【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及工业质检，尤其涉及一种零件表面缺陷检测方法、系统、电子设备、介质及产品。
技术介绍
1、在工业零件产品的生产和使用过程中，由于碰撞或摩擦等因素，零件可能产生各式各样的表面缺陷，从而影响使用。工业零件表面缺陷检测属于工业质检领域，是工业生产过程中的重要环节之一。
2、传统的工业零件表面缺陷检测手段主要由工人的人工检测完成，依靠肉眼对零件是否有缺陷进行检查，这种方式需要耗费大量人力，受工人熟练度、疲劳程度等因素影响，效率低且检测准确度不稳定，从而影响工业生产线的生产效率。
3、现有技术也有通过深度学习模型的方法检测工业零件表面缺陷的，但是由于其具有黑盒效应，数学上缺乏可解释性，在工业领域这种要求严谨的场合，可能带来不可知的风险。另外，图像中的微小缺陷经过深度学习模型的多个卷积层后，可能会导致图像中小面积缺陷的消失，从而造成小面积缺陷的漏检(需要说明的是，这里的小面积缺陷是指图像面积小于32×32像素的缺陷)。
技术实现思路
1、本专利技术要解决的技术问题是为了克服现有技术中存在人工检测效率低，深度学习模型检测不全面，质检效果差的缺陷，提供一种零件表面缺陷检测方法、系统、电子设备、介质及产品。
2、本专利技术是通过下述技术方案来解决上述技术问题：
3、本专利技术提供一种零件表面缺陷检测方法，所述零件表面缺陷检测方法包括：
4、获取所述零件的轮廓图；所述轮廓图包括内轮廓图和/或外轮廓图；
5、对所述轮廓图
6、优选地，在所述轮廓图包括外轮廓图时，所述获取所述零件的轮廓图包括：
7、获取原始零件图像；
8、对所述原始零件图像进行二值化处理，以得到待处理图像；
9、检测所述待处理图像的外轮廓；
10、填充所述外轮廓内部的像素，以得到第一图像；
11、将所述第一图像确定为所述零件的外轮廓图。
12、优选地，在所述轮廓图包括内轮廓图时，所述获取所述零件的轮廓图包括：
13、对所述待处理图像和所述第一图像进行位运算，以得到第二图像；
14、检测所述第二图像的内轮廓；
15、填充所述内轮廓内部的像素，以得到第三图像；
16、将所述第三图像确定为所述零件的内轮廓图。
17、优选地，所述对所述轮廓图进行凸包检测，以得到零件表面缺陷信息的步骤包括：
18、对所述第一图像进行凸包检测；
19、将检测出的凸包内部像素进行填充，以得到第四图像；
20、对所述第一图像和所述第四图像进行差值运算，以得到第五图像；
21、对所述第五图像进行形态学运算，以得到第六图像；
22、根据所述第六图像确定零件外轮廓缺陷信息。
23、优选地，所述对所述轮廓图进行凸包检测，以得到零件表面缺陷信息的步骤包括：
24、对所述第三图像进行凸包检测；
25、将检测出的凸包内部像素进行填充，以得到第七图像；
26、对所述第三图像和所述第七图像进行差值运算，以得到第八图像；
27、对所述第八图像进行形态学运算，以得到第九图像；
28、根据所述第九图像确定零件内轮廓缺陷信息。
29、优选地，所述得到零件表面缺陷信息的步骤后包括：
30、在原始零件图像上显示零件表面缺陷信息。
31、本专利技术还提供一种零件表面缺陷检测系统，所述零件表面缺陷检测系统包括：
32、获取模块，用于获取所述零件的轮廓图；所述轮廓图包括内轮廓图和/或外轮廓图；
33、检测模块，用于对所述轮廓图进行凸包检测，以得到零件表面缺陷信息。
34、本专利技术还提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并用于在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述的零件表面缺陷检测方法。
35、本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的零件表面缺陷检测方法。
36、本专利技术还提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的零件表面缺陷检测方法。
37、在符合本领域常识的基础上，上述各优选条件，可任意组合，即得本专利技术各较佳实例。
38、本专利技术的积极进步效果在于：
39、通常来说工业零件表面缺陷一般是流水线上的磕碰产生的凹陷，本专利技术通过使用凸包检测和轮廓检测的方法可以有效检测出零件表面边缘上的凹陷，不仅不会造成微小缺陷信息的损失，还能获得像素级精确度的零件表面缺陷信息。
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1.一种零件表面缺陷检测方法，其特征在于，所述零件表面缺陷检测方法包括：
2.如权利要求1所述的零件表面缺陷检测方法，其特征在于，在所述轮廓图包括外轮廓图时，所述获取所述零件的轮廓图包括：
3.如权利要求2所述的零件表面缺陷检测方法，其特征在于，在所述轮廓图包括内轮廓图时，所述获取所述零件的轮廓图包括：
4.如权利要求2所述的零件表面缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述轮廓图进行凸包检测，以得到零件表面缺陷信息的步骤包括：
5.如权利要求3所述的零件表面缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述轮廓图进行凸包检测，以得到零件表面缺陷信息的步骤包括：
6.如权利要求1所述的零件表面缺陷检测方法，其特征在于，所述得到零件表面缺陷信息的步骤后包括：
7.一种零件表面缺陷检测系统，其特征在于，所述零件表面缺陷检测系统包括：
8.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并用于在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1-6中任一项所述的零件表面缺陷检测方法。
...【技术特征摘要】
1.一种零件表面缺陷检测方法，其特征在于，所述零件表面缺陷检测方法包括：
2.如权利要求1所述的零件表面缺陷检测方法，其特征在于，在所述轮廓图包括外轮廓图时，所述获取所述零件的轮廓图包括：
3.如权利要求2所述的零件表面缺陷检测方法，其特征在于，在所述轮廓图包括内轮廓图时，所述获取所述零件的轮廓图包括：
4.如权利要求2所述的零件表面缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述轮廓图进行凸包检测，以得到零件表面缺陷信息的步骤包括：
5.如权利要求3所述的零件表面缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述轮廓图进行凸包检测，以得到零件表面缺陷信息的步骤包括：
6.如权利要求1所述的零件表面缺陷检测...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐胤，钟臻怡，杨家荣，辜毓博，
申请(专利权)人：上海电气集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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