【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于微带均衡器设计，具体涉及利用贴片薄膜电阻对微带均衡器进行频率调试的方法。
技术介绍
1、微带均衡器是微波器件的重要组成部分，用来对放大器件非线性增益所引起的输出幅度不平坦度进行补偿修正，在电子装备和高精度微波测量系统中有着广泛的应用。
2、微带均衡器针对不同均衡目标具有任意性，因此目前还没有一套成熟的综合设计方法。国内外目前普遍采用调整谐振枝节宽度和长度的方式对微带均衡器进行仿真设计，多采用调整枝节长度法。而为了使微带均衡器满足衰减特性与给定的误差曲线逐点拟和的要求，必须使其频率可调、衰减可调和品质因数可调。例如，硕士论文《小型化2-6.2ghz增益均衡器的设计与实现》(2022年第01期)公开了基于计算优化设计法对2-6.2ghz增益均衡器的结构设计，增益均衡器的电路结构如图1所示，通过在仿真中改变谐振器尺寸使其频率可调，改变加载到微带谐振器的薄膜电阻阻值和位置使其衰减可调、品质因数可调。
3、大量hfss仿真(高频结构仿真)及实验证明上述计算优化设计法很适合微带均衡器的设计制造，但是对于特定微带均衡器指标，由于微带均衡器针对不同均衡目标的任意性，只通过改变谐振枝节长度、宽度，以及薄膜电阻阻值和位置很难，甚至是不能达到需要得到的部分频段的衰减指标，常用实验方法对于要求苛刻的场合无法适用。
技术实现思路
1、针对上述计算优化设计法中存在的问题，本专利技术提供了利用贴片薄膜电阻对微带均衡器进行频率调试的方法，利用三维建模电阻，调试均衡器的衰减特性
2、本专利技术所采用的技术方案如下：
3、利用贴片薄膜电阻对微带均衡器进行频率调试的方法，包括以下步骤：
4、步骤1、确定微带均衡器的衰减曲线指标，基于计算优化设计法设计微带均衡器，具体为：
5、根据衰减曲线指标，确定微带均衡器电路拓扑结构以及谐振枝节数目；利用二维仿真软件，仿真确定谐振枝节的微带谐振结构，得到初始微带均衡器电路，导入至hfss中进行建模仿真，通过调节谐振枝节的长度和宽度改变谐振频率，并通过调节rlc边界条件改变贴片薄膜电阻的阻值，进而调整衰减量和q值，得到部分频点的衰减量小于衰减曲线指标的微带均衡器电路；
6、步骤2、根据实际采用的贴片薄膜电阻的材料和尺寸，在hfss中建模三维电阻，以代替hfss中的rlc边界条件，通过调整三维电阻中电阻体的导电浆料导电率，以改变贴片薄膜电阻的阻值，进而调整微带均衡器电路的衰减特性曲线。
7、进一步地，在步骤2之后，还包括调节小于衰减曲线指标的部分频点的衰减量的步骤，具体为：
8、采用电阻层叠的方式，并联多个贴片薄膜电阻，以调节寄生并联电容，进而对部分频点的衰减量进行调试，得到接近衰减曲线指标的微带均衡器。
9、进一步地，随着层叠的贴片薄膜电阻个数的增加，部分频点的衰减量更趋近于接近衰减曲线指标。
10、进一步地，所述二维仿真软件为ads或sonnet。
11、进一步地，步骤2通过建模三维电阻模拟实际寄生效应，以引入寄生并联电容和寄生串联电感。
12、与现有技术相比，本专利技术的有益效果如下：
13、1、本专利技术提出的利用贴片薄膜电阻对微带均衡器进行频率调试的方法，在传统的计算优化设计法设计微带均衡器的基础上，通过在hfss中建模三维电阻，引入真实存在的寄生并联电容和寄生串联电感，通过调整电阻体的导电浆料导电率来改变电阻值，进而调试微带均衡器的衰减特性曲线，对比实测s参数曲线和仿真s参数曲线，可以得到利用贴片薄膜电阻进行谐振频率调试的实验方法的可行性；
14、2、优选地，本专利技术在调整电阻体的导电浆料导电率之后，还增加了通过电阻层叠的方式并联多个贴片薄膜电阻的步骤，以增大寄生并联电容，进而调节部分频点的衰减量，实现特定频点衰减量的微带均衡器仿真，得到满足较为苛刻的均衡器指标的微带均衡器实物。
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1.利用贴片薄膜电阻对微带均衡器进行频率调试的方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述利用贴片薄膜电阻对微带均衡器进行频率调试的方法，其特征在于，在步骤2之后，还包括调节小于衰减曲线指标的部分频点的衰减量的步骤，具体为：
3.根据权利要求1所述利用贴片薄膜电阻对微带均衡器进行频率调试的方法，其特征在于，所述二维仿真软件为ADS或Sonnet。
【技术特征摘要】
1.利用贴片薄膜电阻对微带均衡器进行频率调试的方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述利用贴片薄膜电阻对微带均衡器进行频率调试的方法，其特征在于，在步骤2之后，还包...
【专利技术属性】
技术研发人员：曾成，张晓雨，王占平，宁俊松，补世荣，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：
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