【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光电子芯片，尤其涉及一种用于相干接收芯片测试的辅助组件以及对准方法。
技术介绍
1、在光通信领域，相干检测是一项将接收到的信号光与本地激光器产生的本振光干涉，提取输出的干涉光信号的技术。该技术相比于传统的强度直检技术，具有支持多种调制格式，频谱利用效率高的优势。同时，由于相干检测可以保留光信号的相位信息，因此，在数字信号处理时，光纤的群速度色散和偏振模色散等信号的线性传输损伤，都容易较为有效的均衡。
2、相干接收芯片及基于该芯片的数字相干接收模块，是相干检测的具体应用形式。在将相干接收芯片封装成功能模块前，需要对相干接收芯片进行芯片级测试。
3、一般而言，相干接收芯片有信号光端口和本振光端口两个光信号输入端口，以及若干焊盘作为电学端口。相干接收芯片进行芯片级测试时，一般使用单根光纤或单通道光纤阵列从信号光端口或本振光端口轮流输入光，并使用探针卡扎测芯片焊盘。但是，这一测试方式难以测试一些需要在信号光端口和本振光端口同时输入两束相干光，且相干光的时延需要控制在一定范围内，方能有效进行测试的关键性能参数，如相干接收芯片的相位误差。
4、一些已经公开的方法提供了双端口输入相干光进行测试的光学和电学链路，但是在测试稳定性、与单端口入光的测试的兼容性等方面，有待进一步的改进提高。
技术实现思路
1、针对现有技术的至少一部分缺陷，本专利技术的实施例提出了一种用于相干接收芯片测试的辅助组件以及以及相应的对准方法。在提供辅助组件的基础上，本专利技术
2、在本专利技术的第一方面中，提供了一种用于测试相干接收芯片的辅助组件，其中所述辅助组件包括：
3、辅助芯片；
4、辅助电路板，所述辅助电路板与所述辅助芯片连接；
5、基座，所述基座上封装有所述辅助芯片和辅助电路板，
6、其中所述辅助组件设置在将光源的光输入到待测相干接收芯片的光路上，所述辅助电路板连接至多通道源表以进行测试，所述辅助芯片与信号光端口或本振光端口中的至少一个对准以实现光路的连通。
7、优选地，在一些实施例中，辅助芯片上的焊盘与辅助电路板上的金手指键合连接；
8、所述辅助芯片上的至少一个端口与信号光端口或本振光端口中的至少一个对准以实现光路的连通。
9、优选地，在一些实施例中，所述辅助芯片用于单偏振相干接收芯片的测试，并且所述辅助芯片包括：
10、第一输入耦合器，配置成将光源的光耦合后输出，
11、第一偏振旋转分束器，配置成正向设置，第一输入耦合器输出的光经波导输入到第一偏振旋转分束器，并且当横电模式偏振光从第一偏振旋转分束器的i端口输入第一偏振旋转分束器时，将从第一偏振旋转分束器的x端口输出为横电模式偏振光，当横磁模式偏振光从i端口输入第一偏振旋转分束器时，将从第一偏振旋转分束器的y端口输出为横磁模式偏振光；
12、第一功率分束器，配置成连接至所述x端口，将输入光分为两束光；
13、第一可调光衰减器和第二可调光衰减器，其中所述两束光分别经长度不同的第一延迟线波导和第二延迟线波导传输至第一可调光衰减器和第二可调光衰减，所述第一可调光衰减器由片上金属层连接至辅助芯片上的焊盘，再通过引线键合连接到辅助电路板，最终由多通道源表控制；
14、第一输出耦合器和第二输出耦合器，其中所述两束光经过第一可调衰减器和第二可调衰减器后，分别经第一输出耦合器和第二输出耦合器输出，其输出偏振均为横电模式；
15、第一损耗波导或辅助芯片光电探测器，配置成连接至第一偏振旋转分束器的y端口，所述辅助芯片光电探测器由片上金属层连接至辅助芯片上的焊盘。
16、优选地，在一些实施例中，所述第一输出耦合器和第二输出耦合器之间的间距设置成与待测试的相干接收芯片上的信号光端口和本振光端口之间的间距相同。
17、优选地，在一些实施例中，可以选择以下三种工作模式之一运行，通过改变第一可调光衰减器和第二可调光衰减器的偏置电流实现工作模式的切换：
18、工作模式一：调节偏置使所述第一可调光衰减器的衰减为15db以上，且第二可调光衰减器的衰减为1db以下时，可测试要求输入光仅从本振光端口入光的测试项；
19、工作模式二：调节偏置使所述第二可调光衰减器的衰减为15db以上，且第一可调光衰减器的衰减为1db以下时，可测试要求输入光仅从信号光端口入光的测试项；
