电阻存储器、含有电阻存储器的集成电路的制作方法技术

技术编号:4160417 阅读:201 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种含有电阻存储器的集成电路的制作方法,包括:提供包括核心器件区域和外围电路区域的层间介质层;在层间介质层内分别形成第一互连结构和第二互连结构;在第一互连结构和第二互连结构表面上形成第一介质层和第二介质层;形成覆盖层间介质层以及第一介质层和第二介质层的第一导电层;去除外围电路区域的第一导电层以及第二介质层,暴露出第二互连结构,在核心器件区域,只保留第一介质层上的第一导电层;在第一导电层以及第二互连结构上分别形成第二导电层和第三导电层;分别在第一导电层以及第二互连结构上形成第二导电层和第三导电层。所述方法,在形成电阻存储器的同时,可以实现核心器件区域和外围电路区域的层间互连结构。

Resistance memory and method for manufacturing integrated circuit containing resistive memory

Including the production method, an integrated circuit comprises a resistor memory: including the core device area and a peripheral circuit area of the interlayer dielectric layer; the inter layer dielectric layer respectively form a first interconnect structure and second interconnection structure; in the first interconnect structure and second interconnect structure forming a first dielectric layer and second dielectric layer on the surface; covering the interlayer dielectric layer and the first dielectric layer and the second dielectric layer of the first conductive layer; removing the peripheral circuit region the first conductive layer and a second dielectric layer exposed second interconnect structure in the core device area, retaining only the first conductive layer of the first dielectric layer; respectively formed second conductive layer and third conductive in the first layer and the second conductive layer on the interconnect structure; respectively formed second and third conductive layer on the first conductive layer and a second interconnection structure . The method enables the inter layer interconnection structure of the core device region and the peripheral circuit region while forming a resistive memory.

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种含有电阻存储器的集成电路的制作方法,其特征在于,包括: 提供半导体衬底以及位于半导体衬底上的层间介质层,所述半导体衬底和层间介质层包括核心器件区域和外围电路区域; 在核心器件区域的层间介质层内形成第一互连结构,在外围电路区域 的层间介质层内形成第二互连结构,第一互连结构用于电连接核心器件区域的半导体器件,第二互连结构用于电连接外围电路区域的半导体器件; 在第一互连结构上形成第一介质层,在第二互连结构上形成第二介质层; 形成覆盖层间介质层以及第一介质层 和第二介质层的第一导电层; 去除外围电路区域的第一导电层以及第二介质层,暴露出第二互连结构,在核心器件区域,去除层间介质层上的第一导电层,保留第一介质层上的第一导电层; 在第一导电层以及第二互连结构上分别形成第二导电层和第三导电 层。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:鲍震雷
申请(专利权)人:中芯国际集成电路制造北京有限公司
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]

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