【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于激光传感器弧面测量，尤其涉及一种tof技术测量数据的校正方法方法、装置及存储介质。
技术介绍
1、现有的通过激光传感器测量大型弧形标准面大多采用多点检测法，生成折现图反应标准面的弯曲幅度和扭曲程度，对弧形标准面的还原度较差，存在着精度低，无法满足人们的使用需求等问题。
技术实现思路
1、鉴于上述现有技术的不足，本专利技术的目的在于提供一种tof技术测量数据的校正方法、装置及存储介质，旨在解决由于现有技术无法提供一种有效的tof技术测量数据的校正方法，导致对弧面测量不准确、用户体验不佳的问题。
2、一方面，本专利技术提供了一种tof技术测量数据的校正方法，所述方法包括下述步骤：
3、步骤一：在待测量弧形面的一端外横向设置第一线激光发射器和竖向设置反射镜，以及在所述待测量弧形面的另一端外放置移动块；所述移动块上横向设有第一ccd相机和线激光传感器，所述第一线激光发射器的中心正对所述第一ccd相机的中心；
4、步骤二：一步一动移动所述移动块从所述待测量弧形面上滑过琢渐近离所述第一激光发射器；
5、步骤三：在执行所述步骤一的过程中，根据所述反射镜与所述线激光传感器之间的距离生成所述待测量弧形面的点云数据；
6、步骤四：对所述点云数据进行正平面剖切获得点云数据线；
7、步骤五：从所述点云数据线中提取所述第一ccd相机远离所述第一线激光发射器的起始点坐标；
8、步骤六：计算所述起始点坐标的起始偏移
9、步骤七：从所述点云数据线中提取所述第一ccd相机远离所述第一线激光发射器的下一点坐标，使用所述起始偏移量修正所述下一点坐标并获得下一点偏移量；
10、所述步骤七中的所述下一点坐标为所述起始点坐标的下一点坐标；
11、步骤八：计算弯曲幅度和方位角；
12、步骤九：从所述点云数据线中提取所述第一ccd相机远离所述第一线激光发射器的下一点坐标，使用上一点偏移量修正所述下一点坐标并获得下一点偏移量；
13、所述上一点偏移量为所述步骤七或上一所述步骤九中的所述下一点偏移量；
14、所述步骤九中的所述下一点坐标为所述步骤七中的所述上一点坐标的下一点坐标，或上一所述步骤九中的所述下一点坐标的下一点坐标；
15、步骤十：依次重复所述步骤八和所述步骤九对所述点云数据线进行校正，直至不存在下一点坐标。
16、进一步地，所述方法还包括：
17、所述第一线激光发射器向所述第一ccd相机发射第一线性激光，所述线激光传感器的第二线激光发射器向所述反射镜发射第二线性激光且第二ccd相机接收到被所述反射镜反射回的所述第二线性激光，所述反射镜为平面镜。
18、进一步地，所述反射镜与所述线激光传感器之间的距离根据公式1获得；
19、公式1：l = ½ × c × t ，其中，l为所述反射镜与所述线激光传感器之间的距离，c为光速，t为所述线激光传感器的第二激光发射器发射第二线性激光时与所述线激光传感器的第二ccd相机接收到被所述反射镜反射回的所述第二线性激光时的时间差；
20、所述线激光传感器的第二激光发射器间隔发射第二线性激光。
21、优选地，所述方法还包括：对所述点云数据进行多个不同位置的正平面剖切获得多个点云数据线；
22、所述点云数据线由多个点依次连接而成。
23、进一步地，所述起始偏移量根据公式2获取；
24、公式2：，其中，为所述起始偏移量，x0和y0为所述起始点坐标。
25、进一步地，所述下一点坐标坐标用p（xp,yp）表示；
26、所述下一点偏移量根据公式3获取；
27、公式3：，其中，xn和yn为修正坐标，所述修正坐标通过所述起始偏移量或所述上一点偏移量修正所述下一点坐标获得，为所述下一点偏移量。
28、进一步地，所述弯曲幅度根据公式4获取；
29、公式4：，其中，δ表示所述弯曲幅度。
30、进一步地，所述方位角根据公式5获取；
31、公式5：，其中，α为所述方位角。
32、另一方面，本专利技术还提供了一种tof技术测量数据的校正装置，所述装置包括至少一个处理器；以及，
33、与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
34、所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行上述的tof技术测量数据的校正方法。
35、另一方面，本专利技术还提供了一种非易失性计算机可读存储介质，所述非易失性计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令被一个或多个处理器执行时，可使得所述一个或多个处理器执行上述的tof技术测量数据的校正方法。
36、本专利技术的有益效果在于：通过步骤四：对点云数据进行正平面剖切获得点云数据线；步骤五：从点云数据线中提取第一ccd相机远离第一线激光发射器的起始点坐标；步骤六：计算起始点坐标的起始偏移量；步骤七：从点云数据线中提取第一ccd相机远离第一线激光发射器的下一点坐标，使用起始偏移量修正下一点坐标并获得下一点偏移量；步骤八：计算弯曲幅度和方位角；步骤九：从点云数据线中提取第一ccd相机远离第一线激光发射器的下一点坐标，使用上一点偏移量修正下一点坐标并获得下一点偏移量；步骤十：依次重复步骤八和步骤九对点云数据线进行校正，直至不存在下一点坐标；从而实现对点云数据线进行校正，还原了待测量弧形面的形状，从而提高了线激光传感器对弧面的扫描精度，进而提高了用户体验。
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1.一种TOF技术测量数据的校正方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述反射镜与所述线激光传感器之间的距离根据公式1获得；
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：对所述点云数据进行多个不同位置的正平面剖切获得多个点云数据线；
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述起始偏移量根据公式2获取；
6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述下一点坐标坐标用P（XP,YP）表示；
7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述弯曲幅度根据公式4获取；
8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方位角根据公式5获取；
9.一种TOF技术测量数据的校正装置，其特征在于，所述装置包括至少一个处理器；以及，
10.一种非易失性计算机可读存储介质，其特征在于，所述非易失性计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令被一个或多个处理器执行时，可使得所述
...【技术特征摘要】
1.一种tof技术测量数据的校正方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述反射镜与所述线激光传感器之间的距离根据公式1获得；
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：对所述点云数据进行多个不同位置的正平面剖切获得多个点云数据线；
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述起始偏移量根据公式2获取；
6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述下一点坐标...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴昌盛，
申请(专利权)人：广州顶盛益电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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