【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体检测设备，具体是一种半导体检测用翻转装置。
技术介绍
1、半导体是一种电导率在绝缘体至导体之间的物质，其电导率容易受控制，可作为信息处理的元件材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，在对半导体进行生产时，需要使用到翻转装置对半导体进行检测观察，保证其品质质量，合格的才可继续进行生产加工。
2、现有一种授权公告号为cn219200481u的中国专利，公开了一种半导体检测用翻转装置，包括安装底板，所述安装底板上固定连接有第一电机，所述转轴上固定连接有蜗轮，所述固定架上固定连接有第二电机。本申请通过设置的夹板，在对不同尺寸的半导体进行夹持时，可将半导体放置在夹板中，然后转动固定架上的第一螺纹杆，第一螺纹杆运转时通过轴承推动夹板进行限位移动，夹板移动时配合转轴上的夹板能够平稳对半导体进行夹持，夹持后，转动第二螺纹杆带动限位板进行限位移动，配合第一防护垫与第二防护垫能够稳定对半导体进行防护夹持，避免半导体检测时发生脱落导致损坏的问题。
3、上述专利文件中的技术方案虽然能够实现对不同规格的半导体进行夹持防护，并实现其适用性的高度调整，但其在实际使用的过程中两侧的夹板一侧为固定结构，一侧为活动结构，进而在对半导体进行夹持定位时无法保障其居中放置，从而容易影响半导体的检测效果，且移动的夹板以转动连接的方式进行装载，进而其在对半导体进行夹持限位时，还需要保障其与固定侧夹板处于对应状态才能实现对半导体的夹持限位，进一步增加了产品在对半导体限位时的操作麻烦。p>
4、因此，本领域技术人员提供了一种半导体检测用翻转装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
技术实现思路
1、为了克服现有技术的上述缺陷，本技术的实施例提供一种半导体检测用翻转装置，通过双向丝杆带动对称设置的夹持组件进行同步位移，进而在对半导体进行夹持限位时保障其处于产品的中心位置，从而保障对其的检测效果，而夹持部中所设置的定位件使得夹持组件在相互靠近夹持半导体时其状态相一致，以保障对半导体的快速、便捷性夹持限位，减轻其操作负担，提高工作效率，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
3、一种半导体检测用翻转装置，包括底座与横板，其中，横板位于底座的上方，且底座与横板之间通过剪式机构进行连接，所述横板上安装有用于夹持待测半导体的夹持部，夹持部包括位于横板下方的双向丝杆与滑动连接于横板顶部的滑板，其中，滑板包括有两个，左右对称式分布；
4、每个所述的滑板上均转动连接有圆柱，多个所述的圆柱相互靠近的一端均安装有夹持组件，右侧所述圆柱的右端设置有用于驱动的驱动件，所述滑板与圆柱之间设置有用于定位的定位件。
5、作为本技术再进一步的方案，所述双向丝杆上套设有多个支架，多个所述支架的顶部均通过螺栓安装于横板的底部外壁上。
6、作为本技术再进一步的方案，所述横板的顶部壳壁上开设有用于导向滑板位移的滑槽组与用于部件通行的通槽，其中，通槽包括有两个，左右对称式分布，每个所述滑板的底部均安装有连接板，连接板的底端穿过通槽，且连接板与双向丝杆之间螺纹连接。
7、作为本技术再进一步的方案，所述滑板上开设有孔洞，所述圆柱转动连接于孔洞中，所述定位件包括固定连接于滑板内壁上的耳板，耳板上螺纹连接有定位栓，其中，耳板位于圆柱的上方，且圆柱上开设有用于插接限位的限位孔。
8、作为本技术再进一步的方案，所述夹持组件包括固定连接于圆柱上的u型架，u型架远离圆柱的一侧一体设置有抵盘，抵盘上滑动连接有多个夹板，所述u型架的内部转动连接有双向螺杆，多个所述的双向螺杆靠近u型架的一侧均设置有螺纹连接于夹板上的内纹环。
9、作为本技术再进一步的方案，所述驱动件包括设置于右侧所述圆柱右端上的蜗轮，蜗轮的下方设有与之啮合传动的蜗杆，蜗杆的前端安装有用于提供动力的电机，电机通过螺栓安装于右侧所述滑板的外壁上。
10、作为本技术再进一步的方案，所述剪式机构由滑轨组、剪式撑杆件、连板与气缸所构成，其中，滑轨组包括有两组，两组所述的滑轨组之间前后对称式设置，每组所述的滑轨组均包括有上下两个滑轨，上方所述的滑轨固定连接于横板的底部，下方所述的滑轨固定连接于底座的顶部。
11、作为本技术再进一步的方案，上下两个所述的滑轨之间通过剪式撑杆件进行连接，所述气缸设置于底座的顶部，所述连板安装于气缸的输出端，且连板的两侧分别连接于前后对称设置的剪式撑杆件。
12、与现有技术相比，本技术的有益效果是：
13、1、通过双向丝杆带动对称设置的夹持组件进行同步位移，进而在对半导体进行夹持限位时保障其处于产品的中心位置，从而保障对其的检测效果，而夹持部中所设置的定位件使得夹持组件在相互靠近夹持半导体时其状态相一致，以保障对半导体的快速、便捷性夹持限位，减轻其操作负担，提高工作效率。
