System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种电子设备稳定性的评估方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸_技高网

一种电子设备稳定性的评估方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:41721725 阅读:15 留言:0更新日期:2024-06-19 12:47
本公开提供了一种电子设备稳定性的评估方法、装置、设备及存储介质,所述方法包括:获取所述电子设备的稳定性测试信息,所述测试信息至少包括两种测试场景下的测试信息;基于异常类型对各个测试场景下的所述测试信息进行分类,得到与各个测试场景对应的多维度数据;基于每个测试场景下的多维度数据确定所述电子设备在每个测试场景下的第一稳定性分数;基于每个测试场景下的第一稳定性分数确定所述电子设备的稳定性评估分数。通过获取多个测试场景下的测试信息,依据这些测试信息进行单一测试场景的第一稳定性分数计算,再计算多个测试场景下的第二稳定性分数,从而量化多场景下电子设备的稳定性测试结果。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及电子设备性能测试的,尤其涉及一种电子设备稳定性的评估方法、装置、设备及存储介质


技术介绍

1、电子设备压力稳定性测试旨在验证电子设备系统在高负载下的可靠性和稳定性,测试场景包括睡眠测试(s3)、休眠测试(s4)、现代待机(modern standby,ms)、冷启动(coldboot,cb)、快速热启动(fb)、显示压力测试(3d mark)、压力并行测试(burnin)、高温测试(thermal)、网卡负载测试(net ping)等众多稳定性测试场景。

2、目前压力稳定性测试主要通故障率(failure rate,f/r)评估单一场景稳定性,因为稳定性测试涉及场景多,单一场景的故障率难以量化多场景下电子设备的稳定性测试结果。


技术实现思路

1、本公开提供了一种电子设备稳定性的评估方法、装置、设备及存储介质,以至少解决现有技术中存在的以上技术问题。

2、根据本公开的第一方面,提供了一种电子设备稳定性的评估方法,所述方法包括:

3、获取所述电子设备的稳定性测试信息,所述测试信息至少包括两种测试场景下的测试信息;

4、基于异常类型对各个测试场景下的所述测试信息进行分类,得到与各个测试场景对应的多维度数据;

5、基于每个测试场景下的多维度数据确定所述电子设备在每个测试场景下的第一稳定性分数;

6、基于每个测试场景下的第一稳定性分数确定所述电子设备的稳定性评估分数。

7、在一可实施方式中,所述测试信息包括测试数据和测试指标,所述测试指标与所述电子设备在相应测试场景下的性能关联。

8、在一可实施方式中,所述基于异常类型对各个测试场景下的所述测试信息进行分类前,该方法还包括:

9、清洗所述测试信息,所述清洗至少包括删除重复数据、补充缺失数据、数据校正中的一种。

10、在一可实施方式中,所述多维度数据包括测试结果数据、系统异常数据、性能指标数据、设备异常数据、事件捕获数据。

11、在一可实施方式中,所述基于每个测试场景下的多维度数据确定所述电子设备在每个测试场景下的第一稳定性分数,包括:

12、确定所述电子设备在相应测试场景下各个维度的目标区间值;

13、基于所述多维度数据确定所述电子设备在相应测试场景下各个维度的实际测试值;

14、基于所述目标区间值和所述实际测试值确定所述电子设备在相应测试场景下的第一稳定性分数。

15、在一可实施方式中,所述基于每个测试场景下的第一稳定性分数确定所述电子设备的稳定性评估分数,包括:

16、确定各个测试场景对应的场景权重;

17、基于所述场景权重和每个测试场景下的第一稳定性分数确定第二稳定性分数;

18、基于所述第二稳定性分数和最大的第一稳定性分数确定所述电子设备的稳定性评估分数。

19、在一可实施方式中,所述确定各个测试场景对应的场景权重,包括:

20、基于所述电子设备在不同测试场景下的使用频率确定各个测试场景对应的场景权重。

21、根据本公开的第二方面,提供了一种电子设备稳定性的评估装置,所述装置包括:

22、获取单元,用于获取所述电子设备的稳定性测试信息,所述测试信息至少包括两种测试场景下的测试信息;

23、分类单元,用于基于异常类型对各个测试场景下的所述测试信息进行分类,得到与各个测试场景对应的多维度数据;

24、第一稳定性分数确定单元,用于基于每个测试场景下的多维度数据确定所述电子设备在每个测试场景下的第一稳定性分数;

25、稳定性评估分数确定单元,用于基于每个测试场景下的第一稳定性分数确定所述电子设备的稳定性评估分数。

26、根据本公开的第三方面,提供了一种电子设备,包括:

27、至少一个处理器;以及

28、与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,

29、所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行本公开所述的方法。

30、根据本公开的第四方面,提供了一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质,所述计算机指令用于使所述计算机执行本公开所述的方法。

31、本公开提供的一种电子设备稳定性的评估方法、装置、设备及存储介质,通过获取电子设备的稳定性测试信息,其中测试信息至少包括两种测试场景下的测试信息;基于异常类型对各个测试场景下的测试信息进行分类,得到与各个测试场景对应的多维度数据;再基于每个测试场景下的多维度数据确定电子设备在每个测试场景下的第一稳定性分数;最后基于每个测试场景下的第一稳定性分数确定电子设备的第二稳定性分数。通过获取多个测试场景下的测试信息,依据这些测试信息进行单一测试场景的第一稳定性分数计算,再计算多个测试场景下的第二稳定性分数,从而量化多场景下电子设备的稳定性测试结果。

32、应当理解,本部分所描述的内容并非旨在标识本公开的实施例的关键或重要特征,也不用于限制本公开的范围。本公开的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种电子设备稳定性的评估方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试信息包括测试数据和测试指标,所述测试指标与所述电子设备在相应测试场景下的性能关联。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于异常类型对各个测试场景下的所述测试信息进行分类前,该方法还包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述多维度数据包括测试结果数据、系统异常数据、性能指标数据、设备异常数据、事件捕获数据。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于每个测试场景下的多维度数据确定所述电子设备在每个测试场景下的第一稳定性分数,包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于每个测试场景下的第一稳定性分数确定所述电子设备的稳定性评估分数,包括:

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述确定各个测试场景对应的场景权重,包括:

8.一种电子设备稳定性的评估装置,其特征在于,所述装置包括:

9.一种电子设备,其特征在于,包括:

10.一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机指令用于使所述计算机执行根据权利要求1-7中任一项所述的方法。

...

【技术特征摘要】

1.一种电子设备稳定性的评估方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试信息包括测试数据和测试指标,所述测试指标与所述电子设备在相应测试场景下的性能关联。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于异常类型对各个测试场景下的所述测试信息进行分类前,该方法还包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述多维度数据包括测试结果数据、系统异常数据、性能指标数据、设备异常数据、事件捕获数据。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于每个测试场景下的多维度数...

【专利技术属性】
技术研发人员:越世龙周华马超黄新建王兴光
申请(专利权)人:合肥联宝信息技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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