交联电缆绝缘层检测方法及其装置制造方法及图纸

本发明专利技术交联电缆绝缘层检测方法及其装置属于电线电缆领域，交联电缆绝缘层检测装置是由机体，自带光源放大器，测量装置，固定夹具，导热剂容器，加热装置组成，在机体上安装支架，自带光源放大器安装在支架上，加热装置设置在机体上，导热剂容器放置在加热装置上，固定夹具安装在机体上，在固定夹具上方设置有测量装置。利用温控加热装置以及导热剂，使绝缘层呈透明状态，利用自带光源的大倍数放大镜，直接对样段进行检查。本发明专利技术结构简单，检测效率高，检测时间短，适合于对交联电缆绝缘层的微孔以及杂质进行检测。

Method and device for detecting insulating layer of crosslinked cable

The invention belongs to the field of wire and cable XLPE cable insulation testing method and device for XLPE cable insulation layer detection device is composed of the body, with the light source amplifier, measuring device, fixture, conductive agent container, heating device, mounting bracket on the body, with the light source amplifier is installed on the bracket, a heating device is arranged on the body. Heat transfer agent container is placed in the heating device, the fixture is installed on the body, the fixture is arranged above the measuring device. The insulating layer is in a transparent state by using a temperature controlled heating device and a heat conducting agent, and the sample section is checked directly by a large magnifying glass with a light source. The invention has simple structure, high detection efficiency and short detection time, and is suitable for detecting micropores and impurities in the insulating layer of cross-linked cables.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术交联电缆绝缘层检测方法及其装置属于电线电缆领域，涉及一种用于对交联电缆绝缘层的微孔以及杂质进行检测的方法及装置。
技术介绍
现有测量方法是把交联电缆绝缘层进行径向切片，通过测量显微镜测量绝缘层的 微孔和杂质。要求80个切片厚度在0. 4 0. 7mm之间，检测的电缆长度在32mm 56mm之 间，检查的试样长度较短。每个片用测量显微镜的检查时间在20分钟以上80个片要用27 小时，比较费时。而且对切片的表面质量要求较高，否则无法判断所见缺陷是电缆本体自带 还是切片时造成。
技术实现思路
本专利技术的目的在于避免现有技术中的不足之处，而提供一种检测质量好，提高检 测效率，减少检测时间的交联电缆绝缘层检测装置。 本专利技术的目的在于避免现有技术中的不足之处，而提供一种检测质量好，提高检 测效率，减少检测时间的交联电缆绝缘层检测方法。 本专利技术的目的是通过以下措施来达到的，交联电缆绝缘层检测方法如下， 截取lOOmm长交联电缆试样一段，用刨片机刨平两端面，把试样固定在透明的有 机导热剂中，用加热装置对整段100mm的电缆样段，加热到ll(TC _130°C ，使绝缘层呈透明 状，用放大镜，在光照下直接对样段进行检查，用测量装置，测量微孔和杂质的大小以及位 置，测量大小能确定是否符合产品标准要求，测量位置能对缺陷点进行解剖取样分析。 本方法采用不同的于传统的试样切片，逐片检查的方法。利用交联绝缘料在一定 的温度下会变成透明的特性，对整段试样进行加热使原来用呈乳白色的绝缘层变成透明， 而需要被检测出来的微孔和杂质则不会因为温度的升高的改变。再通过与传统方法中测量 显微镜放大倍数相同的放大镜，对绝缘层进行观察和测量。而且放大镜在光源照射下，更加 方便观察。 本专利技术的目的是通过以下措施来达到的，交联电缆绝缘层检测装置是由机体，自 带光源放大器，测量装置，固定夹具，导热剂容器，加热装置组成，在机体上安装支架，自带 光源放大镜安装在支架上，加热装置设置在机体上，导热剂容器放置在加热装置上，固定夹 具安装在机体上，在固定夹具上方设置有测量装置。利用温控加热装置以及导热剂，对整段 80 100mm的电缆样段进行加热，使绝缘层呈透明状态，利用自带光源的大倍数放大镜，直 接对样段进行检查。在放大镜和样品中间有测量装置，能测量微孔和杂质的大小以及位置。 测量大小能确定是否符合产品标准要求，测量位置能对缺陷点进行解剖取样分析。试验时 间能大大縮短到3小时内，完成检查以及微孔杂质的测量。试样长度增加1倍以上，发现缺 陷的几率提高l倍。 