System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 光检测装置、光检测系统及滤波器阵列制造方法及图纸_技高网

光检测装置、光检测系统及滤波器阵列制造方法及图纸

技术编号:41706383 阅读:12 留言:0更新日期:2024-06-19 12:37
本发明专利技术提供光检测装置、光检测系统及滤波器阵列。光检测装置具备:滤波器阵列,包括配置在二维平面内的多个滤波器;以及图像传感器,配置在接受透射了滤波器阵列的光的位置,多个滤波器包括第1滤波器、以及透射光谱与第1滤波器不同的第2滤波器,第1及第2滤波器分别包括第1反射层、第2反射层以及该两个反射层之间的中间层,第1反射层包括:第1折射率层;第2折射率层,具有比第1折射率层高的折射率,并且与第1折射率层相邻;第3折射率层;以及第4折射率层,具有比第3折射率层高的折射率,并且与第3折射率层相邻,第1及第2折射率层分别具有第1光学长度,第3及第4折射率层分别具有与第1光学长度不同的第2光学长度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光检测装置、光检测系统及滤波器阵列


技术介绍

1、通过利用分别为窄带的多个波段(band)、例如几十个波段的光谱信息,能够掌握通过以往的rgb图像不能掌握的对象物的详细的物性。取得这样的多波长的信息的相机被称作“超光谱相机”。例如,如在专利文献1至5中公开那样,超光谱相机在食品检查、生物体检查、医药品开发及矿物的成分分析等各种领域中被利用。

2、现有技术文献

3、专利文献

4、专利文献1:美国专利申请公开第2016/138975号说明书

5、专利文献2:美国专利第7907340号说明书

6、专利文献3:美国专利第9929206号说明书

7、专利文献4:日本特表2013-512445号公报

8、专利文献5:日本特表2015-501432号公报


技术实现思路

1、专利技术要解决的课题

2、本专利技术提供一种能够提高超光谱相机的波长分辨率的新的光检测装置。

3、用来解决课题的手段

4、有关本专利技术的一技术方案的光检测装置具备:滤波器阵列,包括配置在二维平面内的多个滤波器;以及图像传感器,配置在接受透射了上述滤波器阵列的光的位置,上述多个滤波器包括第1滤波器、以及透射光谱与上述第1滤波器不同的第2滤波器,上述第1滤波器以及上述第2滤波器分别包括第1反射层、第2反射层、以及上述第1反射层与上述第2反射层之间的中间层,上述第1反射层包括:第1折射率层;第2折射率层,具有比上述第1折射率层高的折射率,并且与上述第1折射率层相邻;第3折射率层;以及第4折射率层,具有比上述第3折射率层高的折射率,并且与上述第3折射率层相邻,上述第1折射率层和上述第2折射率层分别具有第1光学长度,上述第3折射率层和上述第4折射率层分别具有与上述第1光学长度不同的第2光学长度。

5、专利技术效果

6、根据本专利技术,能够提高超光谱相机的波长分辨率。

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【技术保护点】

1.一种光检测装置,其中,具备:

2.如权利要求1所述的光检测装置,其中,

3.如权利要求2所述的光检测装置,其中,

4.如权利要求1或2所述的光检测装置,其中,

5.如权利要求1或2所述的光检测装置,其中,

6.如权利要求1或2所述的光检测装置,其中,

7.一种光检测系统,其中,具备:

8.一种滤波器阵列,用于光检测装置,其中,

【技术特征摘要】

1.一种光检测装置,其中,具备:

2.如权利要求1所述的光检测装置,其中,

3.如权利要求2所述的光检测装置,其中,

4.如权利要求1或2所述的光检测装置,其中,

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【专利技术属性】
技术研发人员:石川笃稻田安寿
申请(专利权)人:松下知识产权经营株式会社
类型:发明
国别省市:

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