5、在此，形成在袋上的密封部必须考虑到电极组件的全宽度、绝缘故障和密封故障来形成。电极组件的全宽度可包括设置在容纳部与密封部之间的密封间隙。
6、密封间隙需要一定宽度以确保安全性。就是说，密封间隙具有根据容纳部的厚度而设定的宽度。特别是，密封间隙在组装工序和除气
7、在此，组装工序和除气工序中的密封间隙的差异可在折叠密封部的工序中引起缺陷，因此，需要在除气工序中精确地测量密封间隙。
8、在相关技术中，使用钢尺测量设置在袋的容纳部与密封部之间的密封间隙。然而，钢尺存在的问题在于，测量值根据测量次数或每个操作者变化，因此，难以精确地测量密封间隙。
技术实现思路
1、技术问题
2、本专利技术的目的是提供一种能够精确地测量设置在袋的电极组件容纳部与密封部之间的密封间隙的用于测量二次电池的密封间隙的设备和方法。
3、技术方案
4、本专利技术提供了一种用于测量二次电池的密封间隙的设备，所述设备测量设置在袋的电极组件容纳部与密封部之间的密封间隙，并且所述设备包括：第一测量装置，所述第一测量装置配置为获取所述密封部的内侧起点和外侧终点；原点结构，所述原点结构具有与从设置在所述内侧起点与所述外侧终点之间的第一基准原点(o1)在所述电极组件容纳部的方向上移动预定的第一距离(x1)的点对应的竖直基准面；第二测量装置，所述第二测量装置配置为获取从所述竖直基准面至所述电极组件容纳部的第二距离(x2)；以及控制器，所述控制器配置为基于所述第一距离(x1)、所述第二距离(x2)、以及从所述内侧起点至所述第一基准原点(o1)的第三距离(x3)来获取所述密封间隙。
5、所述控制器可配置为在所述内侧起点与所述外侧终点之间设定所述第一基准原点，并且获取从所述内侧起点至所述第一基准原点(o1)的所述第三距离(x3)。
6、所述第一测量装置可包括：第一位移传感器，所述第一位移传感器配置为将光束照射至所述袋的一个表面，以测量所述密封部的内侧起点和外侧终点；和第二位移传感器，所述第二位移传感器配置为将光束照射至所述袋的另一个表面，以测量所述密封部的内侧起点和外侧终点。
7、如果通过所述第一位移传感器和所述第二位移传感器测量的所述密封部的内侧起点和外侧终点不匹配，则所述控制器可配置为将分别通过所述第一位移传感器和所述第二位移传感器测量的内侧起点和外侧终点彼此重叠的点设定为所述密封部的内侧起点和外侧终点。
8、所述控制器可基于通过所述第一位移传感器测量的密封宽度与通过所述第二位移传感器测量的密封宽度之间的距离来获取密封宽度的厚度。
9、所述第二测量装置可配置为将光束朝向所述竖直基准面照射，以将设置有所述竖直基准面的点设定为第二基准原点(o2)，并且将光束照射至所述电极组件容纳部以使得光束穿过所述第二基准原点(o2)，以获取从所述第二基准原点(o2)至所述电极组件容纳部的所述第二距离(x2)。
10、所述第二测量装置可包括第三位移传感器，所述第三位移传感器配置为将光束朝向所述竖直基准面照射，以将设置有所述竖直基准面的点设定为所述第二基准原点(o2)。
11、所述控制器可配置为获取通过从所述第一距离(x1)与所述第二距离(x2)之和减去所述第三距离(x3)而获得的值作为所述密封间隙。
12、所述第二基准原点(o2)可被设定为不设置在所述密封宽度内。
13、所述原点结构可进一步包括水平基准面，所述水平基准面从所述竖直基准面在所述密封宽度的方向上延伸并且具有供从所述第一位移传感器照射的光束穿过的通孔。
14、所述控制器可配置为当所述密封间隙小于或大于预先输入的密封间隙时，确定通过所述第二测量装置测量的所述密封间隙是有缺陷的。
15、一种用于测量二次电池的密封间隙的方法，在所述方法中，测量设置在袋的电极组件容纳部与密封部之间的密封间隙，所述方法包括：第一测量工序，获取所述密封部的内侧起点和外侧终点；原点设定工序，设定与从设置在所述内侧起点与所述外侧终点之间的第一基准原点在所述电极组件容纳部的方向上移动预定第一距离(x1)的点对应的竖直基准面；第二测量工序，获取从所述竖直基准面至所述电极组件容纳部的第二距离(x2)；以及密封间隙测量工序，基于所述第一距离(x1)、所述第二距离(x2)、以及从所述内侧起点至所述第一基准原点(o1)的第三距离(x3)获取所述密封间隙。
16、在所述第一测量工序中，设定了所述内侧起点与所述外侧终点之间的所述第一基准原点，并且可获取从所述内侧起点至所述第一基准原点的所述第三距离(x3).
