一种可控硅元器件检测设备制造技术

技术编号:41639141 阅读:3 留言:0更新日期:2024-06-13 02:33
本技术属于元件检测技术领域,尤其为一种可控硅元器件检测设备,包括检测盒,本技术通过设置竖板、滑杆、滑块、矩形夹持板、插条、弧形夹持板和减速电机,使用时根据元器件形状选择性安装弧形夹持板,将两组拉块向相远离的方向拉动,拉块带动滑块,滑块通过连接杆带动矩形夹持板和弧形夹持板,接着再将待检测元器件放在两组矩形夹持板或弧形夹持板之间,然后松开拉块,受到第二弹簧的推力,夹持板与元器件贴合实现对元器件的固定,弧形夹持板的便捷式拆装能够实现对不同形状元器件的固定,检测完毕后可通过启动减速电机对元器件进行翻转,对其他部位进行检测,无需频繁将其取下、固定,提高了设备的检测效率。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及元件检测,尤其涉及一种可控硅元器件检测设备


技术介绍

1、可控硅在性能上,不仅具有单向导电性,而且还具有比硅整流元件(谷称“死硅”)更为可贵的可控性,它只有导通和关断两种状态,可控硅能以毫安级电流控制大功率的机电设备,如果超过此频率,因元件开关损髦显著增加,允许通过的平均电流相降低,此时,标称电流应降级使用,在可控元器件生产完毕后需要利用检测设备对其性能好坏进行检测。

2、但是现有设备中,不具备转动功能的夹持结构,在对元器件的某一部分检测完毕后,需要将其取下重新固定对另一部分进行检测,频繁的固定会降低设备的检测效率,此提出一种可控硅元器件检测设备。


技术实现思路

1、本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的一种可控硅元器件检测设备。

2、为了实现上述目的,本技术采用了如下技术方案:一种可控硅元器件检测设备,包括检测盒,所述检测盒的正面设有密封门,所述检测盒的一侧固定设有减速电机,所述检测盒的顶部内壁上固定设有检测探头,所述检测盒内设有两个伸缩结构,所述减速电机的输出端与其中一个所述伸缩结构固定连接,另一个所述伸缩结构与检测盒的一侧内壁活动连接,两个所述伸缩结构相靠近的一侧均设有夹持结构。

3、作为上述技术方案的进一步描述:

4、所述伸缩结构包括外套筒,所述外套筒的一侧内壁上固定设有第一弹簧,所述外套筒内活动设有伸缩杆,所述伸缩杆的一端和第一弹簧固定连接,所述外套筒上活动设有定位螺栓。

5、作为上述技术方案的进一步描述:

6、所述外套筒上设有圆孔,所述圆孔内壁设有螺纹,所述定位螺栓和圆孔内壁螺纹相适配,所述伸缩杆的外部设有多个定位孔,所述定位螺栓和定位孔相适配。

7、作为上述技术方案的进一步描述:

8、所述夹持结构包括与伸缩杆固定安装的竖板,所述竖板的一侧设有两个滑槽,两个所述滑槽内均固定设有滑杆,两个所述滑杆内均活动设有滑块,所述滑块的一侧固定设有拉块和两个连接杆,两个所述连接杆远离竖板的一侧固定设有同一个矩形夹持板,所述矩形夹持板上活动设有弧形夹持板。

9、作为上述技术方案的进一步描述:

10、每组所述矩形夹持板相靠近的一面均设有两个插槽,每组所述弧形夹持板相远离的一面均固定设有两个插条,所述插条和插槽活动连接。

11、作为上述技术方案的进一步描述:

12、所述滑块上设有圆孔,圆孔内壁设有密封圈,所述密封圈内壁和滑杆活动连接,所述滑杆上套设有第二弹簧,所述第二弹簧的两端分别与滑槽内壁与滑块的一侧固定连接。

13、本技术具有如下有益效果:

14、1、与现有技术相比,该可控硅元器件检测设备,通过设置竖板、滑杆、滑块、矩形夹持板、插条、弧形夹持板和减速电机,使用时根据元器件形状选择性安装弧形夹持板,将两组拉块向相远离的方向拉动,拉块带动滑块,滑块通过连接杆带动矩形夹持板和弧形夹持板,接着再将待检测元器件放在两组矩形夹持板或弧形夹持板之间,然后松开拉块,受到第二弹簧的推力,夹持板与元器件贴合实现对元器件的固定,弧形夹持板的便捷式拆装能够实现对不同形状元器件的固定,检测完毕后可通过启动减速电机对元器件进行翻转,对其他部位进行检测,无需频繁将其取下、固定,提高了设备的检测效率。

