【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及数字电路测试，具体涉及一种flash芯片的在板测试系统及测试方法，即涉及一种利用边界扫描技术，进行flash芯片在板测试(flash芯片已经装配到pcb上后进行的测试)的方法。
技术介绍
1、本节中的陈述仅提供与本公开相关的背景信息，并且可能不构成现有技术。
2、flash芯片具备其极佳的动态抗震性，对压力与温度的承受能力，非易失性，这些优点让它逐步取代了造价高昂的普通eeprom及传统的机械硬盘。伴随当前存储技术的快速发展和存储市场的高速扩大，flash型存储器的用量迅速增长，大量应用于手机、笔记本电脑、游戏主机等对存储要求高的电子产品。
3、高密度pcba产品通常选用bga封装的flash芯片，此种芯片在装入pcb后，芯片引脚不能通过物理探针，让测试设备直接访问，只能借助与flash芯片对接的处理器芯片(通常为fpga、dsp、powerpc、单片机等)实现间接访问。
4、通过处理器对flash进行测试的常用方法是读写测试。具体而言有两种方式，一种方式是，处理器内部的嵌入式程序直接运行测试代码，控制引脚对flash进行读写测试，具体方法有棋盘格法、奇偶校验法、同步法等，处理器再将测试结果上报。另一种方式需要借助边界扫描技术，边界扫描技术是一种在国际标准的测试协议(ieee1149.x)基础上开展的测试技术，主流处理器均符合协议，它可以让jtag测试工具访问处理器内部的节点，间接控制处理器引脚的状态，实现电路板的在板测试。借助边界扫描技术，jtag工具控制与flash芯片连接的
5、两种通过处理器实现flash在板测试的方法，均是通过读写测试来实现flash的验证。但flash芯片在写入之前，必须先对即将写入的区域执行擦除操作，再写入特定的测试数据。擦除操作是破坏性的，它抹除了已有的数据，对于flash中已经存储了重要数据的场景，这两种传统的flash在线测试方法都存在较大的局限性。
6、因此，本专利技术提出一种flash芯片已经装配到pcba板卡，并已经存储数据后的测试方法，该方法借助边界扫描技术控制处理器的引脚，但不对flash进行擦除、写入操作，可以不破坏flash中已有的数据，对flash电路进行测试，若测试未通过，进一步进行自动定位故障。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于：针对现有技术中已经存在的问题，提供了一种flash芯片的在板测试系统及测试方法，可对已经装配到pcba板卡上且存储了重要数据的flash芯片开展自动测试，不会破坏flash中已有的数据，特别适合因为长期环境应力的作用，导致flash电路出现了开路、短路、桥接等电路结构性损伤的场景，可以对此类故障进行引脚级的故障定位引导，从而解决了上述问题。
2、本专利技术的技术方案如下：
3、一种flash芯片的在板测试系统，包括：主机、待测产品、母板、usb-jtag转接器、电源；所述待测产品至少含有一片待测flash芯片，且待测flash芯片挂载在处理器上；所述母板上设置有电源连接器、待测产品接口；所述电源通过电源供电线与母板上的电源连接器连接；所述待测产品与母板上的待测产品接口连接；所述主机的usb接口通过usb-jtag转换器与待测产品的jtag接口连接，主机上运行上位机软件。
4、进一步地，所述待测产品内部的处理器，可以是fpga、dsp、powerpc、单片机中的一种或几种，所述处理器符合ieee1149.x标准，所述处理器的jtag接口引出到待测产品前面板的调试接口，可以提供给外部访问；符合ieee1149.x标准的处理器，其处理器内核与外部引脚之间有边界扫描单元，可以通过边界扫描单元对外部引脚进行访问控制。
5、进一步地，所述待测产品内部的flash芯片，可以是nor flash、nand flash，flash芯片的地址总线、数据总线、控制总线均需要挂载到处理器的引脚上，即处理器可以对flash进行完全的访问控制。
6、进一步地，所述主机内部运行上位机软件，上位机软件根据测试算法，生成测试序列，通过usb-jtag转换器，上位机访问处理器的jtag接口，将测试序列送入边界扫描单元，接管处理器与flash器件相连的引脚，对flash进行控制，开展测试。
7、进一步地，所述上位机通过usb-jtag转换器，回收flash的测试数据，判断测试是否通过，若未通过，则分析故障数据，进行引脚级的故障定位指导。
8、一种flash芯片的在板测试方法，基于上述的一种flash芯片的在板测试系统，包括：
9、步骤s1：上位机软件对处理器的边界扫描单元进行控制，循环回读处理器信息，判断jtag链路的信号完整性；
10、步骤s2：上位机软件通过jtag接口访问处理器的边界扫描单元，间接控制处理器引脚，读取flash芯片的id，并与电路图网表文件的信息进行对比，判断在板卡的flash芯片是否与预期一致；
11、步骤s3：上位机软件控制处理器引脚，对flash指定的待测试地址进行预置读，同一个待测试地址进行多次预置读操作，比较多次预置读操作读回的数据，若不一致，说明此地址预置读测试未通过，更换待测试地址，对多个不同的待测试地址进行预置读测试，若所有测试的地址空间均测试通过，则说明该flash芯片及相应外围电路正常。
12、进一步地，所述处理器信息，包括：处理器的id、命令码长度。
13、进一步地，所述步骤s3，包括：
14、步骤s31：对于待测试地址trueaddr，第一次预置读，先在flash片选不使能的状态下，将地址线置位为预置地址setaddr1，数据线置位为全setdata1，稳定一定时间后，进行一次待测试地址trueaddr的flash读操作，回读数据为readdata1；
