System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() X射线成像系统和方法技术方案_技高网

X射线成像系统和方法技术方案

技术编号:41504777 阅读:8 留言:0更新日期:2024-05-30 14:45
用于定量3D成像的改进的重建方法是基于在快速和/或低辐射断层摄影图像采集和重建中使用简化的系统矩阵和散射干扰小的数据集,其中一些使用时间连续性和空间连续性。该方法并入在断层摄影成像、散射去除和/或光谱成像中。使用光谱测量的重建可能能够将每种物质与其余物质分开。并且高分辨率3D重建可以仅对选定的物质执行,例如,ROI的其余部分或者其他组织或组分可以从材料分解图像处理计算为一个已知的衰减值。超低辐射2D和3D定量X射线成像使用作为散射去除装置的防散射栅格或使用软件或者两者的组合,具有小于1%的SPR,或小于5%的SPR,例如,10%至>99%的辐射剂量减少,但是提供了与传统普通X射线图像相似或等同或更好的图像可见度。这可以通过将每个像素的强度乘以系数或者通过定量系数调节每个像素的强度水平来实现。所述调节可以取决于像素,或者可以是彼此独立的。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】


技术介绍


技术实现思路

【技术保护点】

1.X射线成像测量系统,所述系统包括:

2.根据权利要求1所述的系统,其中所述调节与所述Pavg是定量相关的。

3.根据权利要求1所述的系统,其中所述调节通过以下步骤中的一个或多个来近似完成:

4.根据权利要求1所述的系统,所述调节通过以下进行:

5.根据权利要求1所述的系统,所述测量是白色图像和/或具有光束阻挡器阵列的白色图像。

6.根据权利要求1所述的系统,所述曝光生成放置在至少一个光源和至少一个检测器之间的目标体积的所述测量或所述散射图像和/或所述初级图像。

7.根据权利要求1所述的系统,所述曝光由至少一个X射线发射位置或至少一个X射线源以相似或相同的X射线能量等级生成。

8.根据权利要求1所述的系统,所述测量的所述图像处理包括去除散射或从初级图像中分离散射图像的方法。

9.根据权利要求1所述的系统,所述图像处理方法涉及光束阻挡器阵列,所述平均像素值的所述导出区域在光束阻挡器阴影之间。

10.根据权利要求1所述的系统,其中所述图像处理方法是1D-7D图像的重建、或光谱成像、和/或材料分解和/或密度测定、和/或一种或多种物质和/或体积单位的密度确定、或荧光检查或定量分析,包括相对空间定位,组分的相互作用,形状、尺寸、空间分布、物质的相对比例的识别、跟踪、定量、区段化、动态表征,或在AI算法中的分析或训练AI算法。

11.根据权利要求1所述的系统,其中所述调节、所述测量、或所述散射图像或所述初级图像是通过对来自两次单独曝光的至少两次单独测量进行堆叠和/或平均生成的。

12.根据权利要求1所述的系统,其中所述初级图像或所述测量具有至小于1%或小于5%或小于10%的初级比例的散射。

13.根据权利要求1所述的系统,所述调节是有条件的,只要由至少一次曝光生成的测量或散射或初级图像及它们的对应部分相差超过阈值。

14.根据权利要求1所述的系统,其中相对于由不同的光束阻挡器阵列位置的、无光束阻挡器阵列的至少一次曝光所生成的至少一个所述初级图像来调节由至少一次曝光所生成的至少一个初级图像,

15.根据权利要求1所述的系统,其中所述曝光是在相对于被成像对象或相对于所述探测器大致相同的X射线发射位置处进行的。

16.根据权利要求1所述的系统,其中所述曝光是在相对于所述检测器或相对于所述被成像对象的大致不同的X射线发射位置处进行的。

17.根据权利要求1所述的系统,其中所述X射线发射位置相对于所述检测器大致不同,但在mm范围内、或小于1cm或1cm、或小于2cm、或小于3cm、或小于4cm或在4-5cm的限定距离内,并且能量等级大致相同。

18.根据权利要求1所述的系统,所述调节是对相对于至少一个所述测量、或至少一个初级图像、或至少一个所述散射图像的由多于一个的曝光测量生成的测量或所述图像的像素进行的。

19.根据权利要求1所述的系统,其中所述调节被用于在一个或多个以下步骤中获得VOI中的至少一种物质的单独图像:

