【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及数据处理，尤其涉及一种剩余时差的校正方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、随着海上油气勘探开发不断深入，面临复杂地质条件下的精细构造解释、储层预测、油藏描述，以及小断层、小构造和小岩性体等小尺度勘探与地质刻画，因此，需要高信噪比和高分辨率的地震资料。由于地下介质的复杂性、速度误差与偏移成像方法精度的限制，地震成像道集中通常存在剩余时差，表现为同相轴校正不平，难以满足地震成像与叠前反演等处理解释环节的需求。
2、目前，常用的成像道集域的剩余时差校正方式主要包括：(1)基于相关算法的地表一致性剩余时差校正方法,即通过相关拾取地震道时移量进行反演，分解得到炮、检点剩余时差量，此类方法计算效率相对较高，但当地下构造复杂或资料信噪比偏低时，可能产生“周期跳跃”，容易导致校正失效。(2)基于非地表一致性假设的剩余时差校正方法，例如trim剩余时差校正。该方法需要准确控制剩余时差校正参数，否则校正处理结果容易产生假构造；(3)基于全局寻优算法的剩余时差校正方法，该方式在低信噪比、复杂地下构造区应用时，局部收敛过慢，全局搜索能力会得到抑制，计算结果难以预知，需要研究人员具有丰富的经验，同时，该方式计算效率低。另外，现有剩余静校正方法均未涉及断层构造保护，在断层发育位置易过度拟合，进而导致断点模糊，使成像数据体中会出现“断点不干脆、同相轴黏连”的现象，为断层的识别与分析带来困难。
技术实现思路
1、本专利技术提供了一种剩余时差的校正方法、装置、设备及存储介质，以解
2、根据本专利技术的一方面，提供了一种剩余时差的校正方法，所述方法包括：
3、获取目标成像点关联的成像道集，根据所述成像道集，确定模型剖面；
4、根据预设尺度集合，对所述模型剖面进行分量提取，得到尺度集合中各尺度匹配的分量剖面，并确定各尺度匹配的成像道集分量；
5、根据各尺度匹配的成像道集分量以及各尺度匹配的分量剖面，确定各尺度匹配的剩余时差；
6、根据各尺度匹配的剩余时差以及预先确定的断层信息剖面，对各尺度匹配的成像道集分量进行校正，得到各尺度匹配的成像道集校正分量；
7、根据各尺度匹配的成像道集校正分量，确定所述成像道集的剩余时差校正结果。
8、根据本专利技术的另一方面，提供了一种剩余时差的校正装置，所述装置包括：
9、模型剖面确定模块，用于获取目标成像点关联的成像道集，根据所述成像道集，确定模型剖面；
10、分量数据确定模块，用于根据预设尺度集合，对所述模型剖面进行分量提取，得到尺度集合中各尺度匹配的分量剖面，并确定各尺度匹配的成像道集分量；
11、剩余时差确定模块，用于根据各尺度匹配的成像道集分量以及各尺度匹配的分量剖面，确定各尺度匹配的剩余时差；
12、校正分量确定模块，用于根据各尺度匹配的剩余时差以及预先确定的断层信息剖面，对各尺度匹配的成像道集分量进行校正，得到各尺度匹配的成像道集校正分量；
13、校正结果确定模块，用于根据各尺度匹配的成像道集校正分量，确定所述成像道集的剩余时差校正结果。
14、根据本专利技术的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
15、至少一个处理器；以及
16、与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
17、所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本专利技术任一实施例所述的剩余时差的校正方法。
18、根据本专利技术的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术任一实施例所述的剩余时差的校正方法。
19、本专利技术实施例的技术方案，通过获取目标成像点关联的成像道集，根据所述成像道集，确定模型剖面；根据预设尺度集合，对所述模型剖面进行分量提取，得到尺度集合中各尺度匹配的分量剖面，并确定各尺度匹配的成像道集分量；根据各尺度匹配的成像道集分量以及各尺度匹配的分量剖面，确定各尺度匹配的剩余时差；根据各尺度匹配的剩余时差以及预先确定的断层信息剖面，对各尺度匹配的成像道集分量进行校正，得到各尺度匹配的成像道集校正分量；根据各尺度匹配的成像道集校正分量，确定所述成像道集的剩余时差校正结果。该技术方案通过以断层信息剖面为构造导向，利用剩余时差与断层信息道来优化剩余时差，解决了在断层发育位置进行剩余时差校正导致的叠加数据振幅畸变问题，避免了成像数据体中出现“断点不干脆、同相轴黏连”的现象，在保护断层构造的同时，获得了同相轴连续性更好、信噪比更高的叠加剖面。
20、应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
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1.一种剩余时差的校正方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述成像道集，确定模型剖面，包括:
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据预设尺度集合，对所述模型剖面进行分量提取，得到尺度集合中各尺度匹配的分量剖面，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定各尺度匹配的成像道集分量，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据各尺度匹配的成像道集分量以及各尺度匹配的分量剖面，确定各尺度匹配的剩余时差，包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在根据各尺度匹配的剩余时差以及预先确定的断层信息剖面，对各尺度匹配的成像道集分量进行校正之前，所述方法还包括:
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据各尺度匹配的剩余时差以及预先确定的断层信息剖面，对各尺度匹配的成像道集分量进行校正，得到各尺度匹配的成像道集校正分量，包括：
8.一种剩余时差的校正装置，其特征在于，所述装置包括：
9.一种电子设备
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的剩余时差的校正方法。
...【技术特征摘要】
1.一种剩余时差的校正方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述成像道集，确定模型剖面，包括:
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据预设尺度集合，对所述模型剖面进行分量提取，得到尺度集合中各尺度匹配的分量剖面，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定各尺度匹配的成像道集分量，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据各尺度匹配的成像道集分量以及各尺度匹配的分量剖面，确定各尺度匹配的剩余时差，包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在根据...
【专利技术属性】
技术研发人员：秦德文，石辉，李键，张岩，刘江，邹玮，尹文笋，俞伟哲，胡伟，李琴，
申请(专利权)人：中海石油中国有限公司上海分公司，
类型：发明
国别省市：
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