System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种射频电缆组件高温测试方法技术_技高网

一种射频电缆组件高温测试方法技术

技术编号:41718327 阅读:2 留言:0更新日期:2024-06-19 12:44
本发明专利技术公开了一种射频电缆组件高温测试方法包括如下步骤:S1:检查高温装置气密性;S2:将转接线一端与高温装置密封连接后,对高温装置进行真空处理;S3:待高温装置处于真空状态时,将转接线另一端与检测装置连接并进行校准;S4:转接线校准完成后,打开高温装置后,在转接线处接入待测电缆后,再次进行密封及真空处理后进行测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及射频电缆的,尤其涉及一种射频电缆组件高温测试方法


技术介绍

1、射频作为一种无线通信技术,具有广泛的应用和重要性。因此,需要准确检测电缆在各种应用场景下的射频性能。目前现有技术中,检测电缆射频性能变化的装置只能用于常温状态下,无法对在高温尤其是在1000℃时的电缆进行射频性能检测。


技术实现思路

1、本专利技术要解决的技术问题是克服现有射频电缆组件在高温下无法测试其性能的技术问题,提供了一种射频电缆组件高温测试方法。

2、本专利技术是通过如下技术方案来解决上述技术问题:

3、一种射频电缆组件高温测试方法,包括高温装置、检测装置及转接线,所述高温装置包括第一开口和第二开口;所述射频电缆组件高温测试方法包括射频电缆组件高温测试装置,所述射频电缆组件高温测试方法包括如下步骤:

4、s1:检查所述高温装置气密性;

5、s2:将所述转接线一端与所述高温装置密封连接后,对高温装置进行真空处理;

6、s3:待高温装置处于真空状态时,将转接线另一端与所述检测装置连接并进行校准;

7、s4:转接线校准完成后,打开高温装置后,在转接线处接入待测电缆后,再次进行密封及真空处理后进行测试。

8、优选地,在所述s1步骤中,还包括:

9、s11:在高温装置第一开口通过法兰连接真空泵,第二开口通过法兰与气瓶连接以使所述高温装置通入惰性气体;

10、s12:开启真空泵将高温装置抽至真空状态,并保持一定时间观察高温装置压力变化情况;

11、s13:在s12压力无变化的情况下,通过第二开口输入惰性气体至1.3倍大气压状态,并保持一定时间观察高温装置压力变化情况。

12、在本方案中,如若两次气压均无变化,则证明高温装置的气密性良好。

13、优选地,在所述步骤s2中还包括:

14、s21:在高温装置第一开口和第二开口处密封接入相同长度的转接线后,开启真空泵将高温装置抽至真空状态;开启气瓶通入惰性气体;

15、本步骤进行多次循环,以使高温装置内氧气含量近乎为零的状态,且充满惰性气体。

16、在本方案中,通过循环通入惰性气体对高温装置进行清洗,可以保证高温装置内的氧气含量近乎为零的状态,且充满惰性气体,还能够防止高温气体扩散出来,保障测试人员安全。

17、优选地,所述s3步骤中,还包括:

18、s31:将转接线另一侧与检测装置连接,均匀升温至1000℃,保温0.5h后测试转接线的插入损耗值,记录为a;

19、s32:待高温装置自然冷却至室温后,再次均匀升至1000℃,保温0.5h后再次测试转接线的插入损耗值,记录为b。

20、s33:对比a和b,差值小于5%则检测装置校准完成。

21、优选地,所述步骤s4还包括:

22、s41:高温装置冷却至室温后,打开高温装置,并将待测电缆与转接线连接,第一开口和第二开口处的转接线在高温装置内的长度保持一致;并且与在s3步骤中转接线在高温装置内的长度保持一致;

23、s42:重复s31步骤,均匀升温至1000℃,保温0.5h后测试1000℃下测试转接线与待测电缆的总插入损耗值,记录为c;

24、s43:计算待测电缆的插入损耗值d,

25、本专利技术的积极效果在于:

26、通过高温测试装置以及耐高温转接线可以测试待测电缆在高达1000℃时的射频性能;通过先对高温装置气密性检查及真空处理后,再对转接线进行校准后进行待测电缆测试,可以减少待测电缆射频性能的数据的误差,保证检测的精确性与稳定性。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种射频电缆组件高温测试方法,包括高温装置、检测装置及转接线,所述高温装置包括第一开口和第二开口,其特征在于,所述射频电缆组件高温测试方法包括如下步骤:

2.如权利要求1所述的一种射频电缆组件高温测试方法,其特征在于,在所述S1步骤中,还包括:

3.如权利要求2所述的一种射频电缆组件高温测试方法,其特征在于,在所述S2步骤中还包括:

4.如权利要求3所述的一种射频电缆组件高温测试方法,其特征在于,所述S3步骤中,还包括:

5.如权利要求4所述的一种射频电缆组件高温测试方法,其特征在于,所述步骤S4还包括:

【技术特征摘要】

1.一种射频电缆组件高温测试方法,包括高温装置、检测装置及转接线,所述高温装置包括第一开口和第二开口,其特征在于,所述射频电缆组件高温测试方法包括如下步骤:

2.如权利要求1所述的一种射频电缆组件高温测试方法,其特征在于,在所述s1步骤中,还包括:

3.如权...

【专利技术属性】
技术研发人员:李泽轩李江肖怀远李福兵张义
申请(专利权)人:上海传输线研究所中国电子科技集团公司第二十三研究所
类型:发明
国别省市:

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