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用于缺陷过滤的方法、电子设备及存储介质技术

技术编号:41747980 阅读:2 留言:0更新日期:2024-06-21 21:33
本披露公开了一种用于缺陷过滤的方法、电子设备及存储介质。该方法包括:获取过滤逻辑树,过滤逻辑树中的叶子节点关联缺陷过滤参数,各叶子节点所属的父节点关联其子节点之间的逻辑关系;将过滤逻辑树加载至规则引擎;以及利用规则引擎处理缺陷检测结果,以保留其中满足缺陷过滤参数的逻辑组合的缺陷。通过本披露实施例的方案,可以利用过滤逻辑树的叶子节点关联多样化的缺陷过滤参数,并通过父节点关联的逻辑关系将叶子节点上的缺陷过滤参数联合,以形成多维度的缺陷过滤参数的逻辑组合,从而对缺陷检测结果进行针对性的缺陷过滤,保证缺陷过滤结果的精度。

【技术实现步骤摘要】

本披露一般涉及产品检测。更具体地,本披露涉及一种用于缺陷过滤的方法、电子设备及存储介质


技术介绍

1、缺陷检测是一种通过计算机视觉技术来检测产品制造过程中的缺陷的方法,其以检测出产品表面的缺陷,例如裂纹、凹陷、划痕、气泡等,并且可以实时监测和诊断制造过程中的问题。目前,在制造业中,机器视觉缺陷检测技术已经被广泛应用于各类产品的质量控制和监控工作中,如电子产品、机械零部件和医疗器械等等。

2、对于机器视觉缺陷检测技术而言,过检率是需要重点关注的指标之一。机器过检是指机器将合格品检测为不合格品的情况,过检会直接对企业的良品率造成负面影响,并导致物料的浪费。在现有的一些解决方案中,通常采用人工复检抽检的方式,回收具有过检风险的产品,但效率较低且精度不高。在现有的另一些解决方案中,可以在机器视觉缺陷检测时设置一个参数对检出的缺陷进行二次筛选,但由于设置的参数单一,对所有缺陷实行一刀切式的过滤,过滤精度难以保证。

3、有鉴于此,亟需提供一种缺陷过滤方案,以便针对多类型的缺陷设置多样化的、有针对性的参数过滤,从而提高缺陷过检的精度。


技术实现思路

1、为了至少解决如上所提到的一个或多个技术问题,本披露在多个方面中提出了缺陷过滤方案。

2、在第一方面中,本披露提供一种用于缺陷过滤的方法包括:获取过滤逻辑树,过滤逻辑树中的叶子节点关联缺陷过滤参数,各叶子节点所属的父节点关联其子节点之间的逻辑关系;将过滤逻辑树加载至规则引擎;以及利用规则引擎处理缺陷检测结果,以保留其中满足缺陷过滤参数的逻辑组合的缺陷。

3、在一些实施例中,缺陷过滤参数包括:缺陷类型、缺陷属性及其对应的属性阈值,在过滤逻辑树中,每一叶子节点关联一个缺陷类型及该缺陷类型的一个缺陷属性的属性阈值,父节点关联的逻辑关系包括:与关系、或关系和/或非关系。

4、在一些实施例中,其中在利用规则引擎处理缺陷检测结果之前,该方法还包括:通过缺陷检测算法处理待测产品的检测图像,以获得缺陷检测结果;对缺陷检测结果中的缺陷进行分类;以及将缺陷分类结果标注在缺陷检测结果中。

5、在一些实施例中,其中在获取过滤逻辑树之前,该方法还包括:根据产品构建过滤逻辑树;以及将过滤逻辑树关联产品的型号并存储。

6、在一些实施例中,其中获取过滤逻辑树包括:确定待测产品的型号;以及根据待测产品的型号查找匹配的过滤逻辑树。

7、在一些实施例中,其中在利用规则引擎处理缺陷检测结果之后,该方法还包括:绘制产品缺陷图,产品缺陷图中标注有经规则引擎保留的缺陷及其缺陷类型;以及对产品缺陷图进行显示处理,使得其中不同缺陷类型对应图像区域设有不同的第一可视化标识,和/或保留的缺陷和过滤的缺陷对应图像区域设有不同的第二可视化标识。

