System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种污染膜元件恢复方案的确定方法技术_技高网

一种污染膜元件恢复方案的确定方法技术

技术编号:41736140 阅读:11 留言:0更新日期:2024-06-19 12:55
本发明专利技术涉及一种污染膜元件恢复方案的确定方法,该确定方法的建立包含以下步骤:待测膜元件表观分析,取样切片,清洗试验,性能测试,依据性能测试结果,选取最优的化学清洗条件。此方法针对待测膜组件构建了完整的膜污染恢复确定体系,可为待测膜系统的清洗恢复提供有力支持。特别是在大型膜系统工程中,可提前判断膜污染特征,确定膜清洗方案,实现膜污染的高效恢复,减少膜系统的维护成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及膜技术应用领域,尤其是涉及一种污染膜元件恢复方案的确定方法


技术介绍

1、膜具有选择透过性,利用膜的这一特性可以实现不同物料组分的分离、浓缩及纯化。近年来,随着膜技术的发展,膜的应用愈加广泛。在水处理领域,膜技术作为净化分离水体污染物的重要手段而备受关注。利用膜的强制截流作用,可以有效的实现污水中细菌、病毒、胶体、颗粒物及盐分的筛分去除。在此过程中,分离物会被膜以表面截留、膜孔吸附及孔内沉积等多种方式拦截,造成膜污染问题,进而影响膜的分离传质效率。

2、膜污染一般可分为有机污染、无机污染和微生物污染。水体中的溶解性有机物(dom)在分离过程中附着于膜表面,形成的有机质层为微生物提供了生长基质,并且可以作为微生物及无机污染物附着的粘合剂。微生物利用这些有机质生长代谢,逐渐在膜表面聚集并释放胞外聚合物,形成致密的微生物污染层。无机污染则主要是以无机胶体、微粒及金属盐结垢为主,水中存在的金属阳离子,可以降低表面电荷,在膜表面和dom间形成分子架桥,从而加速dom的附着沉积。各类型的膜污染物在一定时空内交错分布,互相影响,并以复合污染的形式存在。其污染机制复杂,很多情况下难以判断,由此引发的膜清洗维护问题,很大程度上限制了膜技术应用的进一步发展。

3、在实际应用中,膜污染的恢复主要是以化学清洗为主,一般采取定时或者以膜系统运行压力、出水水质等参数作为清洗的依据。在大型膜系统工程中,往往是根据水质类型设置固定的清洗模式及频率,缺乏对污染物组分、分布特性的判断及体系化的清洗恢复方案的确定方法,导致在控制膜污染的过程中存在一定的盲目性,造成了资源和能源的浪费,无形中提高了运行成本,难以指导实践中膜污染的清洗恢复。


技术实现思路

1、针对现有技术的不足,本专利技术旨在提供一种污染膜元件恢复方案的确定方法,通过对待测膜元件进行表观分析和元素分析,识别污染物的组分及分布特征,揭示膜污染的形成机理。基于识别结果对待测膜元件开展多种条件下的清洗试验,最终通过性能测试,全面评估膜污染的恢复效果,确定最优控制方案,实现膜污染的高效控制。

2、本专利技术的目的可以通过以下技术方案来实现:

3、本专利技术提供一种污染膜元件恢复方案的确定方法,包括原水箱、产水箱、产水泵、压力表及调节阀,其中:

4、所述产水泵的进水口连接进水管,所述进水管末端连接待测膜元件,所述测膜元件放置在原水箱中,所述进水管上设置有压力表、进水调节阀;所述产水泵的出水口通过出水管连接至产水箱,所述出水管上设置有流量计、出水调节阀。

5、所述确定方法包括如下步骤:

6、s1:待测膜元件表观分析:观察待测膜元件表面,结合跨膜压差数据判断污染程度,若跨膜压差在0~30kpa,则为一般污染;若跨膜压差超过30kpa,则为严重污染。

7、s2:待测膜元件元素分析:从待测膜元件上取样,对膜元件进行形貌及元素分析,表征膜污染的污染元素及空间分布,确定膜污染的种类及成因;

8、s3:待测膜元件恢复清洗试验:结合步骤s1得出的膜污染程度和步骤s2得出的膜污染种类,确定清洗方案,针对性的选取酸性清洗试剂、碱性清洗试剂及氧化性清洗试剂,得到清洗完成后的膜元件;

9、s4:膜元件性能恢复测试:对步骤s3得到的清洗完成后的膜元件进行性能恢复测试,在所述原水箱内装满纯水,完全淹没待测膜元件,打开进水调节阀、出水调节阀,开启产水泵,通过调节进水调节阀至运行压力达到预期值(通过调节进水调节阀至运行压力达到设定值12kpa,30kpa),分别读取流量计的数值,根据待测膜元件的面积a计算出过滤通量,进而得到膜元件通量恢复率;当膜元件通量恢复率≥95%,认为清洗效果较好;根据上述性能测试结果,确认最优清洗方案。

10、进一步地,步骤s4中所述的过滤通量通过以下公式确定:

11、

12、其中,j为过滤通量(l·(m2·h)-1),v为通过待测膜元件产生的纯水体积(m3),a为待测膜元件过滤面积(m2),t为过滤时间(h)。

13、进一步地,步骤s4中所述的膜元件通量恢复率通过以下公式确定:

