【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及传感器，具体涉及传感器自校准方法、系统、存储介质、设备、程序及传感器。
技术介绍
1、气体绝缘组合电器(gis)因具有占地面积小、维护工作量少、绝缘性能优良、可靠性高等优点而被广泛应用于高压输电领域。作为气体绝缘设备的核心，绝缘气体的状态关系着设备整体的绝缘性能，气体状态的准确在线监测对维护电力系统的稳定性至关重要。gis设备的设计寿命一般为20年起步，由于充放气步骤复杂，在没有发现重大安全隐患时一般不能停电进行二次设备的检查与校准，这就给内置式气体状态传感器的检测稳定性提出了较高的要求。但是随着时间的增长，传感器不可避免的老化会造成传感器测量数据的偏移，如果不进行校准就有可能无法及时发现gis设备出现的绝缘故障。因此进行传感器的校准非常有必要。
2、目前，大多数传感器的校准方法仍为离线校准，需要人工携带检测设备，定期前往现场检测gis气室内部的气体状态，进而实现传感器的校准，这种检测方法不仅耗费了大量的人力物力，并且检测结果通常为gis气室内部当时的状态，并不能实现全检测区间的校准，存在较大的缺陷。
技术实现思路
1、针对现有技术中存在的传感器的校准方法仍为离线校准，需要人工携带检测设备，定期前往现场检测gis气室内部的气体状态，导致检测结果通常为gis气室内部当时的状态，并不能实现全检测区间校准的问题，本专利技术提供了一种气体状态多参量融合传感器自校准方法，该方法不需要复杂的人工校准，也不需要多个传感器相互对比，就能够实现gis内置式气体状态多参量融合
2、为达到上述目的，本专利技术采用了以下技术方案：
3、一种传感器自校准方法，包括加速老化试验阶段和校准阶段；
4、所述加速老化试验阶段包括：
5、对试验传感器进行传感器加速老化试验，获取试验传感器在不同加速老化时间下的测量结果；
6、所述校准阶段包括：
7、需要校准时，将现场传感器升温至预设温度，获取温度-时间数据；
8、根据现场传感器所处环境温度参数、加速老化试验阶段的测量结果及现场传感器升温阶段的温度-时间数据，确定现场传感器标定系数；
9、根据所述标定系数，对现场传感器进行校准。
10、作为本专利技术的进一步改进，所述对试验传感器进行加速老化试验，获取试验传感器在不同加速老化时间下的测量结果，包括：
11、将若干个试验传感器放置在恒温箱中，恒温箱的温度为设定值，经预设时间后从恒温箱中取出至少两个试验传感器，所述预设时间为加速老化时间；
12、将所述试验传感器和标准传感器在校准平台上测定，获取测量结果。
13、作为本专利技术的进一步改进，所述预设温度为恒温箱温度的设定值。
14、作为本专利技术的进一步改进，根据现场传感器所处环境温度参数、加速老化试验的测量结果及现场传感器升温阶段的温度-时间数据，确定现场传感器标定系数，包括：
15、利用现场传感器所处环境温度参数，通过加速老化公式计算现场传感器的第一等效老化时间，所述加速老化公式的具体表示如下：
16、
17、其中，为现场传感器正常运行的累计时间、为第一等效老化时间，t1为加速老化试验中恒温箱的设定温度，t0为现场传感器所处环境的温度，ea表为热活化能，k为玻尔兹曼常数，数值为8.61*10-5ev/k。
18、作为本专利技术的进一步改进，根据现场传感器所处环境温度参数、加速老化试验的测量结果及现场传感器升温阶段的温度-时间数据，确定现场传感器标定系数，还包括：
19、根据所述第一等效老化时间，提取加速老化试验的测量结果,所述测量结果包括试验传感器的温度-时间数据；
20、根据所述试验传感器的温度-时间数据及现场传感器的温度-时间数据，确定第二等效老化时间；
21、根据第二等效老化时间及加速老化试验的测量结果，确定传感器标定系数。
22、作为本专利技术的进一步改进，所述根据所述第一等效老化时间，提取加速老化试验的测量结果,所述测量结果包括试验传感器的温度-时间数据，包括：
23、提取第一等效老化时间及第一等效老化时间相近时间内的温度-时间数据；
24、所述根据所述试验传感器的温度-时间数据及现场传感器的温度-时间数据，确定第二等效老化时间，包括：
25、计算试验传感器的温度-时间数据和现场传感器的温度-时间数据的相关系数，将相关系数最小的一组数据对应的加速老化时间作为第二等效老化时间。
26、一种传感器自校准系统，包括加速老化试验模块和校准模块；
27、所述加速老化试验模块包括：
28、检测单元：用于对试验传感器进行传感器加速老化试验，获取试验传感器在不同加速老化时间下的测量结果；
29、所述校准模块包括：
30、获取数据单元：用于需要校准时，将现场传感器升温至预设温度，获取温度-时间数据；
31、确定系数单元：用于根据现场传感器所处环境温度参数、加速老化试验阶段的测量结果及现场传感器升温阶段的温度-时间数据，确定现场传感器标定系数；
