一种边缘电压值的测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种边缘电压值的测试装置，包括：用于将命令参数进行解码处理并控制输出对应的数字电压的测试卡，该测试卡的输出端连接待测试电脑主板；与测试卡的输入端连接控制装置，用于向测试卡发送命令参数，并接收待测试电脑主板反馈的测试数据，显示待测试电脑主板上中央处理器或内存的边缘电压值。本发明专利技术测试装置可以根据实际情况输出任意想要输出的电压此电压即可取代待测试主板上的参考电压（ＶＲＥＦ），从而达到取代、测试和验证的目的，实现自动化测试中央处理器或内存的边缘电压值；另外，本发明专利技术测试装置可提供３．３Ｖ以下的毫伏级精确电压，可取代任何３．３Ｖ以下的电路电压，而无需修改待测试主板上的原来电路。

Device for testing edge voltage value

Test device, the invention discloses an edge voltage value: for decoding processing and digital control output voltage corresponding to the test card will command parameters, the output of the test card is connected to the computer motherboard test; and the test card is connected with the input terminal control device used to send commands to the test card parameters, and receiving test data feedback to the computer motherboard, display the voltage edge of central processor or the value of the memory test computer motherboard. The testing device can according to the actual situation of the output voltage of the output voltage is an arbitrary reference voltage to test can replace the motherboard (VREF), so as to replace, test and verify the purpose of edge voltage test automation CPU or memory value; in addition, the testing device can provide accurate millivolt voltage 3.3V, can replace any 3.3V the following circuit voltage, without modification to the original circuit test on the motherboard.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测试装置，尤其是涉及一种可以自动对中央处理器或内存进行边缘(Margin)电压值的测试装置。
技术介绍
针对当前主流电脑制造商在电脑主板制造过程中的测试项目需求，需要对 电脑土板上的中央处理器(CPU)或内存(Memory)进行边缘(Margin)电压值的测试。然而，目前国内尚无自动对中央处理器或内存进行边缘电压值的测试装置， 因此急需开发此类测试装置。
技术实现思路
本专利技术公开一种边缘电压值的测试装置，以能够自动实现自动化测试中央 处理器或内存的边缘电压值。为达成上述目的，本专利技术公开的边缘电压值的测试装置包括用于将命令参数进行解码处理并控制输出对应的输出电压的测试卡，该测试卡的输出端连接待测试电脑主板；与测试卡的输入端连接控制装置，用于向测试卡发送命令 参数，并接收待测试电脑主板反馈的测试数据，显示待测试电脑主板上中央处 理器或内存的边缘电压值。所述测试卡包括分别用于与待测试电脑主板和控制装置连接的USB接口 ； 可调电阻单元，连接在主控制模块与输出接口之间；用于将命令参数进行解码 处理并控制可调电阻单元输出对应的输出电压的主控模块，其连接可调电阻单 元；用于将USB接口输出的5V电压转换成3. 3V电压为主控模块供电的低电压 输出模块，连接在主控模块与其中一个USB接口之间；用于接收待测试电脑主 板的信息的自动测试模块，连接在主控模块与另一个USB接口之间；用于将数 字电压输出至待测试电脑主板的输出接口，其连接保护电路；用于对可调电阻 单元输出的数字电压进行过流和过压保护的保护电路，其连接在可调电阻单元 与输出接口之间。与现有技术相比，本专利技术具有如下有益技术效果本专利技术测试装置可以根据实际情况输出任意想要输出的电压此电压即可取代待测试主板上的VREF从而达到取代、测试和验证的目的，实现自动化测试中 央处理器或内存的边缘电压值；另外，本专利技术测试装置可提供3.3V以下的毫伏级精确电压，可取代任何3.3V以下的电路电压，而无需修改待测试主板上的原来电路。 附图说明图1是本专利技术测试装置的结构示意图； 图2是图1中测试卡的电路结构示意图。具体实施例方式如图1所示，当需要测试待测试电脑主板上10的中央处理器(CPU)、或内 存(Memory)的边缘(Margin)电压值时，需要将测试卡20连接待测试电脑主 板10，且使测试卡20的输出端连接控制装置30，该控制装置可以为一台个人 电脑或服务器。结合图2所示。该测试卡20主要包括分别用于连接到待测试电脑主板10 和控制装置30的USB接口 21和22，该USB接口 21和22均包括USB连接器和 型号为PDIUSBDL2的USB1. 1驱动芯片；与USB接口 22连接的自动测试模块29， 该自动测试模块29可采用P89C52的单片机实现，用于接收待测试电脑主板10 的信息；与USB接口 21连接的低电压输出模块23，该低电压输出模块23采用 低压降(Low Dr叩0ut，LD0)线性管理芯片来实现，用于将USB接口 21输出的 +5v电压转变成3. 3v电压并输出给主控模块24，为主控模块24提供工作电源； 当控制装置30设置命令参数后，通过USB接口 21传送给主控模块24，由主控 模块24将命令参数进行解码处理，输出对应的命令控制可调电阻单元25输出 对应命令参数的数字电压；数字电压通过保护电路26后，从两个输出接口 28 和29输出给待测试电脑主板10;待测试电脑主板10将测试结果反馈至控制装 置30，由控制装置30显示中央处理器或内存的边缘电压值。另外，在进行测试时，需要从待测试电脑主板10上引出3根信号线VTT、 VREF、 GND信号线，按如图2所示方式与测试卡20连接；另外，工程师只需在 控制装置30上填写必要的软件设置即可由控制装置30产生命令参数输出。并 且，该测试卡20既可以粗调输出电压(0 255步任意调配)，也可以微调输出电 压；并在掉电后，仍然有记忆保持上次配置功能。综上，本专利技术测试装置可以根据实际情况输出任意想要输出的电压此电压 即可取代待测试主板10上的VREF从而达到取代、测试和验证的目的，实现自 动化测试中央处理器或内存的边缘电压值。另外，本专利技术测试装置可提供3.3V 以下的毫伏级精确电压，可取代任何3.3V以下的电路电压，而无需修改待测试 主板10上的原来电路。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种边缘电压值的测试装置，其特征在于，包括：　测试卡，用于将命令参数进行解码处理并控制输出对应的输出电压，该测试卡的输出端连接待测试电脑主板；　控制装置，与测试卡的输入端连接，用于向测试卡发送命令参数，并接收待测试电脑主板反馈的 测试数据，显示待测试电脑主板上中央处理器或内存的边缘电压值。

【技术特征摘要】
1、一种边缘电压值的测试装置，其特征在于，包括测试卡，用于将命令参数进行解码处理并控制输出对应的输出电压，该测试卡的输出端连接待测试电脑主板；控制装置，与测试卡的输入端连接，用于向测试卡发送命令参数，并接收待测试电脑主板反馈的测试数据，显示待测试电脑主板上中央处理器或内存的边缘电压值。2、 根据权利要求l所述的边缘电压值的测试装置，其特征在于，所述测试 卡包括7ffT入ucd 士去门 田工厶VPfl h^宍'、/iniU士出F^+if^壬ni六华lW古柴3t士承.可调电阻单元，连接在主控制模块与输出接口之间；主控模块，用于将...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈良煊，
申请(专利权)人：佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司，
类型：发明
国别省市：44[中国|广东]