【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及图像平场校正，具体涉及一种平场校正方法及系统。
技术介绍
1、荧光切片扫描仪是一种基于荧光显微原理的切片扫描仪系统。与传统显微镜不同的是，扫描仪会将选定区域的所有视野拼接成一整张大图，方便医生浏览和诊断。然而，显微系统的特性会导致单视野图像出现中间亮、四周暗的情况。当这些视野的图像被拼接在一起时，整个图像就会非常不美观，同时也会影响医生的诊断分析。
2、在荧光扫描中，由于暗场拍摄的原因，明场的平场校正方法很难进行高质量的校正。同时，不同的荧光切片和不同的曝光时间也会影响平场校正的性能。
3、现有技术中，荧光切片扫描仪的平场校正为根据每次扫描的所有图像计算光场分布，计算完成后再对所有图像进行补偿。然而，这种方法需要获取当次扫描的所有图像并进行计算，这会产生不必要的计算开销。此外，在组织的面积很小时，由于无法获取足够的信息，计算的光场信息可能不准确。
4、或者事先保存一批模板，每次扫描都使用这套模板。然而，这种方法在不同荧光通道或同一荧光通道不同曝光时长时，光场信息会发生变化。因此，应用同一套模板就会不够准确。
技术实现思路
1、针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种平场校正方法及系统。
2、具体技术方案如下：一种平场校正方法，应用于荧光显微图像；
3、其中，预先设置有一补光仓库，所述补光仓库中包括多个用于对荧光扫描仪进行平场校正的数据模板，每个所述数据模板具有设定好的标准扫描参数；
4、则所述方法
5、步骤s1：于所述补光仓库中查找是否存在有所述数据模板的标准扫描参数与需要获取的所述荧光显微图像的实际扫描参数相匹配：
6、若存在，则调用相匹配的所述数据模板对所述荧光显微图像进行平场校正，随后退出；
7、若不存在，则转向步骤s2；
8、步骤s2：对所述荧光显微图像进行扫描，并得到所述荧光显微图像的补光数据，根据所述补光数据对所述荧光显微图像进行平场校正，随后退出。
9、优选的，所述标准扫描信息包括执行扫描的标准通道号以及标准曝光时间；
10、则所述步骤s1包括：
11、步骤s11：获取本次执行扫描所述荧光显微图像的实际通道号，以及对应于所述通道号的实际曝光时间；
12、步骤s12：判断是否存在有所述数据模板的所述标准通道号与所述实际通道号相同：
13、若存在，则将相匹配的所有所述数据模板记为第一模板，随后转向步骤s13；
14、若不存在，则转向所述步骤s2；
15、步骤s13：判断是否存在有所述第一模板的所述标准曝光时间与所述实际曝光时间相同：
16、若存在，则调用相匹配的所述第一数据模板对所述荧光显微图像进行平场校正，随后退出；
17、若不存在，则转向步骤s14；
18、步骤s14：调用与所述实际曝光时间相距最近的所述标准曝光时间所对应的所述第一数据模板对所述荧光显微图像进行平场校正，随后退出。
19、优选的，预先设置曝光时间标准集合，所述曝光时间标准集合中包括多个离散的自然数；
20、所述数据模板的所述标准曝光时间为所述曝光时间标准集合中的其中一个自然数。
21、优选的，所述步骤s2中，所述补光数据根据扫描所述荧光显微图像得到的背景图和前景图计算得到。
22、优选的，所述步骤s2中，根据所述补光数据对所述荧光显微图像进行平场校正的方法包括：
23、步骤s21：采用所述补光数据对所述荧光显微图像进行平常校正，得到校正后图像；
24、步骤s22：根据所述校正后图像判断本次补光数据是否有效：
25、若是，则转向步骤s23；
26、若否，则退出；
27、步骤s23：于所述补光仓库中查找是否存在有所述数据模板的标准扫描参数与所述校正后图像的实际扫描参数相匹配：
28、若存在，则转向步骤s24；
29、若不存在，则将所述校正后图像作为所述数据模板补充至所述补光仓库中，随后退出；
30、步骤s24：调用相匹配的所述数据模板与所述校正后图像进行平均处理，将平均处理的结果作为所述数据模板补充至所述补光仓库中，随后退出。
31、优选的，所述步骤s22中，根据以下公式判断所述补光数据是否有效：
32、
33、其中，r为有效率；
34、将所述校正后图像的前景图中的像素的灰度值与所述校正后图像的背景图中同一像素位置上的像素的灰度值进行比较，得到灰度差值，nva用于表示所述灰度差值不小于预设的灰度差值阈值的像素的数量；
35、nall为所述校正后图像的前景图中的像素的总数量；
36、则所述步骤s22中，当有效率不小于预设的有效率阈值时，判断本次补光数据有效。
37、一种平场校正系统，应用于荧光显微图像；其中，通过上述任意一项所述的平场校正方法对对荧光扫描仪进行平场校正；