20.根据权利要求1所述的系统,其中

21.根据权利要求1所述的系统,其中

22.根据权利要求1所述的系统,所述X射线图像测量系统包括所述X射线源或所述X射线发射位置,其相对于VOI在至少一个维度上由至少一种类型的移动器移动,或由至少一种类型的转向器或至少一种类型的移动器和至少一种类型的转向器转向。

23.根据权利要求1所述的系统,在相对于VOI的每一个所述X射线发射位置处,所生成的X射线辐射照射通过VOI的至少一部分的至少一个投影路径,所述路径在一个体素的至少一部分中变化,以产生与来自相对于VOI的其它X射线发射位置的VOI的图像相比的VOI的至少一部分的至少一个图像。

24.根据权利要求1所述的系统,其中所述散射X射线或所述初级图像:

25.根据权利要求1所述的系统,所述图像或所述测量被用于重建3D图像。

26.根据权利要求1所述的系统,相对于VOI的两个或多个X射线发射位置在1D至6D空间中移动,辐射X射线以照射VOI的至少一部分来生成测量,从而生成至少一个数据集以重建VOI的3D图像。

27.根据权利要求1所述的系统,来自相对于VOI的不同的所述X射线发射位置的所述图像或所述测量被用于重建3D图像。

28.根据权利要求1所述的系统,来自相对于VOI的不同的所述X射线发射位置的所述图像或所述测量被用于重建3D图像,

29.根据权利要求1所述的系统,所述相对于VOI的X射线发射位置在1D或2D...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.x射线成像测量系统,所述系统包括:

2.根据权利要求1所述的系统,其中所述调节与所述pavg是定量相关的。

3.根据权利要求1所述的系统,其中所述调节通过以下步骤中的一个或多个来近似完成:

4.根据权利要求1所述的系统,所述调节通过以下进行:

5.根据权利要求1所述的系统,所述测量是白色图像和/或具有光束阻挡器阵列的白色图像。

6.根据权利要求1所述的系统,所述曝光生成放置在至少一个光源和至少一个检测器之间的目标体积的所述测量或所述散射图像和/或所述初级图像。

7.根据权利要求1所述的系统,所述曝光由至少一个x射线发射位置或至少一个x射线源以相似或相同的x射线能量等级生成。

8.根据权利要求1所述的系统,所述测量的所述图像处理包括去除散射或从初级图像中分离散射图像的方法。

9.根据权利要求1所述的系统,所述图像处理方法涉及光束阻挡器阵列,所述平均像素值的所述导出区域在光束阻挡器阴影之间。

10.根据权利要求1所述的系统,其中所述图像处理方法是1d-7d图像的重建、或光谱成像、和/或材料分解和/或密度测定、和/或一种或多种物质和/或体积单位的密度确定、或荧光检查或定量分析,包括相对空间定位,组分的相互作用,形状、尺寸、空间分布、物质的相对比例的识别、跟踪、定量、区段化、动态表征,或在ai算法中的分析或训练ai算法。

11.根据权利要求1所述的系统,其中所述调节、所述测量、或所述散射图像或所述初级图像是通过对来自两次单独曝光的至少两次单独测量进行堆叠和/或平均生成的。

12.根据权利要求1所述的系统,其中所述初级图像或所述测量具有至小于1%或小于5%或小于10%的初级比例的散射。

13.根据权利要求1所述的系统,所述调节是有条件的,只要由至少一次曝光生成的测量或散射或初级图像及它们的对应部分相差超过阈值。

14.根据权利要求1所述的系统,其中相对于由不同的光束阻挡器阵列位置的、无光束阻挡器阵列的至少一次曝光所生成的至少一个所述初级图像来调节由至少一次曝光所生成的至少一个初级图像,

15.根据权利要求1所述的系统,其中所述曝光是在相对于被成像对象或相对于所述探测器大致相同的x射线发射位置处进行的。

16.根据权利要求1所述的系统,其中所述曝光是在相对于所述检测器或相对于所述被成像对象的大致不同的x射线发射位置处进行的。

17.根据权利要求1所述的系统,其中所述x射线发射位置相对于所述检测器大致不同,但在mm范围内、或小于1cm或1cm、或小于2cm、或小于3cm、或小于4cm或在4-5cm的限定距离内,并且能量等级大致相同。

