用于环件检测的数显深度测量仪制造技术

技术编号:41683738 阅读:8 留言:0更新日期:2024-06-14 15:35
本技术公开了用于环件检测的数显深度测量仪,包括:底部平板和外圈竖板,底部平板和外圈竖板相垂直固定呈L形,底部平板上设有第一磁性元件,外圈竖板上设有第二磁性元件,外圈竖板顶部设有竖杆,竖杆上安装有滑套,滑套上设有横梁,横梁与外圈竖板相垂直,横梁上设有滑座,滑座上设有数显屏、穿设于滑座上的探针、第一激光测距仪、第二激光测距仪、计算控制器,计算控制器与数显屏电连接,探针顶端上设有检测板,两个激光测距仪与计算控制器电连接,第一激光测距仪朝向滑套布置,第二激光测距仪竖直朝向检测板。采用所述的数显深度测量仪对环件进行检测能大大提高工作效率和测量精度,使得生产成本能大大降低,环件的产品质量能得到保证。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及环锻件检测工具领域,具体涉及用于环件检测的数显深度测量仪


技术介绍

1、现有一种加工有环形坡面的环件,这种环件在制造完成后需要对环形坡面上的多个点位的深度进行检测,从而来判断环形坡面的整体尺寸是否合格,通常由工人利用多种规格的尺进行手工测量,人工测量存在工作效率差,测量精度差,从而无法保证产品质量。


技术实现思路

1、本技术所要解决的技术问题是:将提供一种工作效率高、测量精度高的用于环件检测的数显深度测量仪。

2、为了解决上述问题,本技术所采用的技术方案为:用于环件检测的数显深度测量仪,其特征在于:包括:底部平板和外圈竖板,底部平板和外圈竖板相垂直固定呈l形,底部平板用于与环件的底平面相抵靠,外圈竖板用于与环件的外圈侧壁相抵靠,在底部平板上设置有能使底部平板吸附于环件底部上的第一磁性元件,在外圈竖板上设置有能使外圈竖板吸附于环件外圈侧壁上的第二磁性元件,在外圈竖板的顶部设置有一根竖杆,在竖杆上可竖直滑动的安装有一个滑套,在滑套上设置有一根横梁,横梁与外圈竖板相垂直,在横梁上设置有一个能沿着横梁滑动的滑座,在滑座上设置有一个数显屏、一个竖直活动穿设于滑座上的探针、一个第一激光测距仪、一个第二激光测距仪、一个计算控制器,计算控制器与数显屏电连接,探针在滑座上不可旋转,探针的两端均伸出滑座,在探针的顶端上设置有检测板,两个激光测距仪与计算控制器电连接,第一激光测距仪朝向滑套布置,并且第一激光测距仪的前端与探针相对齐,使得第一激光测距仪能对探针到滑套的距离进行检测,第二激光测距仪竖直朝向检测板,使得第二激光测距仪能对其和检测板之间的距离进行检测。

3、进一步的,前述的用于环件检测的数显深度测量仪,其中:第一磁性元件和第二磁性元件均为微型电磁铁,在底部平板和外圈竖板上还分别设置有用于控制其上微型电磁铁的开关。

4、进一步的,前述的用于环件检测的数显深度测量仪,其中:在底部平板上还设置有用于给数显屏、第一激光测距仪、第二激光测距仪、计算控制器、两个微型电磁铁供电的蓄电池和能给蓄电池充电的充电装置。