本专利技术的自带光源放大镜是安装在自带光源放大镜座上，自带光源放大镜座安装在支架上，测量装置座安装在支架上，测量装置是安装在测量装置座上。 本专利技术的固定夹具由夹紧挡块，丝杆，伞齿轮，轴承座，联动轴，传动手轮组成，传 动手轮安装在联动轴上，联动轴连接伞齿轮，丝杆连接伞齿轮，夹紧挡块安装在固定座上， 丝杆在夹紧挡块上。在导热剂容器底部安装电缆样段V形座。 本专利技术的加热装置是由发热丝，温度控制器，温度传感器，接触器组成，发热丝连 接接触器，温度控制器连接接触器，温度控制器连接温度传感器。 本专利技术试验时间能大大縮短，从整个完成要27小时縮短到3小时内完成大致的检 查以及微孔杂质的测量。试样长度增加l倍以上，发现缺陷的几率提高l倍。对缺陷位置 是三维立体观察，无需对切片看到的二维缺陷重组成三维缺陷，有利于分析缺陷原因。结构 简单，检测效率高，检测时间短，适合于对交联电缆绝缘层的微孔以及杂质进行检测。附图说明 附图1为本专利技术的结构示意图。 附图2为本专利技术的实施例结构示意图。 附图3为本专利技术的固定夹具示意图。 附图4为本专利技术的加热装置电器原理示意图。具体实施例方式下面结合附图对本专利技术作进一步说明。 图中自带光源放大镜座l，支架2，测量装置座3，导热剂4，电缆样段5，固定夹具 6，导热剂容器7，加热装置8，开关9，温控显示表10，自带光源放大镜11，测量装置12，挡板 20，加强筋21，电缆样段V形座22，夹紧挡块23，丝杆24，伞齿轮25，钢板26，轴承座27，铜 套28，联动轴29，传动手轮30。 如附图1所示，交联电缆绝缘层检测装置是由机体，自带光源放大器ll，测量装置 12，固定夹具6，导热剂容器7，加热装置组成，在机体上安装支架2，自带光源放大镜安装在 支架上，加热装置设置在机体上，导热剂容器放置在加热装置上，固定夹具安装在机体上， 在固定夹具上方设置有测量装置。利用温控加热装置以及导热剂，对整段80 100mm的电 缆样段进行加热，利用自带光源的大倍数放大镜，直接对样段进行检查。在放大镜和样品中 间有测量装置。 如附图2所示，本专利技术交联电缆绝缘层检测装置是由机体，自带光源放大镜，测量 装置，固定夹具6，导热剂容器7，加热装置8组成，自带光源放大镜(型号LT-86B)是安装 在自带光源放大镜座1上，在机体上安装支架2，自带光源放大镜座1安装在支架2上，测量 装置座3安装在支架2上，测量装置(型号M1-25)是安装在测量装置座3上，导热剂容器 7放置在加热装置8上，开关9控制加热装置8，加热装置设置在机体上，导热剂容器7放置 在加热装置上，固定夹具安装在机体上，在固定夹具上方设置有测量装置。导热剂容器内放 置导热剂4，电缆样段5设置在固定夹具上，电缆样段5放置在导热剂容器内的导热剂4中， 温控显示表10显示加热温度。 如附图3所示，本专利技术固定夹具由夹紧挡块23，丝杆24，伞齿轮25，轴承座27，联 动轴29，传动手轮30组成，传动手轮30安装在联动轴29上，联动轴29连接伞齿轮25，丝杆连接伞齿轮25，夹紧挡块23安装在固定座上，丝杆24在夹紧挡块23上，在导热剂容器7 内安装挡板20，加强筋21支撑挡板20，在导热剂容器7底部安装电缆样段V形座22，电缆 样段5放置在电缆样段V形座22上，导热剂容器7放置在加热装置8上，丝杆上连接一对 伞齿轮25，传动手轮30安装在联动轴29上，联动轴29连接伞齿轮25，联动轴29通过铜套 28安装在轴承座27上，轴承座27固定在钢板26上。 如附图4所示，本专利技术加热装置是由发热丝，PID温度控制器，温度传感器，接触器 组成，发热丝连接接触器，PID温度控制器连接接触器，PID温度控制器连接温度传感器，利 用温控加热使导热剂容器中的导热剂加热。 交联电缆绝缘层检测方法步骤如下， 1、截取lOOmm长交联电缆试样一段，用刨片机刨平两端面。 2、把试样固定在透明的有机导热剂中(聚有机硅氧烷油状物)。 3、用加热装置对整段100mm的电缆样段，加热到120°C ，使绝缘层呈透明状。 4、用自带光源的40倍数放大镜，直接对样段进行检查。 5、用测量装置，测量微孔和杂质的大小以及位置。 本方法采用不同的于传统的试样切片，逐片检查的方法。利用交联绝缘料在一定 的温度下会变成透明的特性，对整段试样进行加热使原来用呈乳白色的绝缘层变成透明， 而需要被检测出来的微孔和杂质则不会因为温度的升高的改变。再通过与传统方法中测量 显微镜放大倍数相同的放大镜，对绝缘层进行观察和测量。而且放大镜在光源照射下，更加 方便观察。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种交联电缆绝缘层检测装置，是由机体，自带光源放大器，测量装置组成，其特征是在机体上安装支架，自带光源放大镜安装在支架上，加热装置设置在机体上，导热剂容器放置在加热装置上，固定夹具安装在机体上，在固定夹具上方设置有测量装置。

【技术特征摘要】
一种交联电缆绝缘层检测装置，是由机体，自带光源放大器，测量装置组成，其特征是在机体上安装支架，自带光源放大镜安装在支架上，加热装置设置在机体上，导热剂容器放置在加热装置上，固定夹具安装在机体上，在固定夹具上方设置有测量装置。2. 根据权利要求1所述的交联电缆绝缘层检测装置，其特征是自带光源放大镜座安装 在支架上，自带光源放大镜是安装在自带光源放大镜座上，测量装置座安装在支架上，测量 装置是安装在测量装置座上。3. 根据权利要求1所述的交联电缆绝缘层检测装置，其特征是固定夹具由夹紧挡块， 丝杆，伞齿轮，轴承座，联动轴，传动手轮组成，传动手轮安装在联动轴上，联动轴连接伞齿 轮，丝杆连接伞齿轮，夹...

【专利技术属性】
技术研发人员：温志铭，
申请(专利权)人：广州岭南电缆有限公司，
类型：发明
国别省市：81[中国|广州]