17、所述第一测量工序可进一步包括：第一工序，将光束照射至所述袋的一个表面，以测量所述密封部的所述内侧起点和所述外侧终点；第二工序，将光束照射至所述袋的另一个表面，以测量所述密封部的所述内侧起点和所述外侧终点；以及第三工序，如果在所述第一工序和所述第二工序中测量的密封部的内侧起点和外侧终点不匹配，则将所述密封部的内侧起点和外侧终点重叠的点设定为所述密封部的内侧起点和外侧终点。
18、所述第一测量工序可进一步包括基于在所述第一工序中测量的密封宽度与在所述第二工序中测量的密封宽度之间的距离来获取密封宽度的厚度的工序。
19、在所述第二测量工序中，可将光束朝向所述竖直基准面照射，以将设置有所述竖直基准面的点设定为第二基准原点(o2)，并且可将光束照射至所述电极组件容纳部以使得光束穿过所述第二基准原点(o2)，以获取从所述第二基准原本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种用于测量二次电池的密封间隙的设备，所述设备测量设置在袋的电极组件容纳部与密封部之间的密封间隙，所述设备包括：
2.根据权利要求1所述的设备，其中所述控制器配置为在所述内侧起点与所述外侧终点之间设定所述第一基准原点，并且获取从所述内侧起点至所述第一基准原点(O1)的所述第三距离(X3)。
3.根据权利要求1所述的设备，其中所述第一测量装置包括：
4.根据权利要求3所述的设备，其中，如果通过所述第一位移传感器和所述第二位移传感器测量的所述密封部的内侧起点和外侧终点不匹配，则所述控制器配置为将分别通过所述第一位移传感器和所述第二位移传感器测量的内侧起点和外侧终点彼此重叠的点设定为所述密封部的内侧起点和外侧终点。
5.根据权利要求3所述的设备，其中所述控制器基于通过所述第一位移传感器测量的密封宽度与通过所述第二位移传感器测量的密封宽度之间的距离来获取密封宽度的厚度。
6.根据权利要求5所述的设备，其中所述第二测量装置配置为将光束朝向所述竖直基准面照射，以将设置有所述竖直基准面的点设定为第二基准原点(O2)，并且将光束照射
7.根据权利要求6所述的设备，其中所述第二测量装置包括第三位移传感器，所述第三位移传感器配置为将光束朝向所述竖直基准面照射，以将设置有所述竖直基准面的点设定为所述第二基准原点(O2)。
8.根据权利要求1所述的设备，其中所述控制器配置为获取通过从所述第一距离(X1)与所述第二距离(X2)之和减去所述第三距离(X3)而获得的值作为所述密封间隙。
9.根据权利要求6所述的设备，其中所述第二基准原点(O2)被设定为不设置在所述密封宽度内。
10.根据权利要求5所述的设备，其中所述原点结构进一步包括水平基准面，所述水平基准面从所述竖直基准面在所述密封宽度的方向上延伸并且具有供从所述第一位移传感器照射的光束穿过的通孔。
11.根据权利要求1所述的设备，其中所述控制器配置为当所述密封间隙小于或大于预先输入的密封间隙时，确定通过所述第二测量装置测量的所述密封间隙是有缺陷的。
12.一种用于测量二次电池的密封间隙的方法，在所述方法中，测量设置在袋的电极组件容纳部与密封部之间的密封间隙，所述方法包括：
13.根据权利要求12所述的方法，其中，在所述第一测量工序中，设定了所述内侧起点与所述外侧终点之间的所述第一基准原点，并且获取从所述内侧起点至所述第一基准原点的所述第三距离(X3)。
14.根据权利要求12所述的方法，其中所述第一测量工序进一步包括：