18.根据权利要求1所述的系统,所述调节是对相对于至少一个所述测量、或至少一个初级图像、或至少一个所述散射图像的由多于一个的曝光测量生成的测量或所述图像的像素进行的。

19.根据权利要求1所述的系统,其中所述调节被用于在一个或多个以下步骤中获得voi中的至少一种物质的单独图像:

20.根据权利要求1所述的系统,其中

21.根据权利要求1所述的系统,其中

22.根据权利要求1所述的系统,所述x射线图像测量系统包括所述x射线源或所述x射线发射位置,其相对于voi在至少一个维度上由至少一种类型的移动器移动,或由至少一种类型的转向器或至少一种类型的移动器和至少一种类型的转向器转向。

23.根据权利要求1所述的系统,在相对于voi的每一个所述x射线发射位置处,所生成的x射线辐射照射通过voi的至少一部分的至少一个投影路径,所述路径在一个体素的至少一部分中变化,以产生与来自相对于voi的其它x射线发射位置的voi的图像相比的voi的至少一部分的至少一个图像。

24.根据权利要求1所述的系统,其中所述散射x射线或所述初级图像:

25.根据权利要求1所述的系统,所述图像或所述测量被用于重建3d图像。

26.根据权利要求1所述的系统,相对于voi的两个或多个x射线发射位置在1d至6d空间中移动,辐射x射线以照射voi的至少一部分来生成测量,从而生成至少一个数据集以重建voi的3d图像。

27.根据权利要求1所述的系统,来自相对于voi的不同的所述x射线发射位置的所述图像或所述测量被用于重建3d图像。

28.根据权利要求1所述的系统,来自相对于voi的不同的所述x射线发射位置的所述图像或所述测量被用于重建3d图像,

29.根据权利要求1所述的系统,所述相对于voi的x射线发射位置在1d或2d、或3d、或4d、或5d或6d或7d空间中的至少一个维度中移动,从所述发射位置生成x射线测量或所述初级图像;

30.根据权利要求1所述的系统,其中相对于voi的所述x射线发射位置在1d或2d、或3d、或4d、或5d或6d或7d空间中的至少一个维度上移动,从所述发射位置生成x射线测量或所述初级图像;

31.根据权利要求1所述的系统,其中相对于voi的所述x射线发射位置在1d或2d、或3d、或4d、或5d或6d或7d空间中的至少一个维度上移动,从所述发射位置生成x射线测量或所述初级图像;

32.根据权利要求1所述的系统,其中

33.根据权利要求1所述的系统,其中

34.根据权利要求1所述的系统,其中

35.根据权利要求33所述的方法,其中

36.根据权利要求33所述的方法,其中

37.根据权利要求33所述的用于3d重建的方法,每个列在xy方向上的尺寸可以至少为1×1或1×2,并且在第三轴中的尺寸与在第三轴中的voi的尺寸相似。

38.根据权利要求33所述的用于3d重建的方法,其中每个列可以独立地重建。

39.根据权利要求33所述的用于3d重建的方法,其中基于重建后的相对空间位置将重建的列堆叠在一起。

40.根据权利要求33所述的用于3d重建的方法,其中沿着第三维的分区重建可以发生和/或选定的目标区域可以首先重建或优先重建,或同时重建或并行处理,可以随后堆叠在一起或数字化标记voi中的每个区段或每个分区的空间位置以用于显示。

41.根据权利要求13中所述的用于3d重建的方法,使用并行处理来进一步加速所述重建方法。

42.根据权利要求33所述的用于3d重建的方法,在如具有飞行时间传感器和光源的时域、如具有初级调制器的频域、和/或如具有光束选择器或光束阻挡器阵列的空间域中去除了散射。

43.根据权利要求33所述的断层摄影成像方法,生成所述初级图像,其中用于衰减光束选择器和光束阻挡器阵列的材料对系统的x射线束衰减可以优于大约99%、或99.9%或99.99%。

44.根据权利要求33所述的方法,其中用于衰减的材料是混合金属合金或钨。

45.根据权利要求33所述的方法,在光源到voi相对位置小于1度的范围内生成与穿过voi的x射线源到检测器相关的光束路径的至少一部分。

46.根据权利要求33所述的用于3d重建的方法,其中voi的厚度由用户测量或评估,或给出用于材料分解的光谱成像,或确...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵莹
申请(专利权)人:塞尔斯夫有限责任公司
类型:发明
国别省市:

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