【技术实现步骤摘要】
本申请涉及集成电路设计领域，特别涉及一种用于芯片设计的规划导引方法、一种用于芯片设计的布局规划方法、一种用于芯片设计的规划导引装置、一种用于芯片设计的布局规划装置、一种电子设备、一种计算机程序产品、以及一种非瞬时计算机可读存储介质。
技术介绍
1、芯片设计可以利用诸如eda（electronic design automation, 电子设计自动化）工具等芯片设计工具来实现，并且，芯片设计包括在芯片中部署宏模块（macro module）、电源网络以及标准单元（standard cell），其中，宏模块可以是用于实现选定功能的功能模块，标准单元可以包括芯片中的基本逻辑单元（诸如与门、或门、非门等逻辑门），并且，标准单元可以部署在宏模块之间的沟道中。另外，芯片设计还包括在芯片中布设金属互连线，以形成覆盖宏模块和标准单元的信号网络，并且，使得宏模块和标准单元都可以通过金属互连线接受电源网络的供电。
2、芯片设计的检验指标包括电压降（ir drop）违例，其中，电压降是指金属互连线对电源网络提供的供电电压产生的压降，电压降违例是指电压降的幅度超过预设的容忍阈值，并且，电压降违例会导致电源网络的电源输送能力下降。由于标准单元的单元规格尺寸远小于宏模块的模块规格尺寸，因此，部署在宏模块之间的沟道内的标准单元的数量多于宏模块的数量，从而，标准单元与电源网络之间的电压降违例将会对芯片性能的影响更大的影响。
3、因此，若标准单元与电源网络之间的电压降违例的程度过于严重，则，需要对宏模块布局、电源网络以及标准单元进行修改和
4、由此可见，如何提高芯片设计的效率，成为现有技术中有待解决的技术问题。
技术实现思路
1、在本申请的实施例中，提供了一种用于芯片设计的规划导引方法、一种用于芯片设计的布局规划方法、一种用于芯片设计的规划导引装置、一种用于芯片设计的布局规划装置、一种电子设备、一种计算机程序产品、以及一种非瞬时计算机可读存储介质，有助于提高芯片设计的效率。
2、本申请的一个实施例提供了一种用于芯片设计的规划导引方法，包括：
3、在芯片设计工具完成布局规划之前生成伪电源网络，其中，所述布局规划用于确定宏模块布局，所述伪电源网络具有电源网络的预测网络形态，并且，所述电源网络在所述布局规划之后部署；
4、利用所述伪电源网络对从所述芯片设计工具导出的所述宏模块布局进行违例预测校验，其中，所述宏模块布局中包括宏模块、以及位于宏模块之间的沟道，所述沟道用于在所述布局规划之后部署 标准单元，并且，所述违例预测校验用于预测所述沟道内的所述标准单元与所述电源网络之间存在的电压降违例风险；
5、基于所述违例预测校验的预测结果，产生违例规避导引提示，其中，所述违例规避导引提示的提示内容用于表征对存在所述电压降违例风险的所述沟道的调整策略。
6、在一些示例中，可选地，所述在芯片设计工具完成布局规划之前生成伪电源网络，包括：基于预先设定的导引配置参数，在所述芯片设计工具完成所述布局规划之前生成所述伪电源网络，其中，所述导引配置参数是根据宏模块规格设定的。
7、在一些示例中，可选地，所述伪电源网络用于被所述芯片设计工具在所述布局规划时可视化呈现；所述规划导引方法还包括：将所述伪电源网络保存为可加载配置文件，并且，所述芯片设计工具通过加载所述可加载配置文件，实现所述伪电源网络的可视化呈现。
8、在一些示例中，可选地，所述规划导引方法还包括：响应于所述布局规划的完成，删除所述可加载配置文件，以使得所述伪电源网络消隐。
9、在一些示例中，可选地，所述利用所述伪电源网络对从所述芯片设计工具导出的所述宏模块布局进行违例预测校验，包括：利用从所述芯片设计工具导出的所述宏模块布局，确定所述伪电源网络在所述沟道内的道内伪电源线数量和道内伪电源线位置；基于所述道内伪电源线数量和所述道内伪电源线位置，预测存在所述电压降违例风险的所述沟道。
10、在一些示例中，可选地，所述伪电源网络包括多组伪电源线组，并且，每组所述伪电源线组包括分别表征所述电源网络中的供电线和接地线的至少两根伪电源线；所述道内伪电源线数量用于表征所述伪电源线组的组数，并且，所述道内伪电源线位置用于表征所述伪电源线组是否偏离沟道中线；所述基于所述道内伪电源线数量和所述道内伪电源线位置，预测存在所述电压降违例风险的所述沟道，包括：将所述道内伪电源线数量不足一组、和/或所述道内伪电源线位置表征偏离沟道中线的所述沟道，确定为存在所述电压降违例风险。
