【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及nand固件测试相关，具体涉及一种针对nand产品的预填盘方法和系统。
技术介绍
1、nand闪存具有一些独特的特性，这些特性对nand存储产品的设计和使用方式产生了深远的影响，例如擦写周期有限、特定的读写单位以及数据存储模式对nand产品的影响都是关键考虑因素。
2、wl（wear leveling，磨损均衡）、gc（garbage collection，垃圾回收）和wa（writeamplification，写放大）等机制，都是nand闪存管理中用来优化性能和延长使用寿命的关键技术。这些机制对于确保nand存储设备的稳定性和性能至关重要。
3、在测试nand产品时，仅仅进行空盘或满盘测试无法充分模拟用户的实际使用场景。这种简化的测试方法可能会忽略一些在实际使用中才会出现的问题，导致产品在用户使用一段时间后出现故障。
4、为了更准确地模拟用户的使用场景并测试nand产品的性能，需要采用更复杂的测试方法。这包括使用具有不同数据分布和访问模式的测试数据集，以及模拟实际使用中的写入和擦除操作。
5、固态硬盘的precondition预填盘方式在测试前的数据写入和准备阶段，对于确保测试结果的准确性至关重要。precondition的目的是为了消除固态硬盘内部状态的不确定性，使得测试结果更加可靠和可重复。如果precondition做得不好，固态硬盘可能会表现出某种规律性的行为，从而导致测试结果出现偏差。
6、因此，在进行固态硬盘性能测试时，需要仔细设计和执行pr
7、对于nand闪存和固态硬盘的测试，需要综合考虑其特性和使用场景，采用适当的测试方法和precondition策略，以确保测试结果的准确性和可靠性。
8、因此当前亟需设计一种针对nand产品的预填盘方法和系统，以实现上述技术效果。
技术实现思路
1、为了解决上述内容中提到的问题，本专利技术提出了一种针对nand产品的预填盘方法和系统，模拟了用户的实际使用场景，确保了测试结果的准确性，提高了nand的系统稳定性和性能。
2、一种针对nand产品的预填盘方法，其特征在于：所述方法包括以下步骤：
3、步骤1、对使用过一段时间的nand获取快照；
4、步骤2、模式生成器通过快照生成预填盘模式；
5、步骤3、模式管理系统将步骤2中生成的预填盘模式保存在模式数据库中；
6、步骤4、测试预置服务器通过查询模式数据库获取对应的预填盘模式；
7、步骤5、自动化测试集群使用步骤4中的预填盘模式对待测nand进行批量预填盘设置；
8、步骤6、完成预填盘设置，取出待测nand备用。
9、进一步的，快照的信息包括：物理饱和度、逻辑饱和度、ect、rct、smart info、register dump、capacity、冷热数据比例、负载比率、功耗和温度。
10、进一步的，所述步骤1还包括：通过trace log或者分析rma获取额外信息。
11、进一步的，所述步骤4，具体为：测试预置服务器通过读取待测nand的产品信息，在模式数据库中查询对应的预填盘模式。
12、进一步的，nand产品信息包括四个维度：容量类型、低功耗类型、级别和使用场景，并通过上述四个维度，生成第一雷达图；
13、模式数据库中的每个预填盘模式也根据上述四个维度生成对应的第二雷达图；
14、所述步骤4中，在模式数据库中查询对应的预填盘模式，具体为：当某个第二雷达图与第一雷达图重合面积最大，且重合面积超过一定阈值时，该第二雷达图所对应的预填盘模式为查询结果。
15、进一步的，当重合面积不超过一定阈值时，测试预置服务器修改模式数据库中的预填盘模式的参数，重新生成第二雷达图，然后再次查询，直至找到重合面积超过一定阈值的查询结果。
16、进一步的，所述容量类型包括：slc和tlc；
17、所述低功耗类型包括：ufs和emmc；
18、所述级别包括：企业级、消费级和工业级；
19、所述使用场景包括：手机、平板、监控、汽车、物联网、数据中心和存储卡。
20、本专利技术基于上述方法，还提供了一种针对nand产品的预填盘系统，其特征在于：所述预填盘系统包括：模式管理系统、模式生成器和测试预置服务器；
21、所述模式管理系统，用于管理模式数据库；
22、所述模式生成器，用于获取快照，并通过快照生成预填盘模式；
23、所述测试预置服务器，用于通过读取待测nand的产品信息，在模式数据库中查询对应的预填盘模式。
24、本专利技术的有益效果为：
25、1、本专利技术的方法首先通过用户使用一段时间的nand或者trace log或者分析rma获取快照信息，生成预填盘模式来构建模式数据库，然后通过待测产品的多维度信息在模式数据库中查询最匹配的预填盘模式进行预填盘，实现了模拟用户的实际使用场景，确保了测试结果的准确性，提高了nand的系统稳定性和性能。
26、2、模式数据库中丰富的预填盘模式可以提高用户场景的覆盖，同时极大缩短测试时间，因为合适的预填盘模式可以快速触发错误和异常，还可以将模式中一些操作用更高效命令来替换以加快测试比如用flush操作替换sleep操作的行为；并且丰富的模型及测试记录，对ftl优化和满足特定用户特殊需求提供参考依据。
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1.一种针对NAND产品的预填盘方法，其特征在于：所述方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种针对NAND产品的预填盘方法，其特征在于：快照的信息包括：物理饱和度、逻辑饱和度、ECT、RCT、Smart Info、Register dump、Capacity、冷热数据比例、负载比率、功耗和温度。
3.根据权利要求1所述的一种针对NAND产品的预填盘方法，其特征在于：所述步骤1还包括：通过trace log或者对RMA分析获取额外信息。
4.根据权利要求1所述的一种针对NAND产品的预填盘方法，其特征在于：所述步骤4，具体为：测试预置服务器通过读取待测NAND的产品信息，在模式数据库中查询对应的预填盘模式。
5.根据权利要求4所述的一种针对NAND产品的预填盘方法，其特征在于：NAND产品信息包括四个维度：容量类型、低功耗类型、级别和使用场景，并通过上述四个维度，生成第一雷达图；
6.根据权利要求5所述的一种针对NAND产品的预填盘方法，其特征在于：当重合面积不超过一定阈值时，测试预置服务器修改模式数据库中的预填盘
7.根据权利要求5所述的一种针对NAND产品的预填盘方法，其特征在于：所述容量类型包括：SLC和TLC；
8.根据权利要求1-7任意一项所述方法的一种针对NAND产品的预填盘系统，其特征在于：所述预填盘系统包括：模式管理系统、模式生成器和测试预置服务器；
...【技术特征摘要】
1.一种针对nand产品的预填盘方法，其特征在于：所述方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种针对nand产品的预填盘方法，其特征在于：快照的信息包括：物理饱和度、逻辑饱和度、ect、rct、smart info、register dump、capacity、冷热数据比例、负载比率、功耗和温度。
3.根据权利要求1所述的一种针对nand产品的预填盘方法，其特征在于：所述步骤1还包括：通过trace log或者对rma分析获取额外信息。
4.根据权利要求1所述的一种针对nand产品的预填盘方法，其特征在于：所述步骤4，具体为：测试预置服务器通过读取待测nand的产品信息，在模式数据库中查询对应的预填盘模式。
5.根据权...
【专利技术属性】
技术研发人员：张士勇，王开屏，
申请(专利权)人：江苏华存电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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