【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及计算机，尤其涉及一种项目缺陷统计方法、设备、存储介质及装置。
技术介绍
1、目前，在统计缺陷信息时，通常只能人工统计缺陷信息，从而存在费时费力、效率低的缺陷。
2、上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
技术实现思路
1、本专利技术的主要目的在于提供一种项目缺陷统计方法、设备、存储介质及装置，旨在解决现有技术中在统计缺陷信息时，通常只能人工统计缺陷信息，从而存在费时费力、效率低的技术问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供一种项目缺陷统计方法，所述项目缺陷统计方法包括以下步骤：
3、根据目标项目信息确定多个缺陷统计维度；
4、基于所述缺陷统计维度获取目标项目在交付过程中的缺陷信息；
5、根据所述缺陷信息统计所述目标项目的项目缺陷。
6、可选地，所述项目缺陷包括：有效缺陷信息、缺陷类型信息、缺陷修复信息、缺陷分布信息以及缺陷燃尽图中的至少一种。
7、可选地，所述有效缺陷信息包括：缺陷有效率和/或有效缺陷总数。
8、可选地，所述缺陷类型信息包括：中断缺陷占比、低级缺陷占比以及再次修复缺陷占比中的至少一种。
9、可选地，所述缺陷修复信息包括：缺陷修复率、缺陷日清率、缺陷平均修复时长以及缺陷修复情况中的至少一种。
10、可选地，所述缺陷分布信息包括：缺陷优先级分布、缺陷严重等级分布以及缺陷提交人分布中的至少一种。>
11、可选地，所述缺陷燃尽图包括：新增缺陷数和已修复缺陷数。
12、可选地，所述根据目标项目信息确定多个缺陷统计维度的步骤，包括：
13、根据目标项目信息确定目标项目的项目类型；
14、根据所述项目类型确定所述目标项目的多个缺陷统计维度。
15、可选地，所述根据所述项目类型确定所述目标项目的多个缺陷统计维度的步骤，包括：
16、获取所述目标项目的项目需求；
17、根据所述项目类型和所述项目需求确定所述目标项目的多个缺陷统计维度。
18、可选地，所述根据所述缺陷信息统计所述目标项目的项目缺陷的步骤之后，还包括：
19、根据所述项目缺陷生成所述目标项目的开发日志；
20、基于所述开发日志优化所述目标项目的开发流程。
21、可选地，所述基于所述开发日志优化所述目标项目的开发流程的步骤，包括：
22、获取所述目标项目的开发人员信息；
23、基于所述开发日志和所述开发人员信息优化所述目标项目的开发流程。
24、此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种项目缺陷统计设备，所述项目缺陷统计设备包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的项目缺陷统计程序，所述项目缺陷统计程序配置为实现如上文所述的项目缺陷统计方法。
25、此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有项目缺陷统计程序，所述项目缺陷统计程序被处理器执行时实现如上文所述的项目缺陷统计方法。
26、此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种项目缺陷统计装置，所述项目缺陷统计装置包括：维度确定模块、信息获取模块以及缺陷统计模块；
27、所述维度确定模块，用于根据目标项目信息确定多个缺陷统计维度；
28、所述信息获取模块，用于基于所述缺陷统计维度获取目标项目在交付过程中的缺陷信息；
29、所述缺陷统计模块，用于根据所述缺陷信息统计所述目标项目的项目缺陷。
30、可选地，所述项目缺陷包括：有效缺陷信息、缺陷类型信息、缺陷修复信息、缺陷分布信息以及缺陷燃尽图中的至少一种。
31、可选地，所述有效缺陷信息包括：缺陷有效率和/或有效缺陷总数。
32、可选地，所述缺陷类型信息包括：中断缺陷占比、低级缺陷占比以及再次修复缺陷占比中的至少一种。
33、可选地，所述缺陷修复信息包括：缺陷修复率、缺陷日清率、缺陷平均修复时长以及缺陷修复情况中的至少一种。
34、可选地，所述缺陷分布信息包括：缺陷优先级分布、缺陷严重等级分布以及缺陷提交人分布中的至少一种。
35、可选地，所述缺陷燃尽图包括：新增缺陷数和已修复缺陷数。
36、在本专利技术中，公开了根据目标项目信息确定多个缺陷统计维度，基于所述缺陷统计维度获取目标项目在交付过程中的缺陷信息，根据所述缺陷信息统计所述目标项目的项目缺陷；由于本专利技术从多个缺陷统计维度自动统计目标项目在交付过程中的项目缺陷，从而能够提高缺陷统计效率，提升缺陷统计的全面性。
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1.一种项目缺陷统计方法，其特征在于，所述项目缺陷统计方法包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的项目缺陷统计方法，其特征在于，所述项目缺陷包括：有效缺陷信息、缺陷类型信息、缺陷修复信息、缺陷分布信息以及缺陷燃尽图中的至少一种。
3.如权利要求2所述的项目缺陷统计方法，其特征在于，所述有效缺陷信息包括：缺陷有效率和/或有效缺陷数。
4.如权利要求2所述的项目缺陷统计方法，其特征在于，所述缺陷类型信息包括：中断缺陷占比、低级缺陷占比以及再次修复缺陷占比中的至少一种。
5.如权利要求2所述的项目缺陷统计方法，其特征在于，所述缺陷修复信息包括：缺陷修复率、缺陷日清率、缺陷平均修复时长以及缺陷修复情况中的至少一种。
6.如权利要求2所述的项目缺陷统计方法，其特征在于，所述缺陷分布信息包括：缺陷优先级分布、缺陷严重等级分布以及缺陷提交人分布中的至少一种。
7.如权利要求2所述的项目缺陷统计方法，其特征在于，所述缺陷燃尽图包括：新增缺陷数和已修复缺陷数。
8.一种项目缺陷统计设备，其特征在于，所述项目缺陷统计设
9.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有项目缺陷统计程序，所述项目缺陷统计程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的项目缺陷统计方法。
10.一种项目缺陷统计装置，其特征在于，所述项目缺陷统计装置包括：维度确定模块、信息获取模块以及缺陷统计模块；
...【技术特征摘要】
1.一种项目缺陷统计方法，其特征在于，所述项目缺陷统计方法包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的项目缺陷统计方法，其特征在于，所述项目缺陷包括：有效缺陷信息、缺陷类型信息、缺陷修复信息、缺陷分布信息以及缺陷燃尽图中的至少一种。
3.如权利要求2所述的项目缺陷统计方法，其特征在于，所述有效缺陷信息包括：缺陷有效率和/或有效缺陷数。
4.如权利要求2所述的项目缺陷统计方法，其特征在于，所述缺陷类型信息包括：中断缺陷占比、低级缺陷占比以及再次修复缺陷占比中的至少一种。
5.如权利要求2所述的项目缺陷统计方法，其特征在于，所述缺陷修复信息包括：缺陷修复率、缺陷日清率、缺陷平均修复时长以及缺陷修复情况中的至少一种。
6.如权利要求2所述的项目缺陷统计方法，其特征在于，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄威，高圣庆，刘建新，高霞飞，
申请(专利权)人：北京奇虎科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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