【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于电路测试领域，具体属于一种非接触式电感接近传感器处理电路的测试系统和方法。
技术介绍
1、非接触式电感传感器处理电路专用性强，一般应用于电器设备内部，没有专门针对该种电路的产品说明、原理及测试方法，导致实际应用中批量生产困难。目前此种电路的设计研发已经基本完成，但针对电路的测试验证技术仍处于空白状态。
2、目前，现有技术中的电器系统主要采用接触式行程开关，该种非接触式电感接近传感器则处于研制阶段，并没有对非接触式电感接近传感器处理电路进行测试，导致无法获取非接触式电感接近传感器的数据。并且该电路为一种专用电路，无通用测试方法，其参数表征需要在整机系统中体现，无法实现电路自身单独的批量生产，所以无法进行单独测试。
技术实现思路
1、为了解决现有技术中存在的问题，本专利技术提供一种非接触式电感接近传感器处理电路的测试系统和方法，用于非接触式电感传感器控制电路的测试，有利于实现该种电路的批量化测试，提高生产效率。
2、为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
3、一种非接触式电感接近传感器处理电路的测试系统，包括电性能参数测试模块和应用状态模拟测试模块；
4、所述电性能参数测试模块用于对非接触式电感接近传感器进行电性能参数测试；所述应用状态模拟测试模块用于对非接触式电感接近传感器进行应用状态模拟测试；
5、所述应用状态模拟测试模块包括应用状态测试盒和位移测试台；所述位移测试台用于夹持非接触式电感接近传感器，应用
6、优选的，所述位移测试台包括第一螺旋测微仪、第二螺旋测微仪、传感器金属感应靶标和接近传感器；
7、所述第一螺旋测微仪调整x方向位移，第二螺旋测微仪调整y方向位移，第一螺旋测微仪和第二螺旋测微仪分别调整传感器金属感应靶标和接近传感器之间的正对面积和相互距离。
8、优选的，所述电性能参数测试模块采用sp3196测试机进行电性能参数测试；
9、电感传感器处理电路的一号引出端用于激励斜率限制；二号引出端用于接地；三号引出端用于激励输出；四号引出端用于短断路故障指示；五号引出端用于连接正电源；六号引出端用于接入振荡降噪电容；七号引出端用于接入振荡电容；八号引出端用于接入振荡降噪电容；九号引出端用于接入输出积分电容；十号引出端用于开关输出；十一号引出端用于自检输入；十二号引出端用于接入取样电阻；十三号引出端用于接入微分电容；十四号引出端用于接入微分电容；十五号引出端用于运放补偿；十六号引出端用于运放输入；十七号引出端用于运放输出；十八号引出端用于接入取样电阻。
10、进一步的，所述电性能参数测试模块包括以下过程，
11、接通vcc、gnd，在vcc端串接电流表测得电源电流icc；
12、接通vcc、gnd，output端通过270k上拉电阻连接vcc，测10脚电压；
13、接通vcc、gnd，bitinput端加压递增至12.1v时，通过270k上拉电阻连接vcc，测十号引出端电压oc输出电平由高变低变为25mv；
14、接通vcc、gnd，测试cal端静态电平，得知内部基准分压情况；
15、接通vcc、gnd，测试bit_input端电平；验证电源偏置分压功能是否正常；
16、接通vcc、gnd，det端加vcc电压，并串电流表测得镜像电流，验证延迟器部分正常；
17、pin11加压递增至2.45v时，监测13脚电压vlo由低电平突变至3.90v；
18、pin11加压递增至2.45v时，监测14脚电压vho由低电平突变至11.2v；判断电路内部微分器是否正常；
19、pin11加压递增至2.45v时，监测12脚电压vsig由低电平突变至3.355v；验证电路内部比较器和差分放大器是否正常；
20、六号引出端和七号引出端接电容至地，选择正确的标称值，得到一标准方波，三号引出端幅值、频率、占空比可测，验证电路内部波形发生器正常；
21、四号引出端电压为12.750v，对应传感器断路状态，验证传感器断路监测；如需测短路情况，将传感器作为无源元件连接在测试板上；
22、测试线路中采用运算放大器f77a连接为跟随器来屏蔽前后级的输入输出阻抗、使用cd4060进行分频来测试时间参数。
23、优选的，所述电性能参数测试模块集成在多过孔pcb开发板上，采用零插拔力d型22l集成电路测试座和0.8mm软质导线。
24、优选的，被测器件dut的一号引出端连接10pf电容的一端，10pf电容的另一端连接三号引出端；
25、二号引出端用于接地；
26、三号引出端连接68nf电容的一端；
