【技术实现步骤摘要】
本申请涉及油气地质勘测领域，具体而言，涉及一种基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法和装置。
技术介绍
1、沉积岩中的裂缝受到多种因素的影响，包括局部到区域的构造和应力状态、岩石地层环境、水文地质构造、成岩过程、驱动变形机制（如结构弯曲与水力压裂），以及岩性单元的内在力学性质及其在界面处的耦合。岩石力学层是指岩石力学行为相近或岩石力学性质一致的岩层，是由岩石力学界面所限定的具有相同或相近的强度、脆性和断裂力学性质的岩石力学单元，它包括岩石力学单元和岩石力学界面两部分。
2、岩石力学层的力学性质、界面两侧力学性质的差异、力学层的力学层厚度和构造应力决定了裂缝的生长或终止，使天然裂缝具有多尺度特征。根据裂缝与岩石力学层的关系，裂缝可分为两类：层控裂缝和穿层裂缝。岩石力学层的单层力学层厚度与其有限的平均裂缝间距呈正线性相关或非线性幂函数关系。这两种函数都意味着力学层越薄，裂缝间距越小，裂缝密度越大。为了获得这些函数参数，准确地表征裂缝的密度是至关重要的先决条件。
3、相关技术中，通常是通过随着扫描线与裂缝面夹角和相关的参数来确定裂缝线密度，当角度增大时，所得到的裂缝线密度的误差会越来越大，无法表征地下裂缝的发育程度，适用性差。
4、因此，如何准确地确定地下裂缝的裂缝线密度，对地下裂缝的发育程度进行表征成为业界亟待解决的技术问题。
技术实现思路
1、本申请提供一种基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法和装置，用于解决如何准确地确定地下裂缝的裂缝线密度，对地下
2、本申请提供一种基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法，包括：
3、获取岩石力学层的井下测井资料；
4、基于所述井下测井资料，确定测井直径，以及所述岩石力学层的裂缝数量、裂缝倾角和力学层厚度；
5、基于所述裂缝倾角、所述力学层厚度和所述测井直径，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度；
6、基于所述裂缝数量和所述扫描线投影长度，确定所述岩石力学层的裂缝线密度。
7、在一些实施例中，所述基于所述裂缝倾角、所述力学层厚度和所述测井直径，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度，包括：
8、基于所述裂缝倾角和所述力学层厚度，确定在裂缝法线方向的第一投影长度；
9、基于所述裂缝倾角和所述测井直径，确定在裂缝法线方向的第二投影长度；
10、基于所述第一投影长度和所述第二投影长度，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度。
11、在一些实施例中，所述基于所述裂缝数量和所述扫描线投影长度，确定所述岩石力学层的裂缝线密度之后，所述方法还包括：
12、基于所述扫描线投影长度和所述裂缝数量，确定所述岩石力学层中裂缝线密度最大值和裂缝线密度最小值；
13、基于所述裂缝线密度最大值和所述裂缝线密度最小值，对所述裂缝线密度进行校正。
14、在一些实施例中，所述方法还包括：
15、基于井下测井资料，确定所述岩石力学层的裂缝间距；
16、基于所述扫描线投影长度和所述裂缝间距，确定所述岩石力学层的最大裂缝数量。
17、在一些实施例中，所述基于所述扫描线投影长度和所述裂缝间距，确定所述岩石力学层的最大裂缝数量，包括：
18、对所述扫描线投影长度和所述裂缝间距的商进行向下取整，得到所述岩石力学层的最大裂缝数量。
19、在一些实施例中，所述方法还包括：
20、基于所述裂缝线密度最大值、所述裂缝线密度最小值、所述扫描线投影长度和所述最大裂缝数量，对所述岩石力学层中地下裂缝的发育程度进行表征。
21、在一些实施例中，所述基于所述井下测井资料，确定测井直径，以及所述岩石力学层的裂缝数量、裂缝倾角和力学层厚度之后，所述方法还包括：
22、在所述岩石力学层的裂缝数量为零的情况下，确定所述岩石力学层中地下裂缝不发育，停止确定所述岩石力学层的裂缝线密度。
23、本申请提供一种基于井下测井资料的裂缝线密度校正装置，包括：
24、资料获取单元，用于获取岩石力学层的井下测井资料；
25、参数确定单元，用于基于所述井下测井资料，确定测井直径，以及所述岩石力学层的裂缝数量、裂缝倾角和力学层厚度；
26、扫描线确定单元，用于基于所述裂缝倾角、所述力学层厚度和所述测井直径，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度；
27、裂缝线密度确定单元，用于基于所述裂缝数量和所述扫描线投影长度，确定所述岩石力学层的裂缝线密度。
28、本申请提供一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为通过所述计算机程序执行所述的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法。
