【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学材料的光谱检测领域，特别涉及一种光谱检测装置和光源品质筛选方法。
技术介绍
1、在光谱检测方面，通常采用光谱仪对发光元件的光参数进行测量。光谱仪的测量是有一定范围，对于高亮的光线，高亮光线的光强超出光谱仪的测量范围，光谱仪会出现饱和，导致测得的光谱曲线不完整。所以对于不同强度的测量，使用不同的衰减片将光强进行减弱再进行测量。例如，若光谱仪测量相对强度在0~65535，则光谱仪的测量结果只能显示65535的值。如果待测光束的光强在90000，则可以使用50%的衰减片将待测光束的光强衰减至0~65535的范围内（90000*50%=45000），从而匹配光谱仪的测量范围。因此对于不同强度的光束，就必须使用不同的衰减片切换进行光强衰减来实现光谱测量。
2、相关技术中，光谱检测装置需要切换不同的衰减片以将不同光束的强度转化至光谱仪可测量的范围内，切换衰减片时会使光谱检测装置产生大幅度的动作，容易导致光谱检测装置的精度受到影响。
技术实现思路
1、本专利技术的主要目的是提出一种光谱检测装置和光源品质筛选方法，能够保证光谱检测装置长时间使用时的精度。
2、为实现上述目的，本专利技术第一方面的实施例提出一种光谱检测装置，包括安装台、光阑组件和驱动组件。光阑组件包括光阑外圈以及光圈叶片，光阑外圈固定于安装台，光圈叶片包括穿设于光阑外圈的拨杆。驱动组件包括驱动部以及传动部，传动部包括套壳，套壳包括第一壳体和第二壳体，待测光源的光路依次经过第一壳体和第二壳体。
3、在一些实施例中，驱动部包括蜗杆，驱动齿轮包括蜗轮，蜗轮套设于第二壳体背离第一壳体的一侧，蜗杆驱动蜗轮转动。
4、在一些实施例中，光谱检测装置包括第一紧固件，驱动齿轮还包括第一凸缘，第一凸缘围绕蜗轮的周向布置且朝蜗轮靠近待测光源的一侧延伸，沿第一凸缘的周向，第一凸缘设置第一安装孔，第一紧固件贯通第一安装孔并连接第二壳体，以固定第二壳体相对于蜗轮的位置。
5、在一些实施例中，光谱检测装置包括转动轴承，转动轴承套设于第二壳体靠近第一壳体的一侧，光谱检测装置包括第二紧固件，安装台设有与转动轴承对应的第二安装孔，第二紧固件贯通第二安装孔并连接转动轴承，以将转动轴承固定于安装台。
6、在一些实施例中，驱动齿轮包括第二凸缘，转动轴承包括第三凸缘，第三凸缘设置于转动轴承内圈且沿转动轴承的轴向延伸，第二凸缘抵接第三凸缘。
7、在一些实施例中，转动轴承朝向待测光源的一侧抵接第一壳体。
8、在一些实施例中，光谱检测装置包括第三紧固件，安装台设有与光阑外圈对应的第三安装孔，第三紧固件贯通第三安装孔并连接光阑外圈，以固定光阑外圈相对于安装台的位置。
9、在一些实施例中，第一壳体包括插槽，插槽设于第一壳体靠近光阑外圈的一侧且沿光路的传递方向延伸，拨杆位于插槽内，光阑外圈包括滑动轨道，滑动轨道沿光阑外圈的周向布置，插槽朝向拨杆的壁面抵接拨杆，第一壳体转动并推动拨杆在滑动轨道内滑动。
10、在一些实施例中，光谱检测装置包括检测组件、积分球、遮光罩和位置传感器，位置传感器安装于光阑组件，用于监测光阑组件的位置，检测组件包括准直透镜和光谱仪，准直透镜连接于光谱仪朝向待测光源的一侧，积分球位于待测光源和安装台之间，光路依次穿过积分球、安装台、光阑组件和驱动组件，最终到达检测组件，遮光罩用于防止外部环境杂散光线对光谱检测装置的干扰。