32、校准单元：用于根据所述标定系数，对现场传感器进行校准。
33、一种电子设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现所述一种传感器自校准方法的步骤。
34、一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现所述一种传感器自校准方法的步骤。
35、一种计算机程序产品，包括计算机指令，该计算机指令被处理器执行时实现如所述一种传感器自校准方法的步骤。
36、一种传感器，包括测量元件、嵌入式处理器、加热元件及数据储存介质；
37、所述嵌入式处理器用于接收及处理传感器数据；
38、所述加热元件安装在测量元件上，用于根据嵌入式处理器的控制信号，在传感器需要校准时通电，并以预设速度升高传感器温度；
39、所述数据储存介质用于储存传感器数据。
40、与现有技术相比，本专利技术具有以下有益效果：
41、本专利技术利用加速老化试验获得真实的传感器老化后的性能表现，以此作为参考进行标定，在传感器投入运行后不需要在进行其它额外试验，极大地方便了现场的使用和后期的使用。同时，本专利技术利用传感器实际所处的温度和时间计算加速老化时间，而不是以一个总结出的常规所处温度计算，得到的加速老化温度更为准确。通过利用传感器测得的温度曲线来寻找对应老化时间周围相关系数最高的老化数据，能够充分考虑加速老化试验以外的老化因子，从而更准确的获得标定系数。因此，本专利技术不需要复杂的人工校准，也不需要多个传感器相互对比，就能够实现gis内置式气体状态多参量融合传感器的自主在线校准，本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种传感器自校准方法，其特征在于，包括加速老化试验阶段和校准阶段；
2.根据权利要求1所述的一种传感器自校准方法，其特征在于，所述对试验传感器进行加速老化试验，获取试验传感器在不同加速老化时间下的测量结果，包括：
3.根据权利要求2所述的一种传感器自校准方法，其特征在于，所述预设温度为恒温箱温度的设定值。
4.根据权利要求1所述的一种传感器自校准方法，其特征在于，根据现场传感器所处环境温度参数、加速老化试验的测量结果及现场传感器升温阶段的温度-时间数据，确定现场传感器标定系数，包括：
5.根据权利要求4所述的一种传感器自校准方法，其特征在于，根据现场传感器所处环境温度参数、加速老化试验的测量结果及现场传感器升温阶段的温度-时间数据，确定现场传感器标定系数，还包括：
6.根据权利要求5所述的一种传感器自校准方法，其特征在于，所述根据所述第一等效老化时间，提取加速老化试验的测量结果,所述测量结果包括试验传感器的温度-时间数据，包括：
7.一种传感器自校准系统，其特征在于，包括加速老化试验模块和校准模块；>
8.一种电子设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1-6任一项所述一种传感器自校准方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-6任一项所述一种传感器自校准方法的步骤。
10.一种计算机程序产品，其特征在于，包括计算机指令，该计算机指令被处理器执行时实现如权利要求1-6任一项所述一种传感器自校准方法的步骤。
11.一种传感器，其特征在于，包括测量元件、嵌入式处理器、加热元件及数据储存介质；
...【技术特征摘要】
1.一种传感器自校准方法，其特征在于，包括加速老化试验阶段和校准阶段；
2.根据权利要求1所述的一种传感器自校准方法，其特征在于，所述对试验传感器进行加速老化试验，获取试验传感器在不同加速老化时间下的测量结果，包括：
3.根据权利要求2所述的一种传感器自校准方法，其特征在于，所述预设温度为恒温箱温度的设定值。
4.根据权利要求1所述的一种传感器自校准方法，其特征在于，根据现场传感器所处环境温度参数、加速老化试验的测量结果及现场传感器升温阶段的温度-时间数据，确定现场传感器标定系数，包括：
5.根据权利要求4所述的一种传感器自校准方法，其特征在于，根据现场传感器所处环境温度参数、加速老化试验的测量结果及现场传感器升温阶段的温度-时间数据，确定现场传感器标定系数，还包括：
6.根据权利要求5所述的一种传感器自校准方法，其特征在于，所...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘灿东，艾福强，赵儆，常越，王鹏飞，陈欢，李军浩，韩旭涛，王昊天，张胜祥，
申请(专利权)人：特变电工科技投资有限公司，
类型：发明
国别省市：
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