【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及rfid智能卡，尤其涉及一种rfid智能卡缺陷检测方法及系统。
技术介绍
1、rfid智能卡作为一种集成了微芯片的塑料卡，在现代社会中得到了广泛的应用。它结合了计算机技术、通信技术和安全技术等多种
技术介绍
，以实现身份识别、交易、电子通讯等功能。对rfid智能卡进行喷码是一种常见的生产和标识技术，通过在rfid智能卡表面喷印标识信息，如条形码、二维码、序列号等，以实现rfid智能卡的身份识别、追溯和管理。随着rfid智能卡需求的增长，传统手工标识的方式已经无法满足大规模生产的需求，rfid智能卡喷码技术的发展实现了生产过程的自动化和高效化，大大提高了生产效率，rfid智能卡喷码所使用的设备通常是喷墨打印机或激光喷码设备，这些设备能够在rfid智能卡表面精确喷印标识信息，并且支持高速喷码，适应大规模生产的需要，同时，rfid智能卡作为重要的身份识别和数据存储媒介，对标识信息的准确性和可读性要求较高，喷码技术能够实现高精度的标识，确保标识信息清晰可辨认，不易模糊或脱落，喷码技术也使得每张rfid智能卡都可以被标记上唯一的序列号或标识信息，这为rfid智能卡的生产和物流管理提供了数据追溯的能力，方便生产商对rfid智能卡进行监控和溯源。rfid智能卡喷码通常涉及敏感信息，如个人身份信息、金融数据等，为保障标识信息的安全性，喷码技术结合了数据加密、访问控制等安全措施，确保标识信息只能被授权人员访问和修改。
2、然而，由于rfid智能卡在生产和运输过程中可能会遭受挤压、划痕或其它损坏，这些损坏的卡片进入喷码设备后，
3、为此，如何提高rfid智能卡在喷码前后的缺陷检测准确度，从而增加产品合格率是亟待解决的技术问题。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术提供了一种rfid智能卡缺陷检测方法及系统，用以解决现有技术中rfid智能卡在喷码前后的缺陷检测准确度低，产品不合格率高的问题。
2、本专利技术采用的技术方案是：
3、第一方面，本专利技术提供了一种rfid智能卡缺陷检测方法，
4、所述方法包括：
5、依据待喷印处理的rfid智能卡的特征信息，对照射到所述rfid智能卡表面的光源的光照参数进行调节；
6、依据调节后的目标光照参数，控制光源照射至所述rfid智能卡上，采集待喷印处理的所述rfid智能卡的图像进行第一次缺陷检测；
7、依据第一次缺陷检测结果，对满足预设条件的rfid智能卡进行电晕处理；
8、对电晕处理后的rfid智能卡进行喷印处理；
9、获取喷印处理完成后采集的rfid智能卡图像进行第二次缺陷检测，将第二次缺陷检测结果符合要求的智能卡沿预定路径继续传输。
10、优选地，所述依据待喷印处理的rfid智能卡的特征信息，对照射到所述rfid智能卡表面的光源的光照参数进行调节包括：
11、读取rfid智能卡上rfid标签中存储的目标标识符；
12、将所述目标标识符与数据库中的各预设标识符进行匹配，确定所述rfid智能卡的特征信息；
13、通过rfid智能卡的特征信息，获取与当前rfid智能卡特征相匹配的目标光照参数；
14、通过目标光照参数与光源的初始光照参数之间的参数差异值，对光源的光照参数进行调节。
15、优选地，所述依据调节后的目标光照参数，控制光源照射至所述rfid智能卡上，采集待喷印处理的所述rfid智能卡的图像进行第一次缺陷检测包括：
16、获取目标光照参数照射条件下采集的rfid智能卡的实时图像；
17、通过滤波处理算法和直方图均衡化方法，对所述实时图像进行预处理，确定预处理后符合缺陷检测要求的目标图像；
18、通过预设的缺陷检测方法，对所述目标图像进行第一次缺陷检测，得出所述第一次缺陷检测结果，其中，第一次检测的缺陷包括：尺寸不符合规格、凹陷、凸起和划痕。
19、优选地，所述通过预设的缺陷检测方法，对所述目标图像进行第一次缺陷检测，得出所述第一次缺陷检测结果包括：
20、通过机器视觉检测模块，对所述目标图像进行处理，获取rfid智能卡的实际尺寸和表面特征信息；
21、将分析得出的rfid智能卡的实际尺寸与预设尺寸进行比较，确定智能卡的尺寸是否符合规格；
