【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片验证，尤其涉及一种用于gpu联合仿真的参考模型的功能覆盖率获取系统。
技术介绍
1、在图形处理器(graphics processing unit，简称gpu)联合仿真的过程中，需要将待测设计(design under test，简称dut)和参考模型(reference model)对应的输出进行比对，实现对gpu芯片的验证。因此，dut和参考模型的代码本身的正确性直接影响gpu芯片验证的结果。dut由硬件描述语言(register transistor level，简称rtl)编写，dut的代码覆盖率可以直接基于现有的电子设计自动化(electronic design automation，简称eda)工具来搜集。gpu联合仿真的参考模型通常基于高级语言编写，且参考模型的输入的激励是与dut相同的激励，现有技术中只能够获取rtl代码的功能覆盖率，还无法实现获取gpu联合仿真的参考模型的功能覆盖率。由此可知，如何准确获取gpu联合仿真的参考模型的功能覆盖率成为亟待解决的技术问题。
技术实现思路
1、本专利技术目的在于，提供一种用于gpu联合仿真的参考模型的功能覆盖率获取系统，准确获取gpu联合仿真的参考模型的功能覆盖率。
2、本专利技术提供了一种用于gpu联合仿真的参考模型的功能覆盖率获取系统，所述系统包括参考模型的源代码文件库、预先编写的c++静态库、功能覆盖率数据库、存储有计算机程序的存储器和处理器；所述参考模型的源代码文件库中存储有{f1，f2
3、步骤c1、基于fi对应的功能覆盖率获取需求，调用所述c++静态库中的一个或多个类进行实例化，生成fi对应的功能覆盖率获取头文件hi；
4、步骤c2、将hi插入fi中，调用所述采样类在gxi处设置对应的采样实例spxi；
5、步骤c3、基于spxi获取采样参数，传递给hi中进行功能覆盖检测，生成spxi对应的功能检测结果；
6、步骤c4、将所有spxi对应的功能检测结果存储至所述功能覆盖率数据库，基于所述功能覆盖率数据库生成参考模型的功能覆盖率。
7、本专利技术与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。借由上述技术方案，本专利技术提供的一种用于gpu联合仿真的参考模型的功能覆盖率获取系统可达到相当的技术进步性及实用性，并具有产业上的广泛利用价值，其至少具有下列优点：
8、专利技术所述系统通过预先编写的c++静态库，定义覆盖组类、覆盖点类、交叉覆盖类、仓类、排除类、采样类，基于c++静态库在参考模型的源代码文件中添加功能覆盖率获取头文件，并在目标功能点设置采样实例，并生成功能覆盖率数据库，基于功能覆盖率数据库生成参考模型的功能覆盖率，进而提高了gpu芯片验证的准确性。
9、上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图,详细说明如下。
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1.一种用于GPU联合仿真的参考模型的功能覆盖率获取系统，其特征在于，
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，
3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，
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6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，
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9.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，
10.根据权利要求9所述的系统，其特征在于，
【技术特征摘要】
1.一种用于gpu联合仿真的参考模型的功能覆盖率获取系统，其特征在于，
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，
3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，
4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，
5.根据权利要求1所述的系统，其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，
申请(专利权)人：沐曦集成电路上海有限公司，
类型：发明
国别省市：
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