【技术实现步骤摘要】
本申请涉及flash电路检测，具体而言，涉及一种flash板检测系统、一种flash板检测方法、一种计算机可读存储介质及一种电子设备。
技术介绍
1、随着毫米波有源相控阵技术的发展和成熟，无惯性扫描、指向精度高、大气环境中衰减小等优点使其在通信、导航、雷达、制导等方面的应用日趋广泛。
2、而相控阵天线在生产测试过程中会产生大量的数据，需要存储在系统内部。在相控阵天线使用过程中，需要实时的调用预先存储的数据，并且对回读的实时性要求较高，这直接决定了波束切换时间等关键系统指标。而flash则是完成数据存储的关键器件，特别是访问效率较高的并行flash。根据相控阵规模，一个系统的flash芯片需求从一颗到几十颗不等。并行flash，包含数据总线、地址总线、控制线、供电线，管脚数量数十个，以1gbits 并行flash为例，数据线16根dq[15:0]，地址线26根a[25:0]，管脚密度大，较易出现焊接不良问题，影响系统工作。
3、传统的测试方法，采用整片擦除、整片写、整片回读校对的方法，可以有效的检测flash电路的好坏，但是测试效率较低，特别是flash容量从数年前的几mbits增加到现在的几gbits,规模增大了几十上百倍。但flash的写读速度并没有明显的提升，而检测时间几乎是与容量成线性关系，时间从数分钟变为数小时。而为了达到快速检测的目的，有些测试采用个别地址抽检的方法，测试数据的样本较少，这种方法可以大幅度压缩检测时间，但是出现漏检的概率较大。
技术实现思路p>
1、本申请的实施例提供了一种flash板检测系统、一种flash板检测方法、一种计算机可读存储介质及一种电子设备，以解决现有的flash电路测试效率低、速度慢、漏检的问题。
2、本申请的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本申请的实践而习得。
3、根据本申请实施例的第一方面，提供了一种flash板检测系统，包括：上位机、fpga测试盒和flash载板；
4、所述上位机与所述fpga测试盒连接；
5、所述fpga测试盒与所述flash载板连接；
6、其中，所述上位机下发测试盒版本查询指令和flash测试开始指令至所述fpga测试盒；
7、所述fpga测试盒接收版本查询指令，并回传上位机测试盒版本信息，以及接收flash测试开始指令，控制所述flash载板擦写读，接收载板回传的信息并回传上位机。
8、在本申请的一些实施例中，基于前述方案，所述flash载板包括：控制器和flash存储器；
9、所述控制器与所述fpga测试盒连接，所述flash存储器与所述控制器连接；
10、其中，所述控制器接收所述fpga测试盒下发的擦写读指令，对所述flash存储器进行擦除和读写，并回传擦除信息和回读数据信息至所述fpga测试盒。
11、在本申请的一些实施例中，基于前述方案，所述上位机通过串口或usb接口与所述fpga测试盒连接。
12、根据本申请实施例的第二方面，提供了一种flash板检测方法，包括：
13、上位机下发测试开始指令至fpga测试盒；
14、fpga测试盒收到测试开始指令后对flash载板依次进行擦除处理、写入处理和回读处理，得到回读数据；
15、上位机对回读数据进行分析处理，得到检测结果。
16、在本申请的一些实施例中，基于前述方案，对flash载板进行写入处理和回读处理，包括：
17、按照预先设定制定测试表格，所述测试表格包括有多个目标地址和与每个目标地址相对应的预设数据；
18、按照多个目标地址，在flash载板中找到与多个目标地址一一对应的flash地址，并向多个flash地址中依次写入与每个目标地址相对应的预设数据；
19、按照多个目标地址，在flash载板中找到与多个目标地址一一对应的flash地址，并从多个flash地址中依次回读每个目标地址中的数据，并回传上位机。
20、在本申请的一些实施例中，基于前述方案，所述flash地址包括：单比特1的地址、单比特0的地址、全0地址和全1地址。
21、在本申请的一些实施例中，基于前述方案，所述预设数据包括：单比特1的数据、单比特0的数据、全0数据、全1数据以及与所述测试表格序号值相同的数据。
22、在本申请的一些实施例中，基于前述方案，所述上位机对回读数据进行分析处理，得到检测结果，包括：
23、上位机接收每个目标地址的回读数据，并将每个目标地址的回读数据与每个目标地址中写入的预设数据一一进行比较；
24、若flash地址的回读数据和预设数据不一致，则表示存在异常。
25、根据本申请实施例的第三方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质中存储有计算机指令，所述计算机指令在计算机上运行时，使得所述计算机执行如上述第二方面所述的方法。
26、根据本申请实施例的第四方面，提供了一种电子设备，包括存储器和处理器；
27、所述存储器，用于存储计算机指令；
28、所述处理器，用于调用所述存储器中存储的计算机指令，使得所述电子设备执行如上述第二方面所述的方法。
29、本申请的技术方案，通过设置的fpga测试盒自动实现测试，并且通过预先设定的测试表格，可以快速有效地检测出异常。
30、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。
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1.一种Flash板检测系统，其特征在于，包括：上位机、FPGA测试盒和Flash载板；
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述Flash载板包括：控制器和Flash存储器；
3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述上位机通过串口或USB接口与所述FPGA测试盒连接。
4.一种Flash板检测方法，其特征在于，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，对Flash载板进行写入处理和回读处理，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述Flash地址包括：单比特1的地址、单比特0的地址、全0地址和全1地址。
7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述预设数据包括：单比特1的数据、单比特0的数据、全0数据、全1数据以及与所述测试表格序号值相同的数据。
8.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述上位机对回读数据进行分析处理，得到检测结果，包括：
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有计算机指令，所述计算机指令在计算机上运行时，使得
10.一种电子设备，其特征在于，包括存储器和处理器；
...【技术特征摘要】
1.一种flash板检测系统，其特征在于，包括：上位机、fpga测试盒和flash载板；
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述flash载板包括：控制器和flash存储器；
3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述上位机通过串口或usb接口与所述fpga测试盒连接。
4.一种flash板检测方法，其特征在于，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，对flash载板进行写入处理和回读处理，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述flash地址包括：单比...
【专利技术属性】
技术研发人员：邹胜，周基波，万鹏，肖涛，
申请(专利权)人：成都雷电微力科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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