29、本申请提供一种计算机可读的存储介质，所述计算机可读的存储介质包括存储的程序，其中，所述程序运行时执行所述的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法。
30、本申请提供的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法和装置，基于岩石力学层的井下测井资料，确定测井直径，以及岩石力学层的裂缝数量、裂缝倾角和力学层厚度；基于裂缝倾角、力学层厚度和测井直径，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度；基于裂缝数量和扫描线投影长度，确定岩石力学层的裂缝线密度；由于根据岩石力学层的井下测井资料中的相关参数重新确定了在裂缝法线方向上的扫描线投影长度，该投影长度能够在裂缝倾角变化的情况下真实反映扫描线在裂缝法线方向上的长度变化，减小了裂缝线密度的误差，提高了地下裂缝的裂缝线密度确定的准确性，所得到的裂缝线密度可以更加精确地对地下裂缝的发育程度进行表征，能够适应裂缝倾角的变化，具有较高的适用性。
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1.一种基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法，其特征在于，所述基于所述裂缝倾角、所述力学层厚度和所述测井直径，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度，包括：
3.根据权利要求1所述的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法，其特征在于，所述基于所述裂缝数量和所述扫描线投影长度，确定所述岩石力学层的裂缝线密度之后，所述方法还包括：
4.根据权利要求3所述的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法，其特征在于，所述方法还包括：
5.根据权利要求4所述的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法，其特征在于，所述基于所述扫描线投影长度和所述裂缝间距，确定所述岩石力学层的最大裂缝数量，包括：
6.根据权利要求4所述的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法，其特征在于，所述方法还包括：
7.根据权利要求1至6任一项所述的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法，其特征在于，所述基于所述井下测井资料，确定测井直径，以及所述岩石力学层的裂缝数量、裂缝倾角和力学层厚
8.一种基于井下测井资料的裂缝线密度校正装置，其特征在于，包括：
9.一种电子设备，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为通过所述计算机程序执行权利要求1至7任一项所述的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法。
10.一种计算机可读的存储介质，其特征在于，所述计算机可读的存储介质包括存储的程序，其中，所述程序运行时执行权利要求1至7任一项所述的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法。
...【技术特征摘要】
1.一种基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法，其特征在于，所述基于所述裂缝倾角、所述力学层厚度和所述测井直径，确定在裂缝法线方向上的扫描线投影长度，包括：
3.根据权利要求1所述的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法，其特征在于，所述基于所述裂缝数量和所述扫描线投影长度，确定所述岩石力学层的裂缝线密度之后，所述方法还包括：
4.根据权利要求3所述的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法，其特征在于，所述方法还包括：
5.根据权利要求4所述的基于井下测井资料的裂缝线密度校正方法，其特征在于，所述基于所述扫描线投影长度和所述裂缝间距，确定所述岩石力学层的最大裂缝数量，包括：
6.根据权利要求4所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘国平，金之钧，曾联波，曹东升，曹嵩，王继宏，
申请(专利权)人：北京大学，
类型：发明
国别省市：
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