【技术实现步骤摘要】
本技术涉及光电子器件制造测试，具体为一种用于光电子器件制造的测试装置。
技术介绍
1、光电子器件是光电子技术的关键和核心部件，是现代光电技术与微电子技术的前沿研究领域，光电子集成就是把光器件和电子器件集成在同一基片上的集成电路，电子器件在生产出来后，往往需要对其进行各种测试。
2、但是现有测试装置对电子器件进行测试只能单个电子器件测试，需要操作人员来回更换电子器件，在对测试完成后的电子器件进行更换时测试装置处于空闲状态，降低了测试效率和测试速度慢，且费时费力。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种用于光电子器件制造的测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为了解决上述技术问题，本技术提供如下技术方案：一种用于光电子器件制造的测试装置，包括光电子器件本体、传动带一、传动带二、凹槽、支撑架、支撑箱、连接板、测试板、驱动轴、从动轴和限位机构，所述传动带一的一端下方设有传动带二，所述传动带上设有多个等距离分布的凹槽，所述传动带二的一端设有支撑架，所述支撑架的上端固定连接有支撑箱，所述支撑箱的下端滑动连接有连接板，所述连接板的下端固定连接有测试板，所述限位机构设于传动带一侧壁处，对光电子器件本体的位置进行限位，所述传动带二的左侧内壁上设有驱动轴，所述传动带二右侧内壁上设有从动轴，所述从动轴与连接板之间设有传动机构。
3、在一个优选的实施方式中：所述传动机构包括转轴一、锥齿轮一、锥齿轮二、转轴二、棘齿轮、齿轮和连接柱，所述支撑箱内转动连接有转轴
4、在一个优选的实施方式中：所述齿轮的内壁上固定连接有转轴三，所述转轴三与支撑箱内壁之间设有扭簧，所述转轴三与转轴二均与支撑箱内壁转动连接。
5、在一个优选的实施方式中：所述转轴一与从动轴的外壁上均固定连接有链轮，两个所述链轮通过链条传动连接。
6、在一个优选的实施方式中：所述驱动轴的一端固定连接有电机输出轴，所述传动带二的一侧下方设有收集槽，所述收集槽内壁上设有缓冲绵。
7、在一个优选的实施方式中：所述限位机构包括阻尼转轴和限位板，所述传动带一的两端均设有支撑板，所述支撑板上转动连接有阻尼转轴，所述阻尼转轴的上端外壁上固定连接有限位板，所述限位板活动设于传动带一的上端。
8、与现有技术相比，本技术所达到的有益效果是：
9、本技术通过传动带一、传动带二、凹槽、支撑架、支撑箱、连接板、测试板和从动轴配合着传动机构的设置，可对多个光电子器件本体进行不间断的测试，不需要操作人员来回更换电子器件，且能够避免在对测试完成后的电子器件进行更换时测试装置处于空闲状态的问题发生，增加了测试效率和测试速度，使得装置使用便捷且大大降低了工作人员的劳动强度。
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1.一种用于光电子器件制造的测试装置，其特征在于：包括光电子器件本体（1）、传动带一（2）、传动带二（3）、凹槽（4）、支撑架（5）、支撑箱（6）、连接板（7）、测试板（8）、驱动轴（9）、从动轴（10）和限位机构，所述传动带一（2）的一端下方设有传动带二（3），所述传动带上设有多个等距离分布的凹槽（4），所述传动带二（3）的一端设有支撑架（5），所述支撑架（5）的上端固定连接有支撑箱（6），所述支撑箱（6）的下端滑动连接有连接板（7），所述连接板（7）的下端固定连接有测试板（8），所述限位机构设于传动带一（2）侧壁处，对光电子器件本体（1）的位置进行限位，所述传动带二（3）的左侧内壁上设有驱动轴（9），所述传动带二（3）右侧内壁上设有从动轴（10），所述从动轴（10）与连接板（7）之间设有传动机构。
2.根据权利要求1所述的一种用于光电子器件制造的测试装置，其特征在于：所述传动机构包括转轴一（11）、锥齿轮一、锥齿轮二（12）、转轴二、棘齿轮（13）、齿轮（14）和连接柱（15），所述支撑箱（6）内转动连接有转轴一（11），所述转轴一（11）的外壁上固定连接有锥齿轮
3.根据权利要求2所述的一种用于光电子器件制造的测试装置，其特征在于：所述齿轮（14）的内壁上固定连接有转轴三（16），所述转轴三（16）与支撑箱（6）内壁之间设有扭簧，所述转轴三（16）与转轴二均与支撑箱（6）内壁转动连接。
4.根据权利要求3所述的一种用于光电子器件制造的测试装置，其特征在于：所述转轴一（11）与从动轴（10）的外壁上均固定连接有链轮，两个所述链轮通过链条（17）传动连接。
5.根据权利要求4所述的一种用于光电子器件制造的测试装置，其特征在于：所述驱动轴（9）的一端固定连接有电机输出轴，所述传动带二（3）的一侧下方设有收集槽（18），所述收集槽（18）内壁上设有缓冲绵。
6.根据权利要求1所述的一种用于光电子器件制造的测试装置，其特征在于：所述限位机构包括阻尼转轴（19）和限位板（20），所述传动带一（2）的两端均设有支撑板，所述支撑板上转动连接有阻尼转轴（19），所述阻尼转轴（19）的上端外壁上固定连接有限位板（20），所述限位板（20）活动设于传动带一（2）的上端。
...【技术特征摘要】
1.一种用于光电子器件制造的测试装置，其特征在于：包括光电子器件本体（1）、传动带一（2）、传动带二（3）、凹槽（4）、支撑架（5）、支撑箱（6）、连接板（7）、测试板（8）、驱动轴（9）、从动轴（10）和限位机构，所述传动带一（2）的一端下方设有传动带二（3），所述传动带上设有多个等距离分布的凹槽（4），所述传动带二（3）的一端设有支撑架（5），所述支撑架（5）的上端固定连接有支撑箱（6），所述支撑箱（6）的下端滑动连接有连接板（7），所述连接板（7）的下端固定连接有测试板（8），所述限位机构设于传动带一（2）侧壁处，对光电子器件本体（1）的位置进行限位，所述传动带二（3）的左侧内壁上设有驱动轴（9），所述传动带二（3）右侧内壁上设有从动轴（10），所述从动轴（10）与连接板（7）之间设有传动机构。
2.根据权利要求1所述的一种用于光电子器件制造的测试装置，其特征在于：所述传动机构包括转轴一（11）、锥齿轮一、锥齿轮二（12）、转轴二、棘齿轮（13）、齿轮（14）和连接柱（15），所述支撑箱（6）内转动连接有转轴一（11），所述转轴一（11）的外壁上固定连接有锥齿轮一，所述锥齿轮一啮合连接有锥齿轮二（12），所述锥齿轮二（12）的内壁上固定连接有转轴二，所述转轴二的一端固定连接...
【专利技术属性】
技术研发人员：李文平，
申请(专利权)人：江苏一诺照明有限公司，
类型：新型
国别省市：
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