11、在一些实施例中，本专利技术第二方面的一些实施例还提供了一种光源品质筛选方法，包括上述任一实施例的光谱检测装置，光源品质筛选方法还包括以下步骤：
12、取量产光源中有代表性的标准光源，调节光谱检测装置的光阑组件，获取标准光源的完整光谱曲线，将完整光谱曲线作为标准光谱曲线；
13、在测试机上对标准光源进行测量，调节测试机的光阑组件以得到与标准光谱曲线一致的光谱曲线；
14、通过位置传感器记录测试机的光阑组件的位置信息；
15、测试机批量测试同型号的量产光源，并区分量产光源的品质优劣。
16、根据上述实施例，本专利技术的有益效果是：
17、本专利技术的光谱检测装置包括安装台、光阑组件和驱动组件。光阑组件包括光阑外圈和光圈叶片，光阑外圈固定于安装台上，光圈叶片包括拨杆，拨杆穿设于光阑外圈实现光圈叶片和光阑外圈的连接，驱动组件驱动拨杆相对于光阑外圈转动，从而调节光圈叶片通光孔的大小，进而调节光谱检测装置的进光量。驱动组件包括驱动部及传动部，传动部包括套壳，套壳套设于光阑外圈。具体的，套壳包括第一壳体和第二壳体，待测光源的光路依次经过第一壳体和第二壳体。沿光路的传递方向，第二壳体在垂直于光路的平面上的投影位于第一壳体在垂直于光路的平面上的投影的内侧，如此设置便于口径较大的第一壳体套设于光阑外圈，且便于口径较小的第二壳体进行聚光。
18、套壳的第二壳体连接驱动部，驱动部能够驱动套壳转动。套壳的第一壳体套设于光阑外圈，光圈叶片的拨杆插设于光阑外圈，驱动部驱动套壳转动时，第一壳体能够拨动光圈叶片的拨杆，从而使光圈叶片转动，从而调节光圈叶片通光孔的大小，进而调节光谱检测装置的进光量。将用于拨动拨杆的第一壳体以及用于引导光路和遮光的第二壳体均配置成套壳的一部分，能够减少装置所需零件，使装置结构紧凑。
19、驱动部包括驱动齿轮，通过驱动齿轮的转动推动拨杆，使光圈叶片随着驱动齿轮的转动而转动，故能够无级调节光圈叶片通光孔的大小，从而实现无级调节光谱检测装置的进光量，提高光谱检测装置的精度。
20、第二壳体远离第一壳体的一侧与驱动部配合，第二壳体靠近第一壳体的一侧与安装台转动连接，第一壳体套设于光阑外圈用于拨动拨杆。套壳的受驱位置、转动位置和驱动拨杆的驱动位置呈三级分布，其中转动位置位于套壳的中段，使套壳在工作过程中受力均衡，不容易偏轴，能够防止扭曲光路，从而提高光谱检测装置的精度。
21、本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种光谱检测装置，其特征在于，所述光谱检测装置包括：
2.根据权利要求1所述的光谱检测装置，其特征在于，所述驱动部包括蜗杆，所述驱动齿轮包括蜗轮，所述蜗轮套设于所述第二壳体背离所述第一壳体的一侧，所述蜗杆驱动所述蜗轮转动。
3.根据权利要求2所述的光谱检测装置，其特征在于，所述光谱检测装置包括第一紧固件，所述驱动齿轮还包括第一凸缘，所述第一凸缘围绕所述蜗轮的周向布置且朝所述蜗轮靠近所述待测光源的一侧延伸，沿所述第一凸缘的周向，所述第一凸缘设置第一安装孔，所述第一紧固件贯通所述第一安装孔并连接所述第二壳体，以固定所述第二壳体相对于所述蜗轮的位置。
4.根据权利要求1所述的光谱检测装置，其特征在于，所述光谱检测装置包括转动轴承，所述转动轴承套设于所述第二壳体靠近所述第一壳体的一侧，所述光谱检测装置包括第二紧固件，所述安装台设有与所述转动轴承对应的第二安装孔，所述第二紧固件贯通所述第二安装孔并连接所述转动轴承，以将所述转动轴承固定于所述安装台。
