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用于在基板上的无掩模光刻术的实时自动聚焦制造技术

技术编号:41727296 阅读:15 留言:0更新日期:2024-06-19 12:50
本文所论述的系统和方法的实施方式通过预处理经由成像系统的通道接收的图像数据来使成像设备自动聚焦,所述成像系统包括激光束和传感器,所述传感器被配置为当在跨基板的像素级应用中跨基板施加激光束时,接收图像数据。所述基板可包括光刻胶和金属材料两者,并且所述传感器所接收的所述图像包括来自所述金属材料的噪声。在所述图像数据的预处理期间,确定要从所述图像数据去除的噪声百分比,并且对图像数据进行滤波。针对每个通道计算所述基板的质心,并且确定用于曝光的聚焦偏差。可使用一个或多个滤波机制来组合多个质心,并且所述成像系统可通过在一个或多个方向中移动工作台和/或曝光源而在曝光位置自动聚焦。

【技术实现步骤摘要】

领域本公开内容的实施方式总体涉及用于处理一个或多个基板的设备、系统和方法,并且更特别地涉及用于执行光刻工艺(photolithography process)的设备、系统和方法。相关技术的说明光刻术广泛地使用于制造半导体装置和显示器装置,例如液晶显示器(lcd)。经常在lcd制造中利用大面积基板。lcd,或者平面面板通常用于有源矩阵显示器,例如计算机、触摸面板装置、个人数字助理(pda)、移动电话、电视监视器和类似物。一般来说,平面面板可包括液晶材料层,液晶材料层形成夹置于两个板之间的像素。当跨液晶材料施加来自电源的功率时,可在像素位置处控制通过液晶材料的光量而能够产生图像。已经采用微光刻术技术来产生电特征,电特征合并成形成像素的液晶材料层的部分。根据这些技术,将光敏光刻胶施加于基板的至少一个表面。接着,图案产生器利用光来曝光光敏光刻胶的选择区域以作为图案的部分,以使在选择区域中的光刻胶的化学改变为了后续的材料移除和/或材料添加工艺而准备这些选择区域,以产生电特征。在光刻术期间图案化的基板可跨基板具有厚度的变化,此厚度的变化大于微光刻术系统的自由度。这可致使系统相对于基板焦距未对准,并且导致在显示器中的一个或多个像素的模糊,而产生显示器中的云纹(mura)或其他不希望的影响。为了持续提供消费者所需价位的显示装置和其他装置,需要新的设备和方法来精确并且有成本效益地在基板上产生图案,例如是在大面积基板上产生图案,新的设备和方法包括在曝光基板之前,用于成像设备的实时自动聚焦的设备和方法。概述在一个实施方式中,一种图案化基板的方法,包括:当基板相对于成像设备的曝光源位于成像设备中的工作台上的初始位置时,跨基板施加多个激光束,基板包括光刻胶和金属材料;响应于施加多个激光束,通过耦接到成像设备的多个传感器接收多个像素的每个像素的多个图像;和响应于将多个激光束施加至基板的金属材料,确定用于多个像素的每个像素的从每个传感器接收的多个图像中的噪声百分比。另外,在实施方式中,所述方法包括:从用于多个像素的每个像素的来自每个传感器的图像滤波掉噪声百分比;接着,基于多个图像,计算基板的质心;基于针对多个传感器的每个传感器的质心的计算,确定聚焦偏差;和将基板从初始位置调整到曝光位置,曝光位置不同于初始位置,并且调整曝光源将曝光源自动聚焦于基板上。在一个替代实施方式中,一种图案化基板的方法,包括:在成像设备中定位基板,基板包括光刻胶和金属材料,基板相对于成像设备的曝光源定位于成像设备中的工作台上的初始位置;通过存储于服务器的非暂时性存储器上并且由处理器可执行的应用,确定用于成像设备的曝光位置,此确定曝光位置包括:将多个激光束施加至多个像素的每个像素;响应于施加多个激光束,通过耦接到成像设备的多个传感器来接收来自多个像素的每个像素的多个图像;确定用于多个像素的每个像素的每个传感器的多个图像的噪声百分比;和从来自用于多个像素的每个像素的每个传感器的多个图像滤波掉噪声百分比;接着,计算用于多个传感器的每个传感器的基板的质心;基于用于多个传感器的每个传感器的质心的计算,确定聚焦偏差;组合用于每个传感器的每个质心;和基于此组合和聚焦偏差,确定曝光源的曝光位置。另外,在实施方式中,所述方法包括通过此应用,将工作台或曝光源的至少一者从初始位置调整到曝光位置,曝光位置不同于初始位置,并且调整曝光源将曝光源自动聚焦于基板上。在一个实施方式中,一种非暂时性计算机可读介质,包括指令,这些指令被配置为使计算系统执行:确定用于成像设备的曝光位置,此确定曝光位置包括:将多个激光束施加到基板的多个像素的每个像素;响应于施加多个激光束,通过耦接到成像设备的多个传感器来接收来自多个像素的每个像素的多个图像;确定用于多个像素的每个像素的每个传感器的多个图像的噪声百分比;从来自用于多个像素的每个像素的每个传感器的多个图像滤波掉噪声百分比;接着,计算用于多个传感器的每个传感器的基板的质心;基于用于多个传感器的每个传感器的质心的计算,确定聚焦偏差;组合用于每个传感器的每个质心;和基于此组合和聚焦偏差,确定曝光源的曝光位置。另外,在实施方式中,从初始位置将基板调整到曝光位置,曝光位置不同于初始位置,并且曝光源的此调整将曝光源自动聚焦于基板上。