15.根据权利要求14所述的方法，其中所述第一测量工序进一步包括基于在所述第一工序中测量的密封宽度与在所述第二工序中测量的密封宽度之间的距离来获取密封宽度的厚度的工序。
16.根据权利要求12所述的方法，其中，在所述第二测量工序中，将光束朝向所述竖直基准面照射，以将设置有所述竖直基准面的点设定为第二基准原点(O2)，并且将光束照射至所述电极组件容纳部以使得光束穿过所述第二基准原点(O2)，以获取从所述第二基准原点(O2)至所述电极组件容纳部的所述第二距离(X2)。
17.根据权利要求16所述的方法，其中，在所述第二测量工序中，所述第二基准原点(O2)被设定为不设置在所述密封部的内侧起点与外侧终点之间。
18.根据权利要求12所述的方法，其中，在所述密封间隙测量工序中，获取通过从所述第一距离(X1)与所述第二距离(X2)之和减去所述第三距离(X3)而获得的值作为所述密封间隙。
19.根据权利要求12所述的方法，在所述密封间隙测量工序完成之后，进一步包括确定测量的所述密封间隙是否有缺陷的检查工序，
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种用于测量二次电池的密封间隙的设备，所述设备测量设置在袋的电极组件容纳部与密封部之间的密封间隙，所述设备包括：
2.根据权利要求1所述的设备，其中所述控制器配置为在所述内侧起点与所述外侧终点之间设定所述第一基准原点，并且获取从所述内侧起点至所述第一基准原点(o1)的所述第三距离(x3)。
3.根据权利要求1所述的设备，其中所述第一测量装置包括：
4.根据权利要求3所述的设备，其中，如果通过所述第一位移传感器和所述第二位移传感器测量的所述密封部的内侧起点和外侧终点不匹配，则所述控制器配置为将分别通过所述第一位移传感器和所述第二位移传感器测量的内侧起点和外侧终点彼此重叠的点设定为所述密封部的内侧起点和外侧终点。
5.根据权利要求3所述的设备，其中所述控制器基于通过所述第一位移传感器测量的密封宽度与通过所述第二位移传感器测量的密封宽度之间的距离来获取密封宽度的厚度。
6.根据权利要求5所述的设备，其中所述第二测量装置配置为将光束朝向所述竖直基准面照射，以将设置有所述竖直基准面的点设定为第二基准原点(o2)，并且将光束照射至所述电极组件容纳部以使得光束穿过所述第二基准原点(o2)，以获取从所述第二基准原点(o2)至所述电极组件容纳部的所述第二距离(x2)。
7.根据权利要求6所述的设备，其中所述第二测量装置包括第三位移传感器，所述第三位移传感器配置为将光束朝向所述竖直基准面照射，以将设置有所述竖直基准面的点设定为所述第二基准原点(o2)。
8.根据权利要求1所述的设备，其中所述控制器配置为获取通过从所述第一距离(x1)与所述第二距离(x2)之和减去所述第三距离(x3)而获得的值作为所述密封间隙。
9.根据权利要求6所述的设备，其中所述第二基准原点(o2)被设定为不设置在所述密封宽度内。
10.根据权利要求5所述的设备，其中所述原点结构进一步...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴泳柱，李圭相，李占烈，金奎亨，
申请(专利权)人：株式会社LG新能源，
类型：发明
国别省市：
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