一种天线扫描装置及测量系统制造方法及图纸

本技术提供了一种天线扫描装置及测量系统，涉及无线性能测量技术领域。该天线扫描装置包括主体结构、第一运动件和第二运动件。主体结构设有沿弧形路径延伸的轨道。第一运动件上设有多个第一测量探头；第一运动件可滑动地设置于轨道。第二运动件上设有第二测量探头；第二运动件可滑动地设置于轨道；在轨道的延伸方向上，第一运动件的宽度大于第二运动件的宽度。本技术提供的天线扫描装置及测量系统可以改善现有技术中测量系统应用局限，无法满足场景需求多样化的需求的技术问题。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及无线性能测量，具体而言，涉及一种天线扫描装置及测量系统。

技术介绍

1、天线作为通讯、雷达等应用领域的重要组成部分，天线参数的测量和验证是天线设计过程中不可或缺的过程。天线测量的主要项目是测量天线的电参数、辐射参数，以评价天线的性能。

2、在现有技术中，单探头测量系统和多探头测量系统都有其应用局限，在测量场景需求多样化的情况下，难以兼顾。

技术实现思路

1、本技术的目的包括提供了一种天线扫描装置，其能够改善现有技术中测量系统应用局限，无法满足场景需求多样化的需求的技术问题。

2、本技术的目的还包括，提供了一种测量系统，其能够改善现有技术中测量系统应用局限，无法满足场景需求多样化的需求的技术问题。

3、本技术的实施例可以这样实现：

4、本技术的实施例提供了一种天线扫描装置，包括：

5、主体结构，设有沿弧形路径延伸的轨道；

6、第一运动件，上设有多个第一测量探头；所述第一运动件可滑动地设置于所述轨道；

7、第二运动件，上设有第二测量探头；所述第二运动件可滑动地设置于所述轨道；在所述轨道的延伸方向上，所述第一运动件的宽度大于所述第二运动件的宽度。

8、可选地，所述天线扫描装置还包括转台，所述转台用于承载被测物；所述转台设于所述主体结构的内侧，以使所述第一测量探头和所述第二测量探头朝向所述转台设置。

9、可选地，所述第二测量探头的数量不大于三个。

10、可选地，所述第二测量探头的数量为一个。

11、可选地，所述第二运动件上设置有第二调节结构；所述第二测量探头设于所述第二调节结构上；所述第二调节结构用于相对所述第二运动件活动以调节所述第二测量探头的指向方向。

12、可选地，所述第一运动件上设置有至少一个第一调节结构；至少一个所述第一测量探头连接于所述第一调节结构；所述第一调节结构用于相对所述第一运动件活动也调节所述第一测量探头的指向方向。

13、可选地，所述第一运动件弯曲呈与所述轨道适配的弧形，多个所述第一测量探头沿弧线路径间隔排列设置。

14、可选地，所述转台设于所述轨道延伸路径形成的弧形的圆心处。

15、可选地，所述天线扫描装置还包括至少一个第一测量仪表和至少一个第二测量仪表；所述第一测量仪表与所述第一测量探头电连接，用于向所述第一测量探头输入测量信号；所述第二测量仪表与所述第二测量探头电连接，用于向所述第二测量探头输入测量信号。

16、一种测量系统，包括电波暗室和上述的天线扫描装置；所述天线扫描装置设于所述电波暗室内部。

17、本技术提供的天线扫描装置及测量系统相对于现有技术的有益效果包括：

18、在进行无线性能测量的过程中，将被测物放置在转台上，第一运动件上的多个第一测量探头以及第二运动件上的第二测量探头均朝向转台上的被测物设置，可以对被测物进行无线性能测量。并且，在第一运动件沿轨道移动以及转台带动被测物转动的过程中，可以通过第二测量探头以及多个第一测量探头向被测物提供灵活、全面的无线性能测量。由于第一运动件上设置有多个第一测量探头，可以提升被测物无线性能测量的效率；另外，可以通过宽度较小的第二运动件的移动来实现第二测量探头从不同位置或不同角度进行灵活测量；还可以将第一测量探头和第二测量探头设置为不同频段的测量探头。基于此，通过多探头的第一运动件和少探头的第二运动件的结合，不仅可以提升无线性能测量的效率，还能使得天线扫描装置及测量系统满足于多种测量的应用场景，满足无线性能测量的多样性需求。由此可以改善现有技术中测量系统应用局限，无法满足测量场景多样化的需求的技术问题。