22、将所述表面特征信息和预设特征信息进行比较，确定智能卡是否存在表面缺陷，其中，表面缺陷至少包括：凹陷、凸起和划痕；
23、若智能卡尺寸不符合规格或存在表面缺陷，则第一次缺陷检测结果为不满足所述预设条件；
24、若智能卡尺寸符合规格且不存在表面缺陷，则第一次缺陷检测结果为满足所述预设条件。
25、优选地，在获取喷印处理完成后采集的rfid智能卡图像进行第二次缺陷检测之前还包括：
26、通过所述目标标识符，获取rfid智能卡对应的预设喷印信息，其中，所述喷印信息至少包括喷印颜色和喷印位置；
27、通过所述预设喷印信息，对所述目标光照参数进行二次调整；
28、根据二次调整后的光照参数，控制光源照射至所述rfid智能卡上，采集喷印处理完成后的rfid智能卡图像。
29、优选地，所述获取喷印处理完成后采集的rfid智能卡图像进行第二次缺陷检测，将第二次缺陷检测结果符合要求的智能卡沿预定路径继续传输包括：
30、将喷印处理完成后采集的rfid智能卡图像与预先采集的样本rfid智能卡图像进行比较，通过比较结果对rfid智能卡的电晕缺陷和喷印缺陷进行检测；
31、若检测存在电晕缺陷，则对电晕缺陷进行分类，通过分类结果对电晕处理参数进行反馈调节，其中，电晕缺陷至少包括：形状异常、尺寸异常和颜色异常，电晕处理参数至少包括电晕处本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种RFID智能卡缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的RFID智能卡缺陷检测方法，其特征在于，所述依据待喷印处理的RFID智能卡的特征信息，对照射到所述RFID智能卡表面的光源的光照参数进行调节包括：
3.根据权利要求1所述的RFID智能卡缺陷检测方法，其特征在于，所述依据调节后的目标光照参数，控制光源照射至所述RFID智能卡上，采集待喷印处理的所述RFID智能卡的图像进行第一次缺陷检测包括：
4.根据权利要求3所述的RFID智能卡缺陷检测方法，其特征在于，所述通过预设的缺陷检测方法，对所述目标图像进行第一次缺陷检测，得出所述第一次缺陷检测结果包括：
5.根据权利要求2所述的RFID智能卡缺陷检测方法，其特征在于，在获取喷印处理完成后采集的RFID智能卡图像进行第二次缺陷检测之前还包括：
6.根据权利要求1至5任一项所述的RFID智能卡缺陷检测方法，其特征在于，所述获取喷印处理完成后采集的RFID智能卡图像进行第二次缺陷检测，将第二次缺陷检测结果符合要求的智能卡沿预定路径继续传输包括：<...
【技术特征摘要】
1.一种rfid智能卡缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的rfid智能卡缺陷检测方法，其特征在于，所述依据待喷印处理的rfid智能卡的特征信息，对照射到所述rfid智能卡表面的光源的光照参数进行调节包括：
3.根据权利要求1所述的rfid智能卡缺陷检测方法，其特征在于，所述依据调节后的目标光照参数，控制光源照射至所述rfid智能卡上，采集待喷印处理的所述rfid智能卡的图像进行第一次缺陷检测包括：
4.根据权利要求3所述的rfid智能卡缺陷检测方法，其特征在于，所述通过预设的缺陷检测方法，对所述目标图像进行第一次缺陷检测，得出所述第一次缺陷检测结果包括：
5.根据权利要求2所述的rfid智能卡缺陷检测方法，其特征在于，在获取喷印处理完成后采集的rfid智能卡图像进行第二次缺陷检测之前还包括：
6.根据权利要求1至5任一项所述的rfid智能卡缺陷检测方法，其特征在于，所述获取喷印处理完成后采集的rfid智能卡图像进行第二次缺陷检测，将第二次缺陷检测结果符合要求的智能卡沿预定路径继续传输包括：
7.根据权利要求6所述的rfi...
【专利技术属性】
技术研发人员：颜炳军，王智通，
申请(专利权)人：东莞市卡的智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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