5、进一步的,前述的用于环件检测的数显深度测量仪,其中:横梁上设置有沿着横梁布置的导向槽,滑座的下部设置有卡块,卡块卡入至导向槽中,使得滑座能沿着横梁滑动。

6、进一步的,前述的用于环件检测的数显深度测量仪,其中:第一磁性元件和第二磁性元件也可以均为磁铁。

7、本技术的优点为:采用所述的数显深度测量仪对环件进行检测能大大提高工作效率和测量精度,使得生产成本能大大降低,环件的产品质量能得到保证。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.用于环件检测的数显深度测量仪,其特征在于:包括:底部平板和外圈竖板,底部平板和外圈竖板相垂直固定呈L形,底部平板用于与环件的底平面相抵靠,外圈竖板用于与环件的外圈侧壁相抵靠,在底部平板上设置有能使底部平板吸附于环件底部上的第一磁性元件,在外圈竖板上设置有能使外圈竖板吸附于环件外圈侧壁上的第二磁性元件,在外圈竖板的顶部设置有一根竖杆,在竖杆上可竖直滑动的安装有一个滑套,在滑套上设置有一根横梁,横梁与外圈竖板相垂直,在横梁上设置有一个能沿着横梁滑动的滑座,在滑座上设置有一个数显屏、一个竖直活动穿设于滑座上的探针、一个第一激光测距仪、一个第二激光测距仪、一个计算控制器,计算控制器与数显屏电连接,探针在滑座上不可旋转,探针的两端均伸出滑座,在探针的顶端上设置有检测板,两个激光测距仪与计算控制器电连接,第一激光测距仪朝向滑套布置,并且第一激光测距仪的前端与探针相对齐,使得第一激光测距仪能对探针到滑套的距离进行检测,第二激光测距仪竖直朝向检测板,使得第二激光测距仪能对其和检测板之间的距离进行检测。

2.根据权利要求1所述的用于环件检测的数显深度测量仪,其特征在于:第一磁性元件和第二磁性元件均为磁铁。

3.根据权利要求1所述的用于环件检测的数显深度测量仪,其特征在于:第一磁性元件和第二磁性元件均为微型电磁铁,在底部平板和外圈竖板上还分别设置有用于控制其上微型电磁铁的开关。

4.根据权利要求1或2所述的用于环件检测的数显深度测量仪,其特征在于:在底部平板上还设置有用于给数显屏、第一激光测距仪、第二激光测距仪、计算控制器供电的蓄电池和能给蓄电池充电的充电装置。

5.根据权利要求1或2所述的用于环件检测的数显深度测量仪,其特征在于:横梁上设置有沿着横梁布置的导向槽,滑座的下部设置有卡块,卡块卡入至导向槽中,使得滑座能沿着横梁滑动。

6.根据权利要求3所述的用于环件检测的数显深度测量仪,其特征在于:在底部平板上还设置有用于给数显屏、第一激光测距仪、第二激光测距仪、计算控制器、两个微型电磁铁供电的蓄电池和能给蓄电池充电的充电装置。

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【技术特征摘要】

1.用于环件检测的数显深度测量仪,其特征在于:包括:底部平板和外圈竖板,底部平板和外圈竖板相垂直固定呈l形,底部平板用于与环件的底平面相抵靠,外圈竖板用于与环件的外圈侧壁相抵靠,在底部平板上设置有能使底部平板吸附于环件底部上的第一磁性元件,在外圈竖板上设置有能使外圈竖板吸附于环件外圈侧壁上的第二磁性元件,在外圈竖板的顶部设置有一根竖杆,在竖杆上可竖直滑动的安装有一个滑套,在滑套上设置有一根横梁,横梁与外圈竖板相垂直,在横梁上设置有一个能沿着横梁滑动的滑座,在滑座上设置有一个数显屏、一个竖直活动穿设于滑座上的探针、一个第一激光测距仪、一个第二激光测距仪、一个计算控制器,计算控制器与数显屏电连接,探针在滑座上不可旋转,探针的两端均伸出滑座,在探针的顶端上设置有检测板,两个激光测距仪与计算控制器电连接,第一激光测距仪朝向滑套布置,并且第一激光测距仪的前端与探针相对齐,使得第一激光测距仪能对探针到滑套的距离进行检测,第二激光测距仪竖直朝向检测板,使得第二激光测距仪能对其和检测板之间的距离进行检测...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄鑫陈艺杰薛丽丽宋杰王秋夏吴祥季晓杰
申请(专利权)人:张家港中环海陆高端装备股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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