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【技术保护点】

1.一种天线扫描装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的天线扫描装置，其特征在于，所述天线扫描装置(12)还包括转台(400)，所述转台(400)用于承载被测物；所述转台(400)设于所述主体结构(100)的内侧，以使所述第一测量探头(210)和所述第二测量探头(310)朝向所述转台(400)设置。

3.根据权利要求1所述的天线扫描装置，其特征在于，所述第二测量探头(310)的数量不大于三个。

4.根据权利要求3所述的天线扫描装置，其特征在于，所述第二测量探头(310)的数量为一个。

5.根据权利要求1所述的天线扫描装置，其特征在于，所述第二运动件(300)上设置有第二调节结构；所述第二测量探头(310)设于所述第二调节结构上；所述第二调节结构用于相对所述第二运动件(300)活动以调节所述第二测量探头(310)的指向方向。

6.根据权利要求1所述的天线扫描装置，其特征在于，所述第一运动件(200)上设置有至少一个第一调节结构；至少一个所述第一测量探头(210)连接于所述第一调节结构；所述第一调节结构用于相对所述第一运动件(200)活动也调节所述第一测量探头(210)的指向方向。

7.根据权利要求1-6中任意一项所述的天线扫描装置，其特征在于，所述第一运动件(200)弯曲呈与所述轨道适配的弧形，多个所述第一测量探头(210)沿弧线路径间隔排列设置。

8.根据权利要求2所述的天线扫描装置，其特征在于，所述转台(400)设于所述轨道延伸路径形成的弧形的圆心处。

9.根据权利要求1-6中任意一项所述的天线扫描装置，其特征在于，所述天线扫描装置(12)还包括至少一个第一测量仪表和至少一个第二测量仪表；所述第一测量仪表与所述第一测量探头(210)电连接，用于向所述第一测量探头(210)输入测量信号；所述第二测量仪表与所述第二测量探头(310)电连接，用于向所述第二测量探头(310)输入测量信号。

10.一种测量系统，其特征在于，包括电波暗室(11)和权利要求1-9中任意一项所述的天线扫描装置(12)；所述天线扫描装置(12)设于所述电波暗室(11)内部。

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【技术特征摘要】

1.一种天线扫描装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的天线扫描装置，其特征在于，所述天线扫描装置(12)还包括转台(400)，所述转台(400)用于承载被测物；所述转台(400)设于所述主体结构(100)的内侧，以使所述第一测量探头(210)和所述第二测量探头(310)朝向所述转台(400)设置。

3.根据权利要求1所述的天线扫描装置，其特征在于，所述第二测量探头(310)的数量不大于三个。

4.根据权利要求3所述的天线扫描装置，其特征在于，所述第二测量探头(310)的数量为一个。

5.根据权利要求1所述的天线扫描装置，其特征在于，所述第二运动件(300)上设置有第二调节结构；所述第二测量探头(310)设于所述第二调节结构上；所述第二调节结构用于相对所述第二运动件(300)活动以调节所述第二测量探头(310)的指向方向。

6.根据权利要求1所述的天线扫描装置，其特征在于，所述第一运动件(200)上设置有至少一个第一调节结构；至少一个所述第一测量探头(210)连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：于伟，沈鹏辉，
申请(专利权)人：深圳市通用测试系统有限公司，
类型：新型
国别省市：