8、在一些实施例中,其中利用规则引擎处理缺陷检测结果包括:将待测产品划分为若干待过滤分区;以及利用规则引擎处理若干待过滤分区的缺陷检测结果。

9、在一些实施例中,其中在将过滤逻辑树关联产品的型号并存储之后,该方法还包括:响应于产品升级,更新产品的型号对应的过滤逻辑树,其中更新内容包括:叶子节点关联的缺陷类型、叶子节点关联的缺陷属性、叶子节点关联的属性阈值、父节点关联的逻辑关系和/或过滤逻辑树的结构。

10、在第二方面中,本披露提供一种电子设备包括:处理器;以及存储器,其存储有可执行的程序指令,当程序指令由处理器执行时,使得设备实现根据第一方面任意一项的方法。

11、在第三方面中,本披露提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机可读指令,该计算机可读指令被一个或多个处理器执行时,实现如第一方面任意一项的方法。

12、通过如上所提供的用于缺陷过滤的方法,本披露实施例通过将缺陷过滤参数关联至过滤逻辑树的各叶子节点并利用过滤逻辑树中各叶子节点的父节点关联的逻辑关系,将各缺陷过滤参数结合形成缺陷过滤所需的逻辑组合,从而使得多样化的缺陷过滤参数能够联合形成具有针对性的过滤条件。通过加载该过滤逻辑树能够指导规则引擎根据其提供的过滤条件对缺陷检测结果进行识别并过滤,从而作出更加精准的决策,保留真实缺陷,过滤掉存在过检风险的缺陷检测结果。

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【技术保护点】

1.一种用于缺陷过滤的方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述缺陷过滤参数包括:缺陷类型、缺陷属性及其对应的属性阈值,在所述过滤逻辑树中,每一叶子节点关联一个缺陷类型及该缺陷类型的一个缺陷属性的属性阈值,所述父节点关联的逻辑关系包括:与关系、或关系和/或非关系。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,其中在利用所述规则引擎处理缺陷检测结果之前,所述方法还包括:

4. 根据权利要求2所述的方法,其特征在于,其中在获取过滤逻辑树之前,所述方法还包括:

5. 根据权利要求4所述的方法,其特征在于,其中获取过滤逻辑树包括:

6. 根据权利要求1所述的方法,其特征在于,其中在利用所述规则引擎处理缺陷检测结果之后,所述方法还包括:

7. 根据权利要求1所述的方法,其特征在于,其中利用所述规则引擎处理缺陷检测结果包括:

8.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,其中在将所述过滤逻辑树关联所述产品的型号并存储之后,所述方法还包括:

9. 一种电子设备,其特征在于,包括:

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,其上存储有计算机可读指令,该计算机可读指令被一个或多个处理器执行时,实现如权利要求1-8任意一项所述的方法。

...

【技术特征摘要】

1.一种用于缺陷过滤的方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述缺陷过滤参数包括:缺陷类型、缺陷属性及其对应的属性阈值,在所述过滤逻辑树中,每一叶子节点关联一个缺陷类型及该缺陷类型的一个缺陷属性的属性阈值,所述父节点关联的逻辑关系包括:与关系、或关系和/或非关系。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,其中在利用所述规则引擎处理缺陷检测结果之前,所述方法还包括:

4. 根据权利要求2所述的方法,其特征在于,其中在获取过滤逻辑树之前,所述方法还包括:

5. 根据权利要求4所述的方法,其特征在于,其...

【专利技术属性】
技术研发人员:请求不公布姓名请求不公布姓名请求不公布姓名
申请(专利权)人:高视科技苏州股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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