15、2、与现有技术相比,该可控硅元器件检测设备,通过设置外套筒、第一弹簧、伸缩杆和定位螺栓,在固定元器件之前可通调节伸缩杆的伸缩长度,从而控制两个夹持结构之间的距离,完成对不同长度元器件的固定,提高设备的适用范围。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种可控硅元器件检测设备,包括检测盒(1),其特征在于:所述检测盒(1)的正面设有密封门(2),所述检测盒(1)的一侧固定设有减速电机(3),所述检测盒(1)的顶部内壁上固定设有检测探头(4),所述检测盒(1)内设有两个伸缩结构(5),所述减速电机(3)的输出端与其中一个所述伸缩结构(5)固定连接,另一个所述伸缩结构(5)与检测盒(1)的一侧内壁活动连接,两个所述伸缩结构(5)相靠近的一侧均设有夹持结构(6)。

2.根据权利要求1所述的一种可控硅元器件检测设备,其特征在于:所述伸缩结构(5)包括外套筒(501),所述外套筒(501)的一侧内壁上固定设有第一弹簧(502),所述外套筒(501)内活动设有伸缩杆(503),所述伸缩杆(503)的一端和第一弹簧(502)固定连接,所述外套筒(501)上活动设有定位螺栓(504)。

3.根据权利要求2所述的一种可控硅元器件检测设备,其特征在于:所述外套筒(501)上设有圆孔,所述圆孔内壁设有螺纹,所述定位螺栓(504)和圆孔内壁螺纹相适配,所述伸缩杆(503)的外部设有多个定位孔,所述定位螺栓(504)和定位孔相适配。

4.根据权利要求1所述的一种可控硅元器件检测设备,其特征在于:所述夹持结构(6)包括与伸缩杆(503)固定安装的竖板(601),所述竖板(601)的一侧设有两个滑槽,两个所述滑槽内均固定设有滑杆(602),两个所述滑杆(602)内均活动设有滑块(603),所述滑块(603)的一侧固定设有拉块(604)和两个连接杆(605),两个所述连接杆(605)远离竖板(601)的一侧固定设有同一个矩形夹持板(606),所述矩形夹持板(606)上活动设有弧形夹持板(608)。

5.根据权利要求4所述的一种可控硅元器件检测设备,其特征在于:每组所述矩形夹持板(606)相靠近的一面均设有两个插槽,每组所述弧形夹持板(608)相远离的一面均固定设有两个插条(607),所述插条(607)和插槽活动连接。

6.根据权利要求4所述的一种可控硅元器件检测设备,其特征在于:所述滑块(603)上设有圆孔,圆孔内壁设有密封圈,所述密封圈内壁和滑杆(602)活动连接,所述滑杆(602)上套设有第二弹簧,所述第二弹簧的两端分别与滑槽内壁与滑块(603)的一侧固定连接。

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【技术特征摘要】

1.一种可控硅元器件检测设备,包括检测盒(1),其特征在于:所述检测盒(1)的正面设有密封门(2),所述检测盒(1)的一侧固定设有减速电机(3),所述检测盒(1)的顶部内壁上固定设有检测探头(4),所述检测盒(1)内设有两个伸缩结构(5),所述减速电机(3)的输出端与其中一个所述伸缩结构(5)固定连接,另一个所述伸缩结构(5)与检测盒(1)的一侧内壁活动连接,两个所述伸缩结构(5)相靠近的一侧均设有夹持结构(6)。

2.根据权利要求1所述的一种可控硅元器件检测设备,其特征在于:所述伸缩结构(5)包括外套筒(501),所述外套筒(501)的一侧内壁上固定设有第一弹簧(502),所述外套筒(501)内活动设有伸缩杆(503),所述伸缩杆(503)的一端和第一弹簧(502)固定连接,所述外套筒(501)上活动设有定位螺栓(504)。

3.根据权利要求2所述的一种可控硅元器件检测设备,其特征在于:所述外套筒(501)上设有圆孔,所述圆孔内壁设有螺纹,所述定位螺栓(504)和圆孔内壁螺纹相适配,所述伸缩杆(503)的外部设有多个定位孔,所述定位螺栓(504)和定位...

【专利技术属性】
技术研发人员:张青陈华穆连和
申请(专利权)人:江苏吉莱微电子股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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