【技术实现步骤摘要】
本专利技术适用于射频通信，尤其涉及一种确定滤波器反射圆半径的方法、系统及相关设备。
技术介绍
1、声表面波滤波器（saw）是一种基于压电效应的滤波器，具有设计灵活性大、模拟、数字兼容、频率选择区间优良（10mhz-3ghz），可靠性高、体积小等优点，在射频通讯领域有广泛的用途。声表面波滤波器性能的一个重要指标就是反射，通常通过smith圆图（史密斯圆图）来查看反射的情况，smith圆图中的反射半径越小，代表滤波器的性能就越好。
2、在滤波器的优化过程中，为了提高优化的效率，需要快速、准确地计算得到smith圆的反射半径。现有方法用于计算滤波器smith圆反射圆半径的方法主要分为穷举法的迭代法，穷举法主要是通过穷举计算smith圆图中每两个点的距离，然后在结果中挑选出最大值；而迭代法主要通过先任意选取一个点，再依次计算与余下各个点的距离，同时记录下最大的值，再以得到的新的频点为基础重复之前的操作，当达到预先设定好的迭代次数时，将得到的结果作为最终的结果。
3、但上述方法在使用时会有一定问题：穷举法的问题是计算过程繁琐，一旦频点数数量大时，需要进行的计算次数多，花费时间长，假设有n个频点，则其时间复杂度为；而迭代法的问题主要是结果不是精确解，理论上每次迭代计算的计算结果都是不相同的，因为它是通过迭代比较的方式实现，而通常迭代次数是不会太高，必然不会覆盖全部频点，并且迭代次数的确定也是一个问题，毕竟频点的数量和位置都是随机的，这就导致迭代次数可能需要取不同的值，使得计算过程不明确。
1、本专利技术提供一种确定声表面波滤波器反射圆半径的方法、系统及相关设备，旨在解决现有反射圆半径计算方法过程复杂、结果不精确的问题。
2、为解决上述技术问题，第一方面，本专利技术提供一种确定滤波器反射圆半径的方法，包括以下步骤：
3、s101、根据滤波器的smith圆图确定s参数，并对s参数的分量中所有的频点进行统计，得到第一频点集合；
4、s102、将所述第一频点集合中的所有频点按照预设排序规则进行排序，得到第二频点集合，其中，在所述第二频点集合中标记基点p0；
5、s103、在所述第二频点集合中，根据所述基点p0与其他频点连线的斜率大小，对所有频点按照从小到大的顺序进行排序，其中，以所述基点p0作为第一位，得到第三频点集合；
6、s104、从所述第三频点集合中筛选出位于反射圆最外围的频点集合，得到第四频点集合；
7、s105、根据所述第四频点集合中的频点求取反射圆的最大反射半径dmax；
8、s106、根据所述最大反射半径dmax输出得到滤波器s参数的分量的反射圆半径r，满足：r=dmax/2。
9、更进一步地，步骤s101还包括步骤：
10、对s参数的分量中所有的频点进行统计，并按照频点数据的实部和虚部进行比较判断，将实部、虚部数据都相同的频点作为所述第一频点集合中的同一个频点。
11、更进一步地，所述预设排序规则具体为：
12、按照频点的实部数据的大小进行排序，得到具有实部最小值的第一频点子集合，之后，在所述第一频点子集合中按照频点的虚部数据的大小进行排序，得到所述第二频点集合，且得到具有虚部最小值的一个频点，并将虚部最小值的该频点作为所述基点p0。
13、更进一步地，步骤s104包括以下子步骤：
14、s1041、定义所述第三频点集合为[p0，p1，p2，…，pa]，其中a-1为所述第三频点集合中频点的数量；
15、s1042、定义pm=p0，pn=p1，pi=p2，其中，m、n、i为整数；
16、s1043、判断是否大于0，若是，则将pn对应的频点从所述第三频点集合中删除，并使pn=pi；若否，使pm=pn，pn=pi；
17、s1044、令i=i+1，若i=a，输出当前的所述第三频点集合作为所述第四频点集合，否则返回步骤s1043。
18、更进一步地，步骤s105包括以下子步骤：
19、s1051、定义所述第四频点集合为[p0，p1，p2，…，pb]，其中b-1为所述第四频点集合中频点的数量；
20、s1052、定义参数j=0，k=1，dmax=0；
21、s1053、获取所述第四频点集合中频点pj+1+k到直线pjpj+1的第一距离d1，以及所述第四频点集合中频点pj+1+k+1到直线pjpj+1的第二距离d2；
22、s1054、比较判断d1与d2的大小，若d1<d2，使k=k+1，执行步骤s1055；若d1>d2，输出dmax，结束步骤s105；
23、s1055、比较所述第四频点集合中频点pj+1+k分别到频点pi、频点pj+1的距离，取其中最大值作为比较距离d，并且若d>dmax，则使dmax=d，j=j+1，返回步骤s1053。