20、工作模式三：若在所述第一可调光衰减器和第二可调光衰减器均无偏置时，第一可调光衰减器和第二可调光衰减器所在的通道输出光强比值为i1：i2，且调节偏置使第一可调光衰减器和第二可调光衰减器的衰减分别为a1％：a2％时，可测试要求输入光按比例i1×(1-a1％)：i2×(1-a2％)同时从信号光端口和本振光端口入光的测试项。
21、优选地，在一些实施例中，所述辅助芯片用于双偏振相干接收芯片的测试，并且辅助芯片包括：
22、第一输入耦合器，配置成将光源的光耦合后输出，
23、第一偏振旋转分束器，配置成正向设置，第一输入耦合器输出的光经过波导输入到第一偏振旋转分束器，其中当横电模式偏振光从第一偏振旋转分束器的i端口输入第一偏振旋转分束器时，将从第一偏振旋转分束器的x端口输出为横电模式偏振光，当横磁模式偏振光从i端口输入第一偏振旋转分束器时，将从第一偏振旋转分束器的y端口输出为横磁模式偏振光，
24、第一功率分束器，配置成连接至第一偏振旋转分束器的x端口，所述第一功率分束器将输入光分为两束光；
25、第一可调光衰减器和第二可调光衰减器，其中所述两束光分别经长度不同的第一延迟线波导和第二延迟线波导至第一可调光衰减器和第二可调光衰减器，所述第一可调光衰减器由片上金属层连接至辅助芯片上的焊盘，再通过引线键合连接到辅助电路板，最终由多通道源表控制；
26、第二功率分束器和第三功率分束器(优选分束比为50:50)，其中所述两束光经过第一可调衰减器和第二可调衰减器后，分别输入到第二功率分束器和第三功率分束器；
27、第二偏振旋转分束器、第三偏振旋转分束器、第三输出耦合器以及第四输出耦合器，配置成经过第二功率分束器后的输出光分为两束光分别进入第二偏振旋转分束器和第三偏振旋转分束器，其中当第二偏振旋转分束器、第三偏振旋转分束器为反向设置时，从第二偏振旋转分束器的y端口输入第二偏振旋转分束器的横电偏振光，最终转变为横磁偏振光，从第三输出耦合器输出；从第三偏振旋转分束器的x端口输入第三偏振旋转分束器的横电偏振光，最终依然以横电偏振光的形式从第四输出耦合器输出；
28、第五输出耦合器和第六输出耦合器，配置成经过第三功率分束器本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种用于测试相干接收芯片的辅助组件，其中所述辅助组件包括：
2.根据权利要求1所述的辅助组件，其特征在于，
3.根据权利要求2所述的辅助组件，其特征在于，
4.根据权利要求3所述的辅助组件，其特征在于，
5.根据权利要求4所述的辅助组件，其特征在于，
6.根据权利要求2所述的辅助组件，其特征在于，
7.根据权利要求6所述的辅助组件，其特征在于，
8.根据权利要求7所述的辅助组件，其特征在于，
9.根据权利要求4或7所述的辅助组件，其特征在于，
10.根据权利要求9所述的辅助组件，其特征在于，
11.根据权利要求9所述的辅助组件，其特征在于，
12.根据权利要求9所述的辅助组件，其特征在于，
13.一种将带尾纤的多路光纤阵列与辅助组件封装的对准方法，所述对准方法用于将多路光纤阵列与根据权利要求1-12中任一项所述的辅助组件中的辅助芯片对准，所示对准方法包括：
14.一种将带尾纤的多路光纤阵列与辅助组件封装的对准方法，所述对准
...【技术特征摘要】
1.一种用于测试相干接收芯片的辅助组件，其中所述辅助组件包括：
2.根据权利要求1所述的辅助组件，其特征在于，
3.根据权利要求2所述的辅助组件，其特征在于，
4.根据权利要求3所述的辅助组件，其特征在于，
5.根据权利要求4所述的辅助组件，其特征在于，
6.根据权利要求2所述的辅助组件，其特征在于，
7.根据权利要求6所述的辅助组件，其特征在于，
8.根据权利要求7所述的辅助组件，其特征在于，
9.根据权利要求4或7所述的辅助组件，其特征在于，<...
【专利技术属性】
技术研发人员：郝玮鸣，祁帆，刘畅，蔡鹏飞，
申请(专利权)人：NANO科技北京有限公司，
类型：发明
国别省市：
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