【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及烧结过程异常分析，尤其涉及到一种烧结过程异常原因分析方法、装置及设备。
技术介绍
1、烧结是炼铁工序中的重要环节，烧结过程具有时间滞后长、影响因素多、参数耦合性强的特点。在实际生产过程中，烧结现场操作人员通过自身经验定位烧结操作参数并对烧结操作参数的数值进行调整，但是人工反应速度慢，劳动强度高，容易出错且一旦出错就会导致烧结过程异常恢复周期变长，进一步造成烧结过程能耗的升高与产质量的降低。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术提供了一种烧结过程异常原因分析方法、装置及设备，可解决根据人工经验无法及时、快速且准确的定位到导致烧结过程异常的原因，导致烧结过程能耗升高与产质量降低的技术问题。
2、根据本专利技术的第一个方面，提供了一种烧结过程异常原因分析方法，所述方法包括：
3、确定烧结状态质量异常参数以及异常时刻；
4、获取与所述烧结状态质量异常参数第一预设相关的烧结操作参数，根据所述异常时刻确定待分析的烧结操作时段，获取所述烧结操作时段对应的烧结状态质量异常参数数据以及烧结操作参数数据；
5、根据所述烧结状态质量异常参数数据与所述烧结操作参数数据确定烧结状态质量异常参数区间对应的目标烧结操作参数区间；
6、根据所述烧结状态质量异常参数区间与所述目标烧结操作参数区间分析烧结过程异常原因。
7、优选地，所述确定烧结状态质量异常参数，包括：
8、获取与烧结矿产质量对应的烧结过程状态质量参数；
9、实时获取所述烧结过程状态质量参数数据以及与所述烧结过程状态质量参数数据对应的评价分数；
10、根据当前时刻评价分数与上一时刻评价分数确定烧结状态质量异常参数。
11、优选地，所述获取与烧结矿产质量对应的烧结过程状态质量参数，包括：
12、获取烧结产线全过程中，与烧结矿产质量第二预设相关的烧结过程状态质量参数，其中，所述烧结过程状态质量参数包括：原料参数、料仓参数、混料参数、烧结机参数中的至少一种。
13、优选地，所述根据所述烧结状态质量异常参数数据与所述烧结操作参数数据确定烧结状态质量异常参数区间对应的目标烧结操作参数区间，包括：
14、根据所述烧结状态质量异常参数数据与所述烧结操作参数数据之间的空间距离划分得到烧结状态质量异常参数区间以及每种所述烧结操作参数对应的烧结操作参数区间；
15、计算同种所述烧结操作参数区间分别与所述烧结状态质量异常参数区间之间的相关顺序，根据所述相关顺序确定目标烧结操作参数区间。
16、优选地，所述根据所述相关顺序确定目标烧结操作参数区间，包括：
17、若所述烧结状态质量异常参数的数量为一个，则确定每种所述烧结操作参数对应的第三预设相关的所述烧结操作参数区间作为目标烧结操作参数区间。
18、优选地，所述根据所述相关顺序确定目标烧结操作参数区间，包括：
19、若所述烧结状态质量异常参数的数量大于一个，则确定每种所述烧结状态质量异常参数的每种所述烧结操作参数对应的第四预设相关的所述烧结操作参数区间，将所有烧结状态质量异常参数的同一种所述烧结操作参数的第四预设相关的所述烧结操作参数区间按照预设规则取交集，得到目标烧结操作参数区间。
20、优选地，所述根据所述烧结状态质量异常参数区间与所述目标烧结操作参数区间分析烧结过程异常原因，包括：
21、将所述烧结状态质量异常参数区间与所述目标烧结操作参数区间对应发送至分析终端，以使所述分析终端得出烧结过程异常原因。
22、根据本专利技术的第二个方面，提供了一种烧结过程异常原因分析装置，所述装置包括：
23、第一确定模块，用于确定烧结状态质量异常参数以及异常时刻；
24、获取模块，用于获取与所述烧结状态质量异常参数第一预设相关的烧结操作参数，根据所述异常时刻确定待分析的烧结操作时段，获取所述烧结操作时段对应的烧结状态质量异常参数数据以及烧结操作参数数据；
25、第二确定模块，用于根据所述烧结状态质量异常参数数据与所述烧结操作参数数据确定烧结状态质量异常参数区间对应的目标烧结操作参数区间；
26、分析模块，用于根据所述烧结状态质量异常参数区间与所述目标烧结操作参数区间分析烧结过程异常原因。
27、依据本申请第三个方面，提供了一种存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述烧结过程异常原因分析方法。
28、依据本申请第四个方面，提供了一种计算机设备，包括存储介质、处理器及存储在存储介质上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述烧结过程异常原因分析方法。
29、借由上述技术方案，本专利技术提供的一种烧结过程异常原因分析方法、装置及设备，第一、与现有技术需要人工监控、需要人工判断烧结状态质量异常参数相比，本申请的有益效果是自动分析烧结过程状态质量参数是否异常，从而无需人工监控，无需人工判断烧结状态质量异常参数，从而提高了烧结过程异常原因分析的实时性，效率，准确性，降低了人工成本，第二、本申请获取与所述烧结状态质量异常参数第一预设相关的烧结操作参数，根据烧结状态质量异常参数的异常时刻确定待分析的烧结操作时段，以便从此时段内大量丰富的产线数据中获取真实的信息，在获得大量产线数据后，就可从这些大量产线数据中挖掘信息，挖掘的信息包括：根据所述烧结状态质量异常参数数据与所述烧结操作参数数据确定烧结状态质量异常参数区间对应的目标烧结操作参数区间，与现有技术只能通过人工经验分析大量产线数据，具有主观性，且大量数据分析效率低，人工难以准确快速的定位到导致烧结状态质量异常参数的原因相比，本申请的有益效果是可以充分挖掘大量产线数据中的信息，可以客观准确的对烧结过程异常原因进行分析，且不仅快速准确的定位到导致烧结状态质量异常参数的原因是目标烧结操作参数，还快速准确的定位到目标烧结操作参数区间，即不仅实现了定位，还实现了量化定位，以便后续根据所述烧结状态质量异常参数区间与所述目标烧结操作参数区间实时分析烧结过程异常的进一步原因，从而提高了烧结过程异常原因分析的实时性，效率，准确性，降低了人工成本。
30、上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本专利技术的具体实施方式。
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1.一种烧结过程异常原因分析方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述烧结状态质量异常参数数据与所述烧结操作参数数据确定烧结状态质量异常参数区间对应的目标烧结操作参数区间，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述相关顺序确定目标烧结操作参数区间，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述相关顺序确定目标烧结操作参数区间，包括：
5.根据权利要求1所述方法，其特征在于，所述根据所述烧结状态质量异常参数区间与所述目标烧结操作参数区间分析烧结过程异常原因，包括：
6.一种烧结过程异常原因分析装置，其特征在于，所述装置包括：
7.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至5中任一项所述烧结过程异常原因分析方法。
8.一种计算机设备，包括存储介质、处理器及存储在存储介质上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至5中任一项所
...【技术特征摘要】
1.一种烧结过程异常原因分析方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述烧结状态质量异常参数数据与所述烧结操作参数数据确定烧结状态质量异常参数区间对应的目标烧结操作参数区间，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述相关顺序确定目标烧结操作参数区间，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述相关顺序确定目标烧结操作参数区间，包括：
5.根据权利要求1所述方法，其特征在于，所述根...
【专利技术属性】
技术研发人员：唐珏，储满生，王茗玉，李毅仁，韩健，侯健，张振，黄小波，
申请(专利权)人：东北大学，
类型：发明
国别省市：
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