【技术实现步骤摘要】
本技术涉及电子元件测试，具体涉及一种数控衰减器的自动测试装置。
技术介绍
1、高频数控衰减器作为接收机中的重要部件，在射频链路中起到十分重要的作用。但是现有的测试方案不能很好的解决数字控制部分与射频机台之间的协调问题，且各状态下的衰减精度测量存在一定的难度。这些难点使得数控衰减器的测试较为繁琐和复杂，且会存在由于人工控制不当引起的器件损伤的风险。
技术实现思路
1、本技术提供一种数控衰减器的自动测试装置，通过该设备可以实现测量的准确性和可靠性，并有效的提高生产效率，使该测试方案具有可移植性和通用性。
2、为了达到上述目的，本技术提供如下技术方案：一种数控衰减器的自动测试装置，其包括：控制主机、程控电源、fpga控制器、网络分析仪，以及测试夹具，所述控制主机通过串口总线与所述fpga控制器连接，所述控制主机通过gpib总线与所述程控电源、所述网络分析仪连接，所述测试夹具与所述fpga控制器、所述程控电源、所述网络分析仪连接。
3、优选的，所述测试夹具包括背板，所述背板中央设有连接座，并且所述背板的一端设有与所述连接座电性连接的连接器，所述连接器与所述连接座电性连接。
4、优选的，所述连接器内包括第一通信接口、第二通信接口和电源接口，所述第一通信接口与所述fpga控制器通信，所述第二通信接口与所述网络分析仪通信，所述电源接口与所述程控电源的供电端连接。
5、优选的，所述控制主机为pc机。
6、优选的，还包括测试台座，所述测试台
7、本技术有益效果在于：将数控衰减器芯片放入连接座后进行固定，保证连接性能完好。再启动程控电源的控制程序，对程控电源进行通电，测量电源电流。然后fpga控制器调用运行已有程序，依次施加不同的数字控制端状态。在不同状态下，启动网络分析仪的测试程序，依次缓存不同的衰减量测试曲线及数据，并存储在控制主机内。状态施加完整后，依次断开射频端输入、数字控制端输入及电源输入。将缓存数据进行数理统计处理，最后输出不同状态下的衰减精度值，因此，通过该设备可以实现测量的准确性和可靠性。
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1.一种数控衰减器的自动测试装置，其特征在于,包括：控制主机、程控电源、FPGA控制器、网络分析仪，以及测试夹具，所述控制主机通过串口总线与所述FPGA控制器连接，所述控制主机通过GPIB总线与所述程控电源、所述网络分析仪连接，所述测试夹具与所述FPGA控制器、所述程控电源、所述网络分析仪连接。
2.根据权利要求1所述的一种数控衰减器的自动测试装置，其特征在于：所述测试夹具包括背板，所述背板中央设有连接座，并且所述背板的一端设有与所述连接座电性连接的连接器，所述连接器与所述连接座电性连接。
3.根据权利要求2所述的一种数控衰减器的自动测试装置，其特征在于：所述连接器内包括第一通信接口、第二通信接口和电源接口，所述第一通信接口与所述FPGA控制器通信，所述第二通信接口与所述网络分析仪通信，所述电源接口与所述程控电源的供电端连接。
4.根据权利要求1所述的一种数控衰减器的自动测试装置，其特征在于：所述控制主机为PC机。
5.根据权利要求4所述的一种数控衰减器的自动测试装置，其特征在于：还包括测试台座，所述测试台座为腔体结构，所述FPGA
...【技术特征摘要】
1.一种数控衰减器的自动测试装置，其特征在于,包括：控制主机、程控电源、fpga控制器、网络分析仪，以及测试夹具，所述控制主机通过串口总线与所述fpga控制器连接，所述控制主机通过gpib总线与所述程控电源、所述网络分析仪连接，所述测试夹具与所述fpga控制器、所述程控电源、所述网络分析仪连接。
2.根据权利要求1所述的一种数控衰减器的自动测试装置，其特征在于：所述测试夹具包括背板，所述背板中央设有连接座，并且所述背板的一端设有与所述连接座电性连接的连接器，所述连接器与所述连接座电性连接。
3.根据权利要求2所述的一种数...
【专利技术属性】
技术研发人员：董海琪，王博，权亚娟，朱元涛，柳叶青，高梦轩，
申请(专利权)人：西安西谷芯创电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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