27、四号引出端连接0.1μf电容的一端，0.1μf电容的另一端接地；
28、五号引出端连接正电源；
29、六号引出端连接10pf电容的一端，10pf电容的另一端接地；
30、七号引出端连接2.2nf电容的一端，2.2nf电容的另一端接地；
31、八号引出端连接0.1μf电容的一端，0.1μf电容的另一端接地；
32、九号引出端连接0.1μf电容的一端，0.1μf电容的另一端接地；
33、十号引出端连接开关输出，并连接270kω电阻的一端，270kω电阻的另一端连接正电源；
34、十一号引出端连接1μf电容的一端，1μf电容的另一端连接0.2hz，0到5v方波；
35、十二号引出端分别连接12.1kω电阻的一端和1.87kω电阻的一端，12.1kω电阻的另一端接地，1.87kω电阻的另一端连接正电源；
36、十三号引出端和十四号引出端之间连接1.5nf电容；
37、十五号引出端连接33pf电容的一端，33pf电容的另一端连接十六号引出端；
38、十六号引出端连接15kω电阻的一端，15kω电阻的另一端分别连接68nf电容的另一端、电感传感器的一端、1n6110二极管的一端、1n4148二极管的正极；电感传感器的另一端和1n6110二极管的另一端均接地；1n4148二极管的负极连接十七号引出端；
39、十八号引出端依次串联连接电阻r6和电阻r2，电阻r6和电阻r2的阻值之和为3.5kω，十八号引出端和五号引出端之间连接1nf电容。
40、优选的，应用状态模拟测试模块包括以下过程，
41、调整第一螺旋测微仪和第二螺旋测微仪，使传感器面正对并完全落于靶标面内，任选一只电感传感器信号调理电路，在常温下将器件接入测试系统中，调整第一螺旋测微仪和第二螺旋测微仪，用示波器观察out端，保证翻转点在4mm处，由远至近调整传感器和靶标之间的距离，当经过4mm距离点，电路输出电平由高变低；若翻转点大于5mm或小于3mm，调整r2+r6旋钮，使其落在本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种非接触式电感接近传感器处理电路的测试系统，其特征在于，包括电性能参数测试模块和应用状态模拟测试模块；
2.根据权利要求1所述的一种非接触式电感接近传感器处理电路的测试系统，其特征在于，所述位移测试台包括第一螺旋测微仪(1)、第二螺旋测微仪(2)、传感器金属感应靶标(3)和接近传感器(4)；
3.根据权利要求1所述的一种非接触式电感接近传感器处理电路的测试系统，其特征在于，所述电性能参数测试模块采用SP3196测试机进行电性能参数测试；
4.根据权利要求3所述的一种非接触式电感接近传感器处理电路的测试系统，其特征在于，所述电性能参数测试模块包括以下过程，
5.根据权利要求1所述的一种非接触式电感接近传感器处理电路的测试系统，其特征在于，所述电性能参数测试模块集成在多过孔PCB开发板上，采用零插拔力D型22L集成电路测试座和0.8mm软质导线。
6.根据权利要求1所述的一种非接触式电感接近传感器处理电路的测试系统，其特征在于，被测器件DUT的一号引出端连接10PF电容的一端，10PF电容的另一端连接三号引出端；>
7.根据权利要求1所述的一种非接触式电感接近传感器处理电路的测试系统，其特征在于，应用状态模拟测试模块包括以下过程，
8.一种非接触式电感接近传感器处理电路的测试方法，其特征在于，基于权利要求1至7任意一项所述的一种非接触式电感接近传感器处理电路的测试系统，包括以下过程，
...【技术特征摘要】
1.一种非接触式电感接近传感器处理电路的测试系统，其特征在于，包括电性能参数测试模块和应用状态模拟测试模块；
2.根据权利要求1所述的一种非接触式电感接近传感器处理电路的测试系统，其特征在于，所述位移测试台包括第一螺旋测微仪(1)、第二螺旋测微仪(2)、传感器金属感应靶标(3)和接近传感器(4)；
3.根据权利要求1所述的一种非接触式电感接近传感器处理电路的测试系统，其特征在于，所述电性能参数测试模块采用sp3196测试机进行电性能参数测试；
4.根据权利要求3所述的一种非接触式电感接近传感器处理电路的测试系统，其特征在于，所述电性能参数测试模块包括以下过程，
5.根据权利要求1所述的一种...
【专利技术属性】
技术研发人员：闫景涛，王钰中，徐尚军，祁勇，冯苗，马满乐，包亚飞，欧小荣，杨保书，马选林，
申请(专利权)人：天水七四九电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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