11、在一些示例中，可选地，所述违例规避导引提示用于被所述芯片设计工具可视化呈现。
12、在一些示例中，可选地，所述调整策略包括：对存在所述电压降违例风险的所述沟道的相邻宏模块的调节方向和/或调节距离。
13、本申请的另一个实施例提供了一种用于芯片设计的布局规划方法，包括：
14、导出布局规划确定的宏模块布局，其中，所述宏模块布局用于利用伪电源网络进行违例预测校验，所述宏模块布局中包括宏模块、以及位于宏模块之间的沟道，所述沟道用于在所述布局规划之后部署标准单元，所述伪电源网络具有电源网络的预测网络形态，所述电源网络在所述布局规划之后部署，并且，所述违例预测校验用于预测所述沟道内的所述标准单元与所述电源网络之间存在的电压降违例风险；
15、将基于所述违例预测校验的预测结果产生的违例规避导引提示可视化呈现，其中，所述违例规避导引提示的提示内容用于表征对存在所述电压降违例风险的所述沟道的调整策略。
16、在一些示例中，可选地，所述布局规划方法还包括：将所述布局规划开始之前获取到的所述伪电源网络，在所述布局规划时可视化呈现。
17、在一些示例中，可选地，所述布局规划方法还包括：通过加载可加载配置文件，实现所述伪电源网络的可视化呈现；并且，所述伪电源网络响应于所述可加载配置文件的删除而消隐。
18、本申请的另一个实施例提供了一种用于芯片设计的规划导引装置，包括：
19、导引配置模块，用于在芯片设计工具完成布局规划之前生成伪电源网络，其中，所述布局规划用于确定宏模块布局，所述伪电源网络具有电源网络的预测网络形态，并且，所述电源网络在所述布局规划之后部署；
20、违例预测模块，用于利用所述伪电源网络对从所述芯片设计工具导出的所述宏模块布局进行违例预测校验，其中，所述宏模块布局中包括宏模块、以及位于宏模块之间的沟道，所述沟道用于在所述布局规划之后部署标准单元，并且，所述违例预测校验用于预测所述沟道内的所述标准单元与所述电源网络之间存在的电压降违例风险；
21、提示产生模块，用于基于所述违例预测校验的预测结果，产生违例规避导引提示，其中，所述违例规避导引提示的提示内容用于表征对存在所述电压降违例风本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种用于芯片设计的规划导引方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的规划导引方法，其特征在于，
3.根据权利要求1所述的规划导引方法，其特征在于，
4.根据权利要求3所述的规划导引方法，其特征在于，
5.根据权利要求1所述的规划导引方法，其特征在于，
6.根据权利要求5所述的规划导引方法，其特征在于，
7.根据权利要求1所述的规划导引方法，其特征在于，
8.一种用于芯片设计的布局规划方法，其特征在于，包括：
9.一种用于芯片设计的规划导引装置，其特征在于，包括：
10.一种用于芯片设计的布局规划装置，其特征在于，包括：
11.一种电子设备，其特征在于，包括处理器，所述处理器用于：
12.一种计算机程序产品，其特征在于，包括计算机可执行指令，所述计算机可执行指令在被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的规划导引方法和/或如权利要求8所述的布局规划方法。
13.一种非瞬时计算机可读存储介质，其特征在于，所述非瞬时计算机可读
...【技术特征摘要】
1.一种用于芯片设计的规划导引方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的规划导引方法，其特征在于，
3.根据权利要求1所述的规划导引方法，其特征在于，
4.根据权利要求3所述的规划导引方法，其特征在于，
5.根据权利要求1所述的规划导引方法，其特征在于，
6.根据权利要求5所述的规划导引方法，其特征在于，
7.根据权利要求1所述的规划导引方法，其特征在于，
8.一种用于芯片设计的布局规划方法，其特征在于，包括：
9.一种用于芯片设计的规划导引装置，其特征在于，...
【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，请求不公布姓名，请求不公布姓名，请求不公布姓名，请求不公布姓名，
申请(专利权)人：北京壁仞科技开发有限公司，
类型：发明
国别省市：
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