15、步骤s32：对于待测试地址trueaddr，第二次预置读，先在flash片选不使能的状态下，将地址线置位为setaddr2，数据线置位为～readdata1，稳定一定时间后，进行一次待测试地址trueaddr的flash读操作，回读数据为readdata2；
16、步骤s33：对于待测试地址trueaddr，第n次预置读，先在flash片选不使能的状态下，将地址线置位为setaddrn，数据线置位为～readdatan-1，稳定一定时间后，进行一次待测试地址trueaddr的flash读操作，回读数据为readdatan；
17、步骤s34：比较readdata1、readdata2、…、readdatan，若相同，则说明此地址空间测试通过，反之，此地址空间测试不通过；
18、步骤s35：更换待测试地址trueaddr，重复步骤s31、步骤s32、步骤s33、步骤s34的操作。
19、进一步地，所述数据线置位为～readdatan-1是通过对第n本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种Flash芯片的在板测试系统，其特征在于，包括：主机、待测产品、母板、USB-JTAG转接器、电源；所述待测产品至少含有一片待测Flash芯片，且待测Flash芯片挂载在处理器上；所述母板上设置有电源连接器、待测产品接口；所述电源通过电源供电线与母板上的电源连接器连接；所述待测产品与母板上的待测产品接口连接；所述主机的USB接口通过USB-JTAG转换器与待测产品的JTAG接口连接，主机上运行上位机软件。
2.根据权利要求1所述的一种Flash芯片的在板测试系统，其特征在于，所述待测产品内部的处理器，可以是FPGA、DSP、PowerPc、单片机中的一种或几种，所述处理器符合IEEE1149.x标准，所述处理器的JTAG接口引出到待测产品前面板的调试接口，可以提供给外部访问；符合IEEE1149.x标准的处理器，其处理器内核与外部引脚之间有边界扫描单元，可以通过边界扫描单元对外部引脚进行访问控制。
3.根据权利要求1所述的一种Flash芯片的在板测试系统，其特征在于，所述待测产品内部的Flash芯片，可以是Nor Flash、Nand Flash，
4.根据权利要求2所述的一种Flash芯片的在板测试系统，其特征在于，所述主机内部运行上位机软件，上位机软件根据测试算法，生成测试序列，通过USB-JTAG转换器，上位机访问处理器的JTAG接口，将测试序列送入边界扫描单元，接管处理器与Flash器件相连的引脚，对Flash进行控制，开展测试。
5.根据权利要求1所述的一种Flash芯片的在板测试系统，其特征在于，所述上位机通过USB-JTAG转换器，回收Flash的测试数据，判断测试是否通过，若未通过，则分析故障数据，进行引脚级的故障定位指导。
6.一种Flash芯片的在板测试方法，其特征在于，基于权利要求1-5任一项所述的一种Flash芯片的在板测试系统，包括：
7.根据权利要求6所述的一种Flash芯片的在板测试方法，其特征在于，所述处理器信息，包括：处理器的ID、命令码长度。
8.根据权利要求6所述的一种Flash芯片的在板测试方法，其特征在于，所述步骤S3，包括：
9.根据权利要求8所述的一种Flash芯片的在板测试方法，其特征在于，所述数据线置位为～ReadDataN-1是通过对第N-1次读回的数据ReadDataN-1按位取反得到的。
10.根据权利要求8所述的一种Flash芯片的在板测试方法，其特征在于，所述待测试地址TrueAddr和预置地址SetAddr的更换方法包括移位1算法、移位0算法、交错0/1算法、随机数算法。
...【技术特征摘要】
1.一种flash芯片的在板测试系统，其特征在于，包括：主机、待测产品、母板、usb-jtag转接器、电源；所述待测产品至少含有一片待测flash芯片，且待测flash芯片挂载在处理器上；所述母板上设置有电源连接器、待测产品接口；所述电源通过电源供电线与母板上的电源连接器连接；所述待测产品与母板上的待测产品接口连接；所述主机的usb接口通过usb-jtag转换器与待测产品的jtag接口连接，主机上运行上位机软件。
2.根据权利要求1所述的一种flash芯片的在板测试系统，其特征在于，所述待测产品内部的处理器，可以是fpga、dsp、powerpc、单片机中的一种或几种，所述处理器符合ieee1149.x标准，所述处理器的jtag接口引出到待测产品前面板的调试接口，可以提供给外部访问；符合ieee1149.x标准的处理器，其处理器内核与外部引脚之间有边界扫描单元，可以通过边界扫描单元对外部引脚进行访问控制。
3.根据权利要求1所述的一种flash芯片的在板测试系统，其特征在于，所述待测产品内部的flash芯片，可以是nor flash、nand flash，flash芯片的地址总线、数据总线、控制总线均需要挂载到处理器的引脚上，即处理器可以对flash进行完全的访问控制。
4.根据权利要求2所述的一种flash芯片的在板测试系统，其特征在于，所述主机...
【专利技术属性】
技术研发人员：舒鹏飞，郑昊天，苏敏，王晓明，侯冠宇，雷霆，王璐璐，张云刚，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第二十九研究所，
类型：发明
国别省市：
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