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【技术实现步骤摘要】
本申请涉及通信领域,尤其涉及一种基站测试装置。
技术介绍
1、在通信领域,可以采用空中下载技术测试(over the air,ota)对基站的性能执行测试。现有的ota测试往往需要占用较大的测试场地,且测试耗时较长,测试整体成本较高。测试过程需要应用的多个测试天线之间存在互耦效应,测试结果往往不准确。
2、虽然可以将天线与基站的其他部分分开测试以缩短测试耗时,但是受测试后再组合的影响,这种分别检测所得到的测试结果存在不准确的情况。
技术实现思路
1、本申请实施例的目的是提供一种基站测试装置,用以解决基站整体性能测试效率低的问题。
2、本方案提供了一种基站测试装置,包括:
3、测试容器,所述测试容器用于容纳待测基站;
4、多个测试天线,多个所述测试天线设置在所述测试容器朝向所述待测基站的内表面;
5、高阻抗表面阵列,所述高阻抗表面阵列设置在所述测试容器的所述内表面,其中,所述高阻抗表面阵列包括多个导电贴片,多个所述导电贴片分布设置于多个所述测试天线之间,所述导电贴片接地且设置有缝隙结构。
6、在本申请实施例中,基站测试装置包括测试容器,该测试容器用于容纳待测基站;多个测试天线,设置在测试容器朝向待测基站的内表面;高阻抗表面阵列,设置在测试容器的内表面,其中,高阻抗表面阵列包括多个导电贴片,多个导电贴片分布设置于多个测试天线之间,导电贴片接地且设置有缝隙结构。其中,高阻抗表面阵列中的多个导电贴片与测试天线设置在同一
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1.一种基站测试装置,其特征在于,包括:
2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述测试容器的内部空间为圆柱形,所述待测基站的发射面朝向所述圆柱形的侧面设置。
3.如权利要求2所述的装置,其特征在于,所述导电贴片为金属贴片,所述高阻抗表面阵列中的多个所述金属贴片相同且均匀分布;
4.如权利要求3所述的装置,其特征在于,
5.如权利要求1所述的装置,其特征在于,
6.如权利要求5所述的装置,其特征在于,所述内表面与所述导电基板之间填充有填充介质,所述填充介质的电导率低于所述导电贴片的电导率,所述填充介质用于抑制所述导电基板反射的电磁波的传播作用。
7.如权利要求1~6任一项所述的装置,其特征在于,还包括测试设备;
8.如权利要求1~6任一项所述的装置,其特征在于,
9.如权利要求1~6任一项所述的装置,其特征在于,
10.如权利要求1所述的装置,其特征在于,
【技术特征摘要】
1.一种基站测试装置,其特征在于,包括:
2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述测试容器的内部空间为圆柱形,所述待测基站的发射面朝向所述圆柱形的侧面设置。
3.如权利要求2所述的装置,其特征在于,所述导电贴片为金属贴片,所述高阻抗表面阵列中的多个所述金属贴片相同且均匀分布;
4.如权利要求3所述的装置,其特征在于,
5.如权利要求1所述的装置,其特征在于,
6.如权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员:吴昊,王远,曹进,谭宗英,赵明明,
申请(专利权)人:中兴通讯股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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