5.根据权利要求4所述的光谱检测装置，其特征在于，所述驱动齿轮包括第二凸缘，所述转动轴承包
6.根据权利要求4所述的光谱检测装置，其特征在于，所述转动轴承朝向所述待测光源的一侧抵接所述第一壳体。
7.根据权利要求1所述的光谱检测装置，其特征在于，所述光谱检测装置包括第三紧固件，所述安装台设有与所述光阑外圈对应的第三安装孔，所述第三紧固件贯通所述第三安装孔并连接所述光阑外圈，以固定所述光阑外圈相对于所述安装台的位置。
8.根据权利要求1所述的光谱检测装置，其特征在于，所述第一壳体包括插槽，所述插槽设于所述第一壳体靠近所述光阑外圈的一侧且沿所述光路的传递方向延伸，所述拨杆位于所述插槽内，所述光阑外圈包括滑动轨道，所述滑动轨道沿所述光阑外圈的周向布置，所述插槽朝向所述拨杆的壁面抵接所述拨杆，所述第一壳体转动并推动所述拨杆在所述滑动轨道内滑动。
9.根据权利要求1所述的光谱检测装置，其特征在于，所述光谱检测装置包括检测组件、积分球、遮光罩和位置传感器，所述位置传感器安装于所述光阑组件，用于监测所述光阑组件的位置，所述检测组件包括准直透镜和光谱仪，所述准直透镜连接于所述光谱仪朝向所述待测光源的一侧，所述积分球位于所述待测光源和所述安装台之间，所述光路依次穿过所述积分球、所述安装台、所述光阑组件和所述驱动组件，最终到达所述检测组件，所述遮光罩用于防止外部环境杂散光线对所述光谱检测装置的干扰。
10.一种光源品质筛选方法，使用权利要求1至9任一项所述的光谱检测装置，其特征在于，所述光源品质筛选方法包括以下步骤：
...【技术特征摘要】
1.一种光谱检测装置，其特征在于，所述光谱检测装置包括：
2.根据权利要求1所述的光谱检测装置，其特征在于，所述驱动部包括蜗杆，所述驱动齿轮包括蜗轮，所述蜗轮套设于所述第二壳体背离所述第一壳体的一侧，所述蜗杆驱动所述蜗轮转动。
3.根据权利要求2所述的光谱检测装置，其特征在于，所述光谱检测装置包括第一紧固件，所述驱动齿轮还包括第一凸缘，所述第一凸缘围绕所述蜗轮的周向布置且朝所述蜗轮靠近所述待测光源的一侧延伸，沿所述第一凸缘的周向，所述第一凸缘设置第一安装孔，所述第一紧固件贯通所述第一安装孔并连接所述第二壳体，以固定所述第二壳体相对于所述蜗轮的位置。
4.根据权利要求1所述的光谱检测装置，其特征在于，所述光谱检测装置包括转动轴承，所述转动轴承套设于所述第二壳体靠近所述第一壳体的一侧，所述光谱检测装置包括第二紧固件，所述安装台设有与所述转动轴承对应的第二安装孔，所述第二紧固件贯通所述第二安装孔并连接所述转动轴承，以将所述转动轴承固定于所述安装台。
5.根据权利要求4所述的光谱检测装置，其特征在于，所述驱动齿轮包括第二凸缘，所述转动轴承包括第三凸缘，所述第三凸缘设置于所述转动轴承内圈且沿所述转动轴承的轴向延伸，所述第二凸缘抵接所述第三凸缘。
6.根据权利要求4所述的光谱检测装置，其特征在于，所述转动轴承朝向所述待测光源的一...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴贵阳，
申请(专利权)人：矽电半导体设备深圳股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。