24、第二方面，本专利技术还提供一种确定滤波器反射圆半径的系统，包括：
25、频点统计模块，用于根据滤波器的smith圆图确定s参数，并对s参数的分量中所有的频点进行统计，得到第一频点集合；
26、频点选取模块，用于将所述第一频点集合中的所有频点按照预设排序规则进行排序，得到第二频点集合，其中，在所述第二频点集合中标记基点p0；
27、频点排序模块，用于在所述第二频点集合中，根据所述基点p0与其他频点连线的斜率大小，对所有频点按照从小到大的顺序进行排序，其中，以所述基点p0作为第一位，得到第三频点集合；
28、频点筛选模块，用于从所述第三频点集合中筛选出位于反射圆最外围的频点集合，得到第四频点集合；
29、计算模块，用于根据所述第四频点集合中的频点求取反射圆的最大反射半径dmax；
30、输出模块，用于根据所述最大反射半径dmax输出得到滤波器s参数的分量的反射圆半径r，满足：r=dmax/2。
31、更进一步地，所述频点筛选模块具体用于执行以下步骤：
32、s1041、定义所述第三频点集合为[p0，p1，p2，…，pa]，其中a-1为所述第三频点集合中频点的数量；
33、s1042、定义pm=p0，pn=p1，pi=p2，其中，m、n、i为整数；
34、s1043、判断是否大于0，若是，则将pn对应的频点从所述第三频点集合中删除，并使pn=pi；若否，使pm=pn，pn=pi；
35、s1044、令i=i+1，若i=a，输出当前的所述第三频点集合作为所述第四频点集合，否则返回步骤s1043。
36、更进一步地，所述计算模块具体用于执行以下步骤：
37、s1051、定义所述第四频点集合为[p0，p1，p2，…，pb]，其中b-1为所述第四频点集合中频点的数量；
38、s1052、定义参数j=0，k=1，dmax本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种确定滤波器反射圆半径的方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的确定滤波器反射圆半径的方法，其特征在于，步骤S101还包括步骤：
3.如权利要求1所述的确定滤波器反射圆半径的方法，其特征在于，所述预设排序规则具体为：
4.如权利要求1所述的确定滤波器反射圆半径的方法，其特征在于，步骤S104包括以下子步骤：
5.如权利要求1所述的确定滤波器反射圆半径的方法，其特征在于，步骤S105包括以下子步骤：
6.一种确定滤波器反射圆半径的系统，其特征在于，包括：
7.如权利要求6所述的确定滤波器反射圆半径的系统，其特征在于，所述频点筛选模块具体用于执行以下步骤：
8.如权利要求6所述的确定滤波器反射圆半径的系统，其特征在于，所述计算模块具体用于执行以下步骤：
9.一种计算机设备，其特征在于，包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的确定滤波器反射圆半径的程序，所述处理器执行所述确定滤波器反射圆半径的程序时实现如权利要求1-5中任意一项所述的确定滤波器反
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有确定滤波器反射圆半径的程序，所述确定滤波器反射圆半径的程序被处理器执行时实现如权利要求1-5中任意一项所述的确定滤波器反射圆半径的方法中的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种确定滤波器反射圆半径的方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的确定滤波器反射圆半径的方法，其特征在于，步骤s101还包括步骤：
3.如权利要求1所述的确定滤波器反射圆半径的方法，其特征在于，所述预设排序规则具体为：
4.如权利要求1所述的确定滤波器反射圆半径的方法，其特征在于，步骤s104包括以下子步骤：
5.如权利要求1所述的确定滤波器反射圆半径的方法，其特征在于，步骤s105包括以下子步骤：
6.一种确定滤波器反射圆半径的系统，其特征在于，包括：
7.如权利要求6所述的确定滤波器反射圆半径的系统，其特征在于，所述频点筛...
【专利技术属性】
技术研发人员：袁军平，张磊，郭嘉帅，
申请(专利权)人：深圳飞骧科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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