技术介绍

0、背景


技术实现思路

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种将基板图案化的方法,所述方法包括:

2.如权利要求1所述的方法,其中确定所述曝光位置包括:

3.如权利要求1所述的方法,进一步包括:

4.如权利要求1所述的方法,其中在所述多个像素的每个像素的所述多个图像中的所述噪声百分比与所述基板的所述金属材料反射的所述多个激光束相关联。

5.如权利要求3所述的方法,其中所述噪声百分比在从1%至30%的范围内。

6.如权利要求1所述的方法,其中将所述基板从所述初始位置调整到所述曝光位置包括:相对于所述成像设备移动所述工作台。

7.如权利要求1所述的方法,其中将所述基板从所述初始位置调整到所述曝光位置包括:相对于所述工作台移动所述成像设备。

8.一种系统,包括:

9.如权利要求8所述的系统,其中为了确定所述曝光位置,所述控制器被配置为:

10.如权利要求8所述的系统,其中所述控制器被配置为:

11.如权利要求10所述的系统,其中在所述多个像素的每个像素的所述多个图像中的所述噪声百分比与所述基板的所述金属材料反射的所述多个激光束相关联。

12.如权利要求8所述的系统,其中为了将所述基板从所述初始位置调整到所述曝光位置,所述控制器被配置为相对于所述成像设备移动所述工作台。

13.如权利要求8所述的系统,其中为了将所述基板从所述初始位置调整到所述曝光位置,所述控制器被配置为相对于所述工作台移动所述成像设备。

14.如权利要求8所述的系统,其中所述曝光源包括多个固态发射器。

15.一种非暂时性计算机可读介质,包括指令,这些指令被配置为使得计算系统执行:

...

【技术特征摘要】

1.一种将基板图案化的方法,所述方法包括:

2.如权利要求1所述的方法,其中确定所述曝光位置包括:

3.如权利要求1所述的方法,进一步包括:

4.如权利要求1所述的方法,其中在所述多个像素的每个像素的所述多个图像中的所述噪声百分比与所述基板的所述金属材料反射的所述多个激光束相关联。

5.如权利要求3所述的方法,其中所述噪声百分比在从1%至30%的范围内。

6.如权利要求1所述的方法,其中将所述基板从所述初始位置调整到所述曝光位置包括:相对于所述成像设备移动所述工作台。

7.如权利要求1所述的方法,其中将所述基板从所述初始位置调整到所述曝光位置包括:相对于所述工作台移动所述成像设备。

8.一种系统,包括:

9.如权利要求8所述的系统,其...

【专利技术属性】
技术研发人员:戴安娜·瓦尔维德帕尼瓜张忠传林仁东顾铮米纳拉德查根·卫斯奴格伦·艾伦·戈麦斯
申请(专利权)人:应用材料公司
类型:发明
国别省市:

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