14、2、通过设置剪式机构取代现有的升降结构，升降结构中的主要承重结构为连接轴，极容易出现损坏，进而在保障对其升降调整效果的情况下实现其调节的稳定性与较长的使用寿命，减少维护成本。
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1.一种半导体检测用翻转装置，包括底座(1)与横板(2)，其中，横板(2)位于底座(1)的上方，且底座(1)与横板(2)之间通过剪式机构(3)进行连接，其特征在于：所述横板(2)上安装有用于夹持待测半导体的夹持部(4)，夹持部(4)包括位于横板(2)下方的双向丝杆(44)与滑动连接于横板(2)顶部的滑板(41)，其中，滑板(41)包括有两个，左右对称式分布；
2.根据权利要求1所述的一种半导体检测用翻转装置，其特征在于，所述双向丝杆(44)上套设有多个支架，多个所述支架的顶部均通过螺栓安装于横板(2)的底部外壁上。
3.根据权利要求1所述的一种半导体检测用翻转装置，其特征在于，所述横板(2)的顶部壳壁上开设有用于导向滑板(41)位移的滑槽组与用于部件通行的通槽，其中，通槽包括有两个，左右对称式分布，每个所述滑板(41)的底部均安装有连接板，连接板的底端穿过通槽，且连接板与双向丝杆(44)之间螺纹连接。
4.根据权利要求1所述的一种半导体检测用翻转装置，其特征在于，所述滑板(41)上开设有孔洞，所述圆柱(42)转动连接于孔洞中，所述定位件(46)
5.根据权利要求1所述的一种半导体检测用翻转装置，其特征在于，所述夹持组件(45)包括固定连接于圆柱(42)上的U型架(451)，U型架(451)远离圆柱(42)的一侧一体设置有抵盘(452)，抵盘(452)上滑动连接有多个夹板(454)，所述U型架(451)的内部转动连接有双向螺杆(453)，多个所述的双向螺杆(453)靠近U型架(451)的一侧均设置有螺纹连接于夹板(454)上的内纹环。
6.根据权利要求1所述的一种半导体检测用翻转装置，其特征在于，所述驱动件(43)包括设置于右侧所述圆柱(42)右端上的蜗轮(431)，蜗轮(431)的下方设有与之啮合传动的蜗杆(432)，蜗杆(432)的前端安装有用于提供动力的电机(433)，电机(433)通过螺栓安装于右侧所述滑板(41)的外壁上。
7.根据权利要求1所述的一种半导体检测用翻转装置，其特征在于，所述剪式机构(3)由滑轨组(31)、剪式撑杆件(32)、连板(33)与气缸(34)所构成，其中，滑轨组(31)包括有两组，两组所述的滑轨组(31)之间前后对称式设置，每组所述的滑轨组(31)均包括有上下两个滑轨，上方所述的滑轨固定连接于横板(2)的底部，下方所述的滑轨固定连接于底座(1)的顶部。
8.根据权利要求7所述的一种半导体检测用翻转装置，其特征在于，上下两个所述的滑轨之间通过剪式撑杆件(32)进行连接，所述气缸(34)设置于底座(1)的顶部，所述连板(33)安装于气缸(34)的输出端，且连板(33)的两侧分别连接于前后对称设置的剪式撑杆件(32)。
...【技术特征摘要】
1.一种半导体检测用翻转装置，包括底座(1)与横板(2)，其中，横板(2)位于底座(1)的上方，且底座(1)与横板(2)之间通过剪式机构(3)进行连接，其特征在于：所述横板(2)上安装有用于夹持待测半导体的夹持部(4)，夹持部(4)包括位于横板(2)下方的双向丝杆(44)与滑动连接于横板(2)顶部的滑板(41)，其中，滑板(41)包括有两个，左右对称式分布；
2.根据权利要求1所述的一种半导体检测用翻转装置，其特征在于，所述双向丝杆(44)上套设有多个支架，多个所述支架的顶部均通过螺栓安装于横板(2)的底部外壁上。
3.根据权利要求1所述的一种半导体检测用翻转装置，其特征在于，所述横板(2)的顶部壳壁上开设有用于导向滑板(41)位移的滑槽组与用于部件通行的通槽，其中，通槽包括有两个，左右对称式分布，每个所述滑板(41)的底部均安装有连接板，连接板的底端穿过通槽，且连接板与双向丝杆(44)之间螺纹连接。
4.根据权利要求1所述的一种半导体检测用翻转装置，其特征在于，所述滑板(41)上开设有孔洞，所述圆柱(42)转动连接于孔洞中，所述定位件(46)包括固定连接于滑板(41)内壁上的耳板(461)，耳板(461)上螺纹连接有定位栓(462)，其中，耳板(461)位于圆柱(42)的上方，且圆柱(42)上开设有用于插接限位的限位孔。
5.根据权利要求1所述的一种半导体检测用翻转装置，其特征在于，所述夹持组件(45)包括...
【专利技术属性】
技术研发人员：张娉婷，
申请(专利权)人：苏州达亚电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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