【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片测试装置的，尤其是涉及一种测试机。
技术介绍
1、ic芯片(integrated circuit chip)是将大量的微电子元器件(晶体管、电阻、电容等)形成的集成电路放在一块塑基上，做成一块芯片。因为对于ic芯片的使用要求较高，所以在芯片出厂前需要对芯片进行老化测试，确保芯片不仅可以在正常条件下使用，也可以在环境恶劣的时候使用(如高温情况)，在芯片使用一段时间后，需要进行相应的老化测试，以确保芯片的正常使用。
2、对于老化测试用设备而言，经常需要对设备的测试单元进行检修和清洁，以保证测试结果的稳定性。而ic测试中的核心测试单元往往尺寸较小，这就导致测试单元的设备空间整体较小，不方便操作人员进行检修测试，大大增加了测试时间，影响生产效率。
技术实现思路
1、针对现有技术存在的不足，本技术的目的是提供一种测试机，其具有便于检修的优点。
2、本技术的上述目的是通过以下技术方案得以实现的：
3、一种测试机，包括内部中空的机架，所述机架内滑动设置有测试单元，所述机架内设置有用于定位测试单元的定位组件。
4、本技术进一步设置为：所述测试单元包括基板、设置在基板上的用于放置芯片的放置台、用于测试芯片的测试座，所述基板上设置有用于带动放置台朝向测试座移动的升降气缸；
5、所述基板两侧均设置有滑动板，每一所述滑动板上均设置有滑动轨，所述机架内设置有导向轨，所述滑动轨与导向轨互相平行，所述滑动轨一端设置有动滑块，所述动滑块滑动
6、本技术进一步设置为：所述机架上设置有多个限位立柱，所述限位立柱分布在滑动轨两侧且邻靠定滑块设置，所述滑动轨两端均设置有限位挡板。
7、本技术进一步设置为：所述基板一端连接有拉把，所述拉把沿滑动轨长度方向延伸。
8、本技术进一步设置为：所述升降气缸设置在基板背离放置台的一侧面上，所述升降气缸的伸缩杆沿竖直方向设置，所述升降气缸的伸缩杆上连接有升降板，所述升降板平行于放置台，所述升降板与放置台之间连接有多根连接杆，所述基板上设置有多个导向套，每一所述连接杆均贯穿一个导向套设置。
9、本技术进一步设置为：所述放置台上开设有多个放置腔，多个所述放置腔间隔设置，其中一个所述放置腔的侧边滑动设置有限位卡块，所述限位卡块远离放置腔的一端连接有限位气缸。
10、本技术进一步设置为：所述测试单元在机架内设置有两组，两组所述测试单元在竖直方向上间隔排布。
11、本技术进一步设置为：每一所述升降气缸均连接有单向诱导阀。
12、本技术进一步设置为：所述定位组件包括设置在机架内的定位气缸、设置在定位气缸的伸缩杆一端的定位导套，所述定位气缸的伸缩杆沿竖直方向设置，所述测试单元上开设有供定位导套插入的定位孔。
13、本技术进一步设置为：所述定位导套朝向测试单元的一端成锥状，且朝向测试单元一端的径长小于远离测试单元一端的径长。
14、综上所述，本技术的有益技术效果为：
15、1.在检修人员对于测试单元进行检修时，可直接将其拉至设备外测，大大增加检修空间，提高了检修的便捷性；
16、2.通过锥形的定位导套和定位孔配合，在限位测试单元的同时精确定位，提高重复定位精度。
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1.一种测试机，包括内部中空的机架(1)，其特征在于：所述机架(1)内滑动设置有测试单元(2)，所述机架(1)内设置有用于定位测试单元(2)的定位组件(3)。
2.根据权利要求1所述的一种测试机，其特征在于：所述测试单元(2)包括基板(21)、设置在基板(21)上的用于放置芯片的放置台(22)、用于测试芯片的测试座(23)，所述基板(21)上设置有用于带动放置台(22)朝向测试座(23)移动的升降气缸(24)；
3.根据权利要求2所述的一种测试机，其特征在于：所述机架(1)上设置有多个限位立柱(52)，所述限位立柱(52)分布在滑动轨(41)两侧且邻靠定滑块(51)设置，所述滑动轨(41)两端均设置有限位挡板(412)。
4.根据权利要求2所述的一种测试机，其特征在于：所述基板(21)一端连接有拉把(6)，所述拉把(6)沿滑动轨(41)长度方向延伸。
5.根据权利要求2所述的一种测试机，其特征在于：所述升降气缸(24)设置在基板(21)背离放置台(22)的一侧面上，所述升降气缸(24)的伸缩杆沿竖直方向设置，所述升降气缸(24)的伸
6.根据权利要求2所述的一种测试机，其特征在于：所述放置台(22)上开设有多个放置腔(221)，多个所述放置腔(221)间隔设置，其中一个所述放置腔(221)的侧边滑动设置有限位卡块(222)，所述限位卡块(222)远离放置腔(221)的一端连接有限位气缸(223)。
7.根据权利要求2所述的一种测试机，其特征在于：所述测试单元(2)在机架(1)内设置有两组，两组所述测试单元(2)在竖直方向上间隔排布。
8.根据权利要求7所述的一种测试机，其特征在于：每一所述升降气缸(24)均连接有单向诱导阀(241)。
9.根据权利要求1所述的一种测试机，其特征在于：所述定位组件(3)包括设置在机架(1)内的定位气缸(31)、设置在定位气缸(31)的伸缩杆一端的定位导套(32)，所述定位气缸(31)的伸缩杆沿竖直方向设置，所述测试单元(2)上开设有供定位导套(32)插入的定位孔(33)。
10.根据权利要求9所述的一种测试机，其特征在于：所述定位导套(32)朝向测试单元(2)的一端成锥状，且朝向测试单元(2)一端的径长小于远离测试单元(2)一端的径长。
...【技术特征摘要】
1.一种测试机，包括内部中空的机架(1)，其特征在于：所述机架(1)内滑动设置有测试单元(2)，所述机架(1)内设置有用于定位测试单元(2)的定位组件(3)。
2.根据权利要求1所述的一种测试机，其特征在于：所述测试单元(2)包括基板(21)、设置在基板(21)上的用于放置芯片的放置台(22)、用于测试芯片的测试座(23)，所述基板(21)上设置有用于带动放置台(22)朝向测试座(23)移动的升降气缸(24)；
3.根据权利要求2所述的一种测试机，其特征在于：所述机架(1)上设置有多个限位立柱(52)，所述限位立柱(52)分布在滑动轨(41)两侧且邻靠定滑块(51)设置，所述滑动轨(41)两端均设置有限位挡板(412)。
4.根据权利要求2所述的一种测试机，其特征在于：所述基板(21)一端连接有拉把(6)，所述拉把(6)沿滑动轨(41)长度方向延伸。
5.根据权利要求2所述的一种测试机，其特征在于：所述升降气缸(24)设置在基板(21)背离放置台(22)的一侧面上，所述升降气缸(24)的伸缩杆沿竖直方向设置，所述升降气缸(24)的伸缩杆上连接有升降板(25)，所述升降板(25)平行于放置台(22)，所述升降板(25)与放置台(22)之间连接有多根连接杆(...
【专利技术属性】
技术研发人员：何润，侯德胜，
申请(专利权)人：苏州乾鸣半导体设备有限公司，
类型：新型
国别省市：
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