38、预先设置有一补光仓库，所述补光仓库中包括多个用于对荧光扫描仪进行平场校正的数据模板，每个所述数据模板具有设定好的标准扫描参数；
39、则所述系统包括：
40、匹配单元，所述匹配单元用于于所述补光仓库中查找是否存在有所述数据模板的标准扫描参数与需要获取的所述荧光显微图像的实际扫描参数相匹配，并输出第一判断结果：
41、只有当所述第一判断结果为所述补光仓库中存在有所述数据模板的标准扫描参数与需要获取的所述荧光显微图像的实际扫描参数相匹配时，所述第一处理单元用于调用相匹配的所述数据模板对所述荧光显微图像进行平场校正，随后退出；
42、第一处理单元，连接所述匹配单元，当所述第一判断结果为所述补光仓库中不存在有所述数据模板的标准扫描参数与需要获取的所述荧光显微图像的实际扫描参数相匹配时，所述第一处理单元用于对所述荧光显微图像进行扫描，并得到所述荧光显微图像的补光数据，根据所述补光数据对所述荧光显微图像进行平场校正，随后退出。
43、优选的，所述标准扫描信息包括执行扫描的标准通道号以及标准曝光时间；
44、则所述匹配单元包括：
45、获取模块，用于获取本次执行扫描所述荧光显微图像的实际通道号，以及对应于所述通道号的实际曝光时间；
46、第一判断模块，连接所述获取模块用于判断是否存在有所述数据模板的所述标准通道号与所述实际通道号相同，并输出第二判断结果：
47、并当所述第二判断结果为不存在有所述数据模板的所述标准通道号与所述实际通道号相同时，输出所述第一判断结果为所述补光仓库中不存在有所述数据模板的标准扫描参数与需要获取的所述荧光显微图像的实际扫描参数相匹配；
48、第二判断模块，连接所述第一判断模块，当所述第二判断结果为所述第二判断结果为不存在有所述数据模板的所述标准通本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种平场校正方法，应用于荧光显微图像；其特征在于，预先设置有一补光仓库，所述补光仓库中包括多个用于对荧光扫描仪进行平场校正的数据模板，每个所述数据模板具有设定好的标准扫描参数；
2.根据权利要求1所述的平场校正方法，其特征在于，所述标准扫描信息包括执行扫描的标准通道号以及标准曝光时间；
3.根据权利要求2所述的平场校正方法，其特征在于，预先设置曝光时间标准集合，所述曝光时间标准集合中包括多个离散的自然数；
4.根据权利要求1所述的平场校正方法，其特征在于，所述步骤S2中，所述补光数据根据扫描所述荧光显微图像得到的背景图和前景图计算得到。
5.根据权利要求4所述的平场校正方法，其特征在于，所述步骤S2中，根据所述补光数据对所述荧光显微图像进行平场校正的方法包括：
6.根据权利要求5所述的平场校正方法，其特征在于，所述步骤S22中，根据以下公式判断所述补光数据是否有效：
7.一种平场校正系统，应用于荧光显微图像；其特征在于，通过如上述权利要求1-6中任意一项所述的平场校正方法对对荧光扫描仪进行平场校正；>
8.根据权利要求7所述的平场校正系统，其特征在于，所述标准扫描信息包括执行扫描的标准通道号以及标准曝光时间；
9.根据权利要求8所述的平场校正系统，其特征在于，预先设置曝光时间标准集合，所述曝光时间标准集合中包括多个离散的自然数；
10.根据权利要求7所述的平场校正系统，其特征在于，所述第一处理单元中，所述补光数据根据扫描所述荧光显微图像得到的背景图和前景图计算得到。
...【技术特征摘要】
1.一种平场校正方法，应用于荧光显微图像；其特征在于，预先设置有一补光仓库，所述补光仓库中包括多个用于对荧光扫描仪进行平场校正的数据模板，每个所述数据模板具有设定好的标准扫描参数；
2.根据权利要求1所述的平场校正方法，其特征在于，所述标准扫描信息包括执行扫描的标准通道号以及标准曝光时间；
3.根据权利要求2所述的平场校正方法，其特征在于，预先设置曝光时间标准集合，所述曝光时间标准集合中包括多个离散的自然数；
4.根据权利要求1所述的平场校正方法，其特征在于，所述步骤s2中，所述补光数据根据扫描所述荧光显微图像得到的背景图和前景图计算得到。
5.根据权利要求4所述的平场校正方法，其特征在于，所述步骤s2中，根据所述补光数据对所述荧光显微图像进...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘炳宪，谢凯，丁科迪，谢菊元，王焱辉，王克惠，
申请(专利权)人：宁波江丰生物信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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