14、

15、其中,s为膜元件通量恢复率;jc为未污染膜元件过滤通量(取相同面积未污染膜元件,通过上述步骤计算得到过滤通量);jw为清洗后膜元件过滤通量(通过上述步骤计算得到过滤通量)。

16、进一步地,步骤s2中所述形貌及元素分析的方法,包括扫描电子显微镜、透射电子显微镜、x射线电子能谱仪以及x射线能谱分析仪中的一种或多种组合,用于表征膜元件的微观形貌,确定膜污染的分布特征,对污染元素的空间分布及种类进行综合分析。

17、进一步地,步骤s3中所述的酸性清洗试剂以及碱性清洗剂的浓度范围为0.5%~5%,所述是氧化性清洗剂浓度为0.3%~1%。

18、进一步地,步骤s3中所述的清洗方案包括酸性清洗试剂、碱性清洗剂、氧化性清洗剂中的一种或多种;根据元素分析确认的污染物成分,若为有机物成份污染,则采用碱性清洗剂和氧化性清洗剂清洗;若为金属离子成分污染,则采用酸性清洗试剂。

19、更进一步地,所述的酸性清洗试剂选自柠檬酸溶液、草酸溶液、盐酸溶液中的一种或多种。

20、更进一步地,所述的碱性清洗剂选自氢氧化钠溶液;所述的氧化性清洗剂选自次氯酸钠溶液。

21、进一步地,所述的膜元件包括中空纤维膜和平板膜。

22、与现有技术相比,本专利技术的有益效果在于:

23、通过对待测膜元件进行表观分析和元素分析,识别污染物的组分及分布特征,揭示膜污染的形成机理。基于识别结果对待测膜元件进行多种条件下清洗试验,最终通过性能测试,全面评估膜污染的恢复效果,确定最优控制方案,实现膜污染的高效控制。

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【技术保护点】

1.一种污染膜元件恢复方案的确定方法,其特征在于,包括原水箱、产水箱、产水泵、压力表及调节阀,其中:

2.根据权利要求1所述的一种污染膜元件恢复方案的确定方法,其特征在于,步骤S4中所述的预期值具体为通过调节进水调节阀至压力表所示压力达到12kpa或30kpa。

3.根据权利要求1所述的一种污染膜元件恢复方案的确定方法,其特征在于,步骤S4中所述的过滤通量通过以下公式确定:

4.根据权利要求1所述的一种污染膜元件恢复方案的确定方法,其特征在于,步骤S4中所述的膜元件通量恢复率通过以下公式确定:

5.根据权利要求1所述的一种污染膜元件恢复方案的确定方法,其特征在于,步骤S2中所述形貌及元素分析的方法,包括扫描电子显微镜、透射电子显微镜、X射线电子能谱仪以及X射线能谱分析仪中的一种或多种组合,用于表征膜元件的微观形貌,确定膜污染的分布特征,对污染元素的空间分布及种类进行综合分析。

6.根据权利要求1所述的一种污染膜元件恢复方案的确定方法,其特征在于,步骤S3中所述的酸性清洗试剂以及碱性清洗剂的浓度范围为0.5%~5%,所述氧化性清洗剂浓度为0.3%~1%。

7.根据权利要求1所述的一种污染膜元件恢复方案的确定方法,其特征在于,步骤S3中所述的清洗方案包括酸性清洗试剂、碱性清洗剂、氧化性清洗剂中的一种或多种;根据元素分析确认的污染物成分,若为有机物成份污染,则采用碱性清洗剂和氧化性清洗剂清洗;若为金属离子成分污染,则采用酸性清洗试剂。

8.根据权利要求7所述的一种污染膜元件恢复方案的确定方法,其特征在于,所述的酸性清洗试剂选自柠檬酸溶液、草酸溶液、盐酸溶液中的一种或多种。

9.根据权利要求7所述的一种污染膜元件恢复方案的确定方法,其特征在于,所述的碱性清洗剂选自氢氧化钠溶液;所述的氧化性清洗剂选自次氯酸钠溶液。

10.根据权利要求1所述的一种污染膜元件恢复方案的确定方法,其特征在于,所述的膜元件包括中空纤维膜和平板膜。

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【技术特征摘要】

1.一种污染膜元件恢复方案的确定方法,其特征在于,包括原水箱、产水箱、产水泵、压力表及调节阀,其中:

2.根据权利要求1所述的一种污染膜元件恢复方案的确定方法,其特征在于,步骤s4中所述的预期值具体为通过调节进水调节阀至压力表所示压力达到12kpa或30kpa。

3.根据权利要求1所述的一种污染膜元件恢复方案的确定方法,其特征在于,步骤s4中所述的过滤通量通过以下公式确定:

4.根据权利要求1所述的一种污染膜元件恢复方案的确定方法,其特征在于,步骤s4中所述的膜元件通量恢复率通过以下公式确定:

5.根据权利要求1所述的一种污染膜元件恢复方案的确定方法,其特征在于,步骤s2中所述形貌及元素分析的方法,包括扫描电子显微镜、透射电子显微镜、x射线电子能谱仪以及x射线能谱分析仪中的一种或多种组合,用于表征膜元件的微观形貌,确定膜污染的分布特征,对污染元素的空间分布及种类进行综合分析。

6.根据权利要求1所述的一...

【专利技术属性】
技术研发人员:林兴周婧顾跃雷付怡然熊泰丁振杰王龙
申请(专利权)人:核工业第八研